ISO 17862:2022 表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - 単一イオン計数飛行時間型質量分析計における強度スケールの直線性

ISO 17862:2022の概要

ISO17862:2022の規格概要

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Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers

このドキュメントでは、ポリスペクトルの同位体比に基づくテストを使用して、単一イオン計数飛行時間 (TOF) 二次イオン質量分析計の強度スケールの直線性からの発散の許容限界の最大計数率を決定する方法を指定します。

(テトラフルオロエチレン) (PTFE)。

また、マイクロチャネル プレート (MCP) またはシンチレータと光電子増倍管から失われた強度から生じる強度の非線形性を補正する方法と、デッドタイム中に到着する二次イオンによって引き起こされる時間デジタル変換器 (TDC) 検出システムが続きます。

補正により、直線性 95% の強度範囲を最大 50 倍以上増加させることができるため、関連する補正式が有効であることが示されている分光計では、より高い最大計数率を使用できます。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO17862:2022 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 17862:2022
ISO 国際規格名称
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Linearity of intensity scale in single ion counting time-of-flight mass analysers
ISO 規格名称 日本語訳
表面化学分析 - 二次イオン質量分析 - 単一イオン計数飛行時間型質量分析計における強度スケールの直線性
発行日 (Publication date)
2022-09
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2022-09-23
状態 (Status)
公開中,公開済み (Published)
改訂 (Edition)
2
PDF ページ数 (Number of pages)
18
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 201/SC 6:二次イオン質量分析法 (Secondary ion mass spectrometry)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
71.040.40:化学分析 (Chemical analysis)
ISO 対応 JIS 規格
ICS 対応 JIS 規格
ICS > 71 > 71.040 > 71.040.40

ISO 17862:2022 関連規格 履歴一覧

ISO17862:2022 対応 JIS 規格一覧

ISO17862:2022 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 71:化学技術  > 71.040:分析化学  > 71.040.40:化学分析

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