JIS B 7912-4:2016 測量機器の現場試験手順―第４部：光波測距儀

                                                                                 B 7912-4 : 2016

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般・・・・[2]
•  4.1 要求事項・・・・[2]
•  4.2 試験手順1 : 簡易試験手順・・・・[2]
•  4.3 試験手順2 : 標準試験手順・・・・[2]
•  5 簡易試験手順・・・・[3]
•  5.1 測定場所の設定・・・・[3]
•  5.2 測定・・・・[3]
•  5.3 計算・・・・[4]
•  5.4 調査測定・・・・[4]
•  6 標準試験手順・・・・[4]
•  6.1 測定場所の設定・・・・[4]
•  6.2 測定・・・・[5]
•  6.3 計算・・・・[6]
•  6.4 統計的検定・・・・[8]
•  6.5 合成標準不確かさの評価(タイプA及びタイプB)・・・・[9]
•  附属書A(参考)簡易試験手順の例・・・・[11]
•  附属書B(参考)標準試験手順の例・・・・[13]
•  附属書C(参考)不確かさバジェット表の計算例(タイプA及びタイプB)・・・・[16]
•  附属書JA(参考)主な記号の解説・・・・[19]
•  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[20]

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――――― [JIS B 7912-4 pdf 1] ―――――

B 7912-4 : 2016

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
測量機器工業会(JSIMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS B 7912-4:2006は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7912の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7912-1 第1部 : 理論
    JIS B 7912-2 第2部 : レベル
    JIS B 7912-3 第3部 : セオドライト
    JIS B 7912-4 第4部 : 光波測距儀
    JIS B 7912-5 第5部 : トータルステーション
    JIS B 7912-6 第6部 : 回転レーザ
    JIS B 7912-8 第8部 : GNSS(RTK)

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7912-4 : 2016

測量機器の現場試験手順−第4部 : 光波測距儀

Field procedures for testing geodetic and surveying instruments- Part 4: Electro-optical distance meters (EDM measurements to reflectors)

序文

  この規格は,2012年に第2版として発行されたISO 17123-4を基とし,統計的検定についてISO 2854
及びJIS Z 9041-2の表現に合わせるため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。

1 適用範囲

  この規格は,反射プリズムを使用した光波測距儀による作業を実施する前に,当該作業への適応性を確
認するための試験手順について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 17123-4:2012,Optics and optical instruments−Field procedures for testing geodetic and surveying
              instruments−Part 4: Electro-optical distance meters (EDM measurements to reflectors)(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 7912-1:2014 測量機器の現場試験手順−第1部 : 理論
      注記 対応国際規格 : ISO 17123-1:2010,Optics and optical instruments−Field procedures for testing
             geodetic and surveying instruments−Part 1: Theory(MOD)
    JIS Z 8101-1 統計−用語及び記号−第1部 : 一般統計用語及び確率で用いられる用語
      注記 対応国際規格 : ISO 3534-1:2006,Statistics−Vocabulary and symbols−Part 1: General statistical
             terms and terms used in probability(IDT)
    JIS Z 8103 計測用語
    ISO 4463-1,Measurement methods for building−Setting-out and measurement−Part 1: Planning and
        organization, measuring procedures, acceptance criteria
    ISO 7077,Measuring methods for building−General principles and procedures for the verification of
        dimensional compliance

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2
B 7912-4 : 2016
    ISO 7078,Building construction−Procedures for setting out, measurement and surveying−Vocabulary and
        guidance notes
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM:1995)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8101-1及びJIS Z 8103によるほか,次による。
3.1
スケール誤差
  光波測距儀に用いられる変調周波数の偏差によって,距離に比例して生じる誤差。
3.2
ゼロ点補正量
  距離の長短に関係なく存在する一定の誤差を補正する量。

