JIS C 5402-15-4:2014 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１５－４部：コネクタ試験（機械的試験）―試験１５ｄ：コンタクトの挿入，解放及び引抜力

                                                           C 5402-15-4 : 2014 (IEC 60512-15-4 : 2008)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 準備・・・・[2]
•  3.1 試料の準備・・・・[2]
•  3.2 潤滑剤又は封止剤・・・・[2]
•  3.3 装置・・・・[2]
•  3.4 取付け・・・・[2]
•  4 試験方法・・・・[2]
•  4.1 手順・・・・[2]
•  4.2 測定・・・・[2]
•  5 個別規格に規定する事項・・・・[3]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5402-15-4 pdf 1] ―――――

C 5402-15-4 : 2014 (IEC 60512-15-4 : 2008)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402 の規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(第1-100部 : 一般−試験方法規格一覧)による。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-15-4 : 2014
                                                                      (IEC 60512-15-4 : 2008)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第15-4部 : コネクタ試験(機械的試験)−試験15d : コンタクトの挿入,解放及び引抜力

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 15-4: Connector tests(mechanical tests)-Test 15d: Contact insertion, release and extraction force

序文

  この規格は,2008年に第1版として発行されたIEC 60512-15-4を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合に
は,類似の部品にも用いてよい。
  この規格は,コネクタの正常な位置にコンタクトを挿入するために必要な力及び正常な位置からコンタ
クトを引き抜くために必要な力を測定するための試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60512-15-4:2008,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 15-4:
              Connector tests (mechanical)−Test 15d: Contact insertion, release and extraction force(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。この引用
規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
             Part 1-1: General examination−Test 1a :Visual examination(IDT)

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C 5402-15-4 : 2014 (IEC 60512-15-4 : 2008)

3 準備

3.1 試料の準備

  試料は,個別規格に規定するとおり結線したターミネーションをもつコネクタとする。コンタクトシス
テムを構成しないアクセサリは,取り外してもよい。個別規格に規定する前処理を適用する。
  コンタクト保持機構は,通常の挿入及び引抜きの操作でその機構を必要とする場合を除き,試験に影響
しない位置にする。
  試験で使用するコンタクトを除いて,全てのコンタクトを取り付ける。

3.2 潤滑剤又は封止剤

  個別規格に規定がある場合には,個別規格に規定する潤滑剤又は封止剤を規定する方法で適用する。

3.3 装置

  軸方向の力を加えるため,力(強度,速度,時間)を制御できる装置(例えば,汎用材料試験機)を用
いる。
  個別規格に規定がある場合には,挿入及び引抜き工具を準備する。
  特別な前処理の要求がある場合には,供試条件を記述している関連文書に記載する全ての必要な装置を
含む。

3.4 取付け

  試料の取付けは,適用する場合,個別規格による。

4 試験方法

4.1 手順

  個別規格に規定がない場合には,3個のコネクタを試験する。
4.1.1  試験用コンタクトの選定
  試験するコンタクトは,全コンタクトの20 %とする。ただし,6 個以上のコンタクトを無作為に選定す
る。コンタクトは,外周周辺から及び中心周辺からそれぞれ1個以上を選定する。6個以下のコンタクト
をもつコネクタについては,全コンタクトを使用する。
4.1.2  挿入
  コンタクトは,挿入工具,潤滑剤及び個別規格に規定するその他の補助器具を用いてコンタクトキャビ
ティに挿入する。個別規格に取付け手順の説明又は引用がある場合には,個別規格の規定による。
  コンタクトが意図する位置にあり,その位置でラッチ又はロックすることを確認する。
  上記の手順は,選定したコンタクトについて順番に適用する。
4.1.3  引抜き
  挿入と同様の方法で,選定したコンタクトを取り外す。固定形コンタクトの場合には,この試験を適用
しない。
4.1.4  繰返し挿入及び引抜き
  この試験は,挿入(4.1.2参照)及び引抜き(4.1.3参照)で1回とする。個別規格に規定がある場合には,
規定する回数繰り返す。

4.2 測定

4.2.1  初期測定
  JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。

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                                                           C 5402-15-4 : 2014 (IEC 60512-15-4 : 2008)
4.2.2  試験中の測定
  コンタクトの挿入及び引抜き(解放)に必要な力を測定し,記録する。挿入力及び引抜力は,個別規格
に規定する値を超えてはならない。
4.2.3  最終測定
  JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。

5 個別規格に規定する事項

  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試料数(3個以外の場合)
b) 前処理(要求がある場合)
c) 試料の結線
d) 試料の取付け(必要とする場合)
e) 使用する潤滑剤又は封止剤の仕様及び適用方法
f)  挿入力及び引抜力の最大値
g) 挿入及び引抜き回数(1回以外の場合)
h) 固定形コンタクト(圧入形,一体成型形など)であるか否か
i)  この規格で規定する試験方法との相違