JIS H 0608:1978 廃止 規格情報
この規格の廃止理由、ゼロベース見直しによる廃止。
JIS H 0608:1978 廃止 移動先 規格概要
この規格 H0608は、半導体用シリコンロッド中のボロンを定量する方法について規定。ボロン濃度は,フローテングゾーン操作を行った試料の抵抗率から算定。
- 規格 番号
- JIS H0608
- 規格 名称
- シリコン中のボロン定量方法
- 規格 名称 英語訳
- Estimation of boron content in silicon
- 制定 年月日
- 1965-08-01
- 廃止 年月日
- 1999-06-20
- 引用 JIS 規格
- JISH0602
- 対応国際 規格 ISO
- -
- 国際規格 分類 ICS
- 29.045, 77.120.99
- 改訂 履歴
- 1965-08-01 制定日, 1968-06-01 確認日, 1971-05-01 確認日, 1974-04-01 確認日, 1977-04-01 確認日, 1978-03-01 改正日, 1983-10-01 確認日, 1988-12-01 確認日, 1993-12-01 確認 1999-06-20 廃止日
- 公示の種類
- 廃止
- 廃止の理由
- ゼロベース見直しによる廃止。
- 移行先(移動先)
- JISハンドブック
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JIS H 0608:1978の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISH0602:1995
- シリコン単結晶及びシリコンウェーハの4探針法による抵抗率測定方法
JIS H 0608:1978の国際規格 ICS 分類一覧
- 77 : 金属工学 > 77.120 : 非鉄金属 > 77.120.99 : その他の非鉄金属及び合金