4 一般

4.1 要求事項

  使用者は,使用する測量機器が,実施する作業に適した精密さを満たしているかどうかを試験すること
が重要である。
  光波測距儀及びその附属品は,製造業者の取扱説明書に記載されている方法によって常に調整した状態
で使用しなければならない。また,三脚と反射プリズムとは,製造業者の推奨する製品を用いる。
  この試験は,気象条件,特に温度勾配の影響を受けるため,曇天下で微風のある天候において最もよい
結果が得られる。測量する場所によって,気象条件が変化する可能性があるため,測量時の実際の気象条
件及びそのときの周囲状況を記録しておくのがよい。測定時の条件は,要求された測量が実際に実行され
るときの予想される条件に合わせるのがよい(ISO 7077及びISO 7078による。)。
  この規格は,箇条5及び箇条6に現場における二つの異なった試験手順について規定する。使用者は,
その作業の特定要求条件に最も適している試験手順を選ばなければならない。
    注記 主な記号の解説を,附属書JAに示す。

4.2 試験手順1 : 簡易試験手順

  簡易試験手順は,使用する光波測距儀の試験結果がISO 4463-1に従った許容偏差の範囲にあることを確
認する方法である。
  この手順は,少数の観測で行う。したがって,信頼性の高い標準偏差を得ることはできない。現場条件
の下で,より正確な評価が必要な場合には,箇条6に規定する標準試験手順を採用することが望ましい。
  この試験方法は,基線距離が既知の基線場を利用する。そのような基線場がない場合は,この規格の試
験手順で調査する光波測距儀より精確さの高い光波測距儀を用いて基線距離を決定する必要がある。より
精確さの高い光波測距儀を利用できない場合は,標準試験手順による。

4.3 試験手順2 : 標準試験手順

  標準試験手順は,附属品を含め現場条件の下で使用する光波測距儀の精密さの最も確からしい評価値を
決定するために採用する。
  標準試験手順は,既知ではない基線場を用いて測点の全ての組合せによる距離測定から成り立っている。
l測定距離の標準偏差は,全ての組合せ測定での最小二乗法によって求める。光波測距儀のスケール誤差

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                                                                                              3
                                                                                 B 7912-4 : 2016
は,この手順では検出できない。しかし,スケール誤差は,この試験の標準偏差s,及びゼロ点補正量δ
には何の影響も与えない。スケール誤差を判定するためには,光波測距儀の変調周波数を周波数カウンタ
などで点検しておかなければならない。
  箇条6に規定する試験手順は,使用する光波測距儀の精密さを決定できるように考えられている。この
精密さの試験結果は,1測定距離の標準偏差sでタイプAの標準不確かさuとして次のように表す。
                        s=uISO-EDM
  さらに,この手順は,次へも適用する。
− 一組の測量チームによる附属品などを含めた1台の機器を使用するときの測定の精密さ
− l台の機器の測定の精密さの経時変化
− よく似た現場条件で複数の機器を用いた場合の,各々の機器が達成可能な測定の精密さの比較
  統計的検定は,得られた標準偏差sが,事前に与えられている当該機器の標準偏差σの母集団に属する
か否か,二つの試験サンプルが同じ母集団に属するか否か,及びゼロ点補正量δがゼロ又は事前に与えら
れた値δ0とみなせるか否かの判定に適用する(6.4参照)。

5 簡易試験手順

5.1 測定場所の設定

  測定場所(基線場)は,固定された機械点(0)と反射プリズムが固定された4測点(14)とからなる
(図1)。4本の基線の距離は,試験する光波測距儀の通常の使用範囲にする(例えば,20 m200 m)。反
射プリズムが固定的に設置できない場合は,地上に測点くいを設置しておくのがよい。
  4本の基線距離は,より精確さの高い光波測距儀で少なくとも3回測定し,気象補正を行って決定しな
ければならない。気象補正は,気温及び気圧を機械側及びプリズム側で個々に測定し,その平均値を使用
する(補正量は,温度1 ℃当たり1 ppm,気圧3 hPa当たり1 ppm)。
                                   図1−測点と機械点との配置
                 jxを真値とみなし,基線距離とする。
  気象補正後の値
                         d1 x1
                         d2  x2
                         d3  x3
                         d4  x4

5.2 測定

  機器を設置するときは,致心に十分注意を払わなければならない。
  各基線に対する測定は,3回行わなければならない。そのとき気象補正のために気温及び気圧を測定し

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