JIS C 5932-2:2019 光アイソレータ―第２部：試験方法

                                                                                 C 5932-2 : 2019

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 試験の状態・・・・[2]
•  4.1 標準状態・・・・[2]
•  4.2 基準状態・・・・[2]
•  4.3 判定状態・・・・[2]
•  4.4 試験場所の状態・・・・[2]
•  5 外観及び構造・・・・[2]
•  6 共通装置・・・・[2]
•  6.1 一般事項・・・・[2]
•  6.2 光源(S)・・・・[2]
•  6.3 光パワーメータ(D)・・・・[3]
•  6.4 偏光回転器・・・・[3]
•  6.5 光ブランチングデバイス・・・・[3]
•  7 光学特性試験・・・・[3]
•  7.1 挿入損失・・・・[3]
•  7.2 アイソレーション・・・・[6]
•  7.3 反射減衰量・・・・[8]
•  7.4 偏光依存性損失・・・・[8]
•  7.5 偏波モード分散・・・・[8]
•  7.6 最大入力光パワー・・・・[9]
•  8 耐環境性及び耐久性試験・・・・[10]
•  9 試験報告書・・・・[10]

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――――― [JIS C 5932-2 pdf 1] ―――――

C 5932-2 : 2019

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産業技術振興協会(OITDA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 5933:2012は廃止され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5932の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 5932 光アイソレータ通則
    JIS C 5932-2 第2部 : 試験方法
    JIS C 5932-3 第3部 : シングルモード光ファイバピッグテール形光アイソレータ

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――――― [JIS C 5932-2 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 5932-2 : 2019

光アイソレータ−第2部 : 試験方法

Optical isolators-Part 2: Test methods

序文

  この規格は,2012年に改正されたJIS C 5933を基に,光通信技術の進歩に伴う必要な光学特性の試験に
ついて規定を追加し,JIS C 5932-2として制定した。
  なお,対応国際規格は現時点では制定されていない。

1 適用範囲

  この規格は,光ファイバを用いた光伝送に用いる光アイソレータ(以下,光アイソレータという。)の試
験方法について規定する。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 5860 空間ビーム光用受動部品通則
    JIS C 5877-1 偏光子−第1部 : 通則
    JIS C 5900 光伝送用受動部品通則
    JIS C 5932 光アイソレータ通則
    JIS C 60068-1 環境試験方法−電気・電子−第1部 : 通則及び指針
    JIS C 61300-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第1部 : 通則
    JIS C 61300-2-14:2011 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第2-14
        部 : 光パワー損傷のしきい値試験
    JIS C 61300-3-1 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-1部 : 外観
        検査及び機械的検査
    JIS C 61300-3-2 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-2部 : シン
        グルモード光デバイスの光損失の偏光依存性
    JIS C 61300-3-6 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-6部 : 反射
        減衰量測定
    JIS C 61300-3-32 光ファイバ接続デバイス及び光受動部品−基本試験及び測定手順−第3-32部 : 光
        受動部品の偏波モード分散測定
    JIS Z 8120 光学用語

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C 5932-2 : 2019

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 5860の箇条3(用語及び定義),JIS C 5877-1の箇条3(用
語及び定義),JIS C 5900の箇条3(用語及び定義),JIS C 5932の箇条3(用語及び定義)及びJIS Z 8120
の4.(用語及び定義)によるほか,次による。
3.1
偏光回転器(polarization rotator)
  入射直線偏光に対し,出射直線偏光の偏光方向を任意の方向に回転できる光学素子。

4 試験の状態

4.1 標準状態

  試験及び測定は,特に規定がない場合,JIS C 61300-1の箇条4(標準的環境条件)に規定する試験及び
測定の標準的環境条件で行う。ただし,この標準状態での測定値による判定に疑義を生じた場合,又は特
に要求がある場合は,4.3による。また,試験の状態(温度及び気圧)が標準状態と差があるとき,試験結
果又は測定値の換算方法を個別に規定した場合の基準状態は,4.2による。さらに,標準状態で測定するこ
とが困難で,判定に疑義を生じない場合は,標準状態以外の状態で試験及び測定を行ってもよい。

4.2 基準状態

  基準状態は,JIS C 60068-1の4.1(標準基準大気条件)による。ただし,温度だけをもって基準状態と
してもよい。

4.3 判定状態

  判定状態は,JIS C 60068-1の4.2(判定のための測定及び試験に用いる標準大気条件)に規定する条件
のうち,温度20 ℃±2 ℃,相対湿度60 %70 %,及び気圧86 kPa106 kPaとする。

