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JIS C 5031:1975 廃止 規格情報
JIS C 5031:1975 廃止 移動先 規格概要
この規格 C5031は、電子部品が要求されている密閉構造を満足しているかどうかを判定するための試験方法A,B,Cについて規定。これらの試験は,密閉した箇所が動かない部分に限り適用。
- 規格 番号
- JIS C5031
- 規格 名称
- 電子部品の気密性試験方法
- 規格 名称 英語訳
- Sealing testing methods for electronic components
- 制定 年月日
- 1968-02-01
- 廃止 年月日
- 1989-05-01
- 引用 JIS 規格
- ‐
- 対応国際 規格 ISO
- IEC 68-2-17(NEQ)
- 国際規格 分類 ICS
- 改訂 履歴
- 1968-02-01 制定日, 1971-02-01 確認日, 1973-12-01 確認日, 1975-05-01 改正日, 1978-05-01 確認日, 1983-10-01 確認 1989-05-01 廃止日
- 公示の種類
- 廃止
- 廃止の理由
- -
- 移行先(移動先)
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
JIS C 5030:1978の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5020:1978
- 電子部品の環境試験方法通則
JIS C 5031:1975の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 68-2-17(NEQ)