JIS C 5402-16-6:2014 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第１６－６部：コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験１６ｆ：ターミネーション強度

                                                           C 5402-16-6 : 2014 (IEC 60512-16-6 : 2008)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 準備・・・・[2]
•  3.1 試料・・・・[2]
•  3.2 取付け・・・・[2]
•  4 試験方法・・・・[2]
•  4.1 手順・・・・[2]
•  4.2 測定及び要求事項・・・・[2]
•  5 個別規格に規定する事項・・・・[2]

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――――― [JIS C 5402-16-6 pdf 1] ―――――

C 5402-16-6 : 2014 (IEC 60512-16-6 : 2008)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群の部編成は,JIS C 5402-1-100(一般−試験方法規格一覧)による。

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――――― [JIS C 5402-16-6 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-16-6 : 2014
                                                                      (IEC 60512-16-6 : 2008)

電子機器用コネクタ−試験及び測定−第16-6部 : コンタクト及びターミネーションの機械的試験−試験16f : ターミネーション強度

Connectors for electronic equipment-Tests and measurements-Part 16-6: Mechanical tests on contacts and terminations-Test 16f: Robustness of terminations

序文

  この規格は,2008年に第1版として発行されたIEC 60512-16-6を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)に適用する。個別規格に規定がある場合に
は,類似の部品にも用いてよい。
  この規格は,通常の組立作業中に加わる可能性がある機械的ストレスに,ターミネーションが耐える能
力を評価するための試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60512-16-6:2008,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−Part 16-6:
              Mechanical tests on contacts and terminations−Test 16f: Robustness of terminations(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5402-1-1 電子機器用コネクタ−試験及び測定−第1-1部 : 一般試験−試験1a : 外観
      注記 対応国際規格 : IEC 60512-1-1,Connectors for electronic equipment−Tests and measurements−
             Part 1-1: General examination−Test 1a: Visual examination(IDT)
    JIS C 60068-2-21 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)

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C 5402-16-6 : 2014 (IEC 60512-16-6 : 2008)

3 準備

3.1 試料

  試料は,ターミネーションをもつコネクタとする。個別規格に規定がある場合は結線してもよい。
  個別規格に規定する前処理を適用する。

3.2 取付け

  試料の取付けは,適用する場合,個別規格による。

4 試験方法

4.1 手順

  試験は,個別規格に規定するJIS C 60068-2-21の試験Uの中の一つ又は複数の試験に従って行う。

4.2 測定及び要求事項

4.2.1  試験前
  JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。試験の妥当性に影響する不適合があってはならない。
4.2.2  試験後
  JIS C 5402-1-1によって外観検査を行う。4.2.1で発見した不適合以外,コネクタの通常機能を損なう不
適合があってはならない。

5 個別規格に規定する事項

  個別規格には,次の事項を規定する。
a) 前処理(要求がある場合)
b) 試料の結線(要求がある場合)
c) 試料の取付け(要求がある場合)
d) 試料数
e) 適用するJIS C 60068-2-21の試験
f)  この規格に規定する試験方法との相違