半導体装備

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日本産業規格半導体装備を 1ページあたりに 20規格表示中：総数 36

JIS C 6790:2022 ボルト締めランジュバン型超音波振動子の電力計法による負荷試験方法

ボルト締めランジュバン型超音波振動子の実用振幅及び実用負荷の状態におけ [...]

JIS C 7031:1993の規格概要「JISC7031」は電子装 [...]

JIS R 1660-1:2004の規格概要「JISR1660-1」 [...]

JIS C 8153:2015の規格概要「JISC8153」はJIS [...]

JIS R 1660-2:2004の規格概要「JISR1660-2」 [...]

JIS C 8154:2015の規格概要「JISC8154」は一般照 [...]

JIS R 1660-3:2004の規格概要「JISR1660-3」 [...]

JIS C 8155:2019の規格概要「JISC8155」はLED [...]

JIS C 5630-12:2014の規格概要「JISC5630-1 [...]

JIS C 8157:2011の規格概要「JISC8157」は家庭用 [...]

JIS C 5630-13:2014の規格概要「JISC5630-1 [...]

JIS C 8158:2017の規格概要「JISC8158」は家庭用 [...]

JIS C 5630-18:2014の規格概要「JISC5630-1 [...]

JIS C 8160:2017の規格概要「JISC8160」はLED [...]

JIS C 5630-19:2014の規格概要「JISC5630-1 [...]

JIS R 1661:2004の規格概要「JISR1661」はイオン [...]

JIS C 5630-20:2015の規格概要「JISC5630-2 [...]

JIS C 5630-1:2017の規格概要「JISC5630-1」 [...]

JIS C 5630-26:2017の規格概要「JISC5630-2 [...]

JIS C 5944:2005の規格概要「JISC5944」は光源と [...]

JISハンドブックJISHB43非破壊検査2019

用語・記号、資格・認証・適合性評価、放射線透過試験、超音波探傷試験、浸透探傷試験、磁気探傷試験、渦電流探傷試験、漏れ試験、外観試験・目視観察、共通

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