4.4 試験場所の状態

  試験場所は,ごみ,ほこりなどがないよう,十分清潔に保つ。

5 外観及び構造

  外観及び構造の試験方法は,JIS C 61300-3-1による。

6 共通装置

6.1 一般事項

  共通装置は,別途規定がない場合,次及び6.26.4による。
  各試験機器及び装置間の接続点は,マッチングオイルなどによって無反射の状態とする。スプライス(融
着接続),斜め研磨光コネクタなどを用いる方法で,無反射になるようにしてもよい。

6.2 光源(S)

 光源は,別途規定がない場合,出力が安定している次のレーザを用いる。
a) 出力光の偏光消光比が十分であるもの。光源の出力光の偏光消光比は,別途規定がない場合,20 dB
    以上とする。偏光消光比が不十分である場合は,偏光子を用いて十分な偏光消光比を確保する。
b) スペクトル半値全幅は,測定に影響を与えないような十分小さいもの。
c) 出力光パワーは,供試光アイソレータの最大入力光パワーを超えないもの。
d) 供試光アイソレータに空間ビーム光を入射させる場合,光アイソレータの入射端面の有効径に対して
    十分小さいビーム径の平行ビームを出射するもの。
  光源は,測定の間,中心波長,スペクトル半値全幅,出力光パワー,ビーム径(空間ビーム光を用いる

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                                                                                              3
                                                                                 C 5932-2 : 2019
場合)及びビーム広がり角(空間ビーム光を用いる場合)が安定しているものを用いる。

6.3 光パワーメータ(D)

 光パワーメータは,別途規定がない場合,測定範囲での直線性誤差が±0.05
dB以内のものを用い,それ以外の場合は,精度を試験報告書に記載する。光パワーメータは,測定に必要
な感度及びダイナミックレンジをもつものを用いる。
  受光素子は,受光面全体にわたり偏光依存性がなく,感度分布が一様で,有効受光径が受光面での入射
光分布に対して十分大きいものを用いる。
  空間ビーム光を光パワーメータに入射する場合で,受光素子の受光面全体にわたる感度分布の一様性に
疑義を生じるとき,受光素子への入射位置が一定となるような機構を設けなければならない。

6.4 偏光回転器

 偏光回転器は,出射光の偏光方向を連続的に180°以上回転できるものを用いる。試験
では,光源の出射光を偏光回転器に通して供試光アイソレータに入射する。また,偏光回転器の出射光の
偏光消光比は,別途規定がない場合,20 dB以上とする。偏光消光比が不十分である場合は,偏光子を用
いて十分な偏光消光比を確保する。

6.5 光ブランチングデバイス

 試験では,光源の出力光を光ブランチングデバイスで分岐し,入力光パ
ワーをモニタする。使用する光ブランチングデバイスの分岐比は,試験に用いる光パワー及び波長に対し
て安定しており,偏光依存性をもたないようにする。光ブランチングデバイスは,その性能が試験中は安
定していなければならない。供試光アイソレータに高パワーを入力し,低パワーをモニタに用いるため,
光ブランチングデバイスの分岐比は1 : 99が望ましい。

7 光学特性試験

7.1 挿入損失

7.1.1  装置
  この試験の方法1に用いる装置は,JIS C 61300-3-2による。また,方法2及び方法3では,次の装置を
用いる。
a) 光源
b) 光パワーメータ
c) 偏光回転器
7.1.2  準備
  測定結果に疑義が生じないように,必要がある場合は,供試光アイソレータを測定温度に2時間以上放
置する。また,測定の前後を通じて供試光アイソレータに過度の通風,日光,その他の熱源からの直接の
熱放射など,測定に影響を及ぼすような要因が入らないようにする。
  光の入出射部は,ごみ,ほこりなどがないよう,十分清潔に保つ。
7.1.3  試験
  光アイソレータの挿入損失は,次に示す方法1,方法2又は方法3のいずれかによって測定する。方法1
は,入出力端子の接続形態が光ファイバピッグテール,プラグ及び/又はレセプタクルの光アイソレータ
の挿入損失を測定する方法である。方法2及び方法3は,空間ビーム光で入出射する光アイソレータの挿
入損失を測定する方法である。
    注記 挿入損失の測定系の機構的な構成において,方法1及び方法2では光アイソレータに入射する
          光の偏光状態を変化させる機構を含むのに対し,方法3では光軸を中心に光アイソレータを回
          転させる機構を含む。
  空間ビーム光を供試光アイソレータに入射する場合,次のように調整する。

――――― [JIS C 5932-2 pdf 5] ―――――

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