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JISC61000-4-20:2024の概要
JIS C 61000-4-20:2024の規格概要
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この規格は,様々な種類の横方向電磁界導波路を用いた,電気・電子装置に対するエミッション及びイミュニティ試験方法について規定する。これらの種類には,開放構造(例えば,ストリップライン及び電磁パルスシミュレータ)及び密閉構造(例えば,TEMセル)を含む。
JISC61000-4-20:2024 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C 61000-4-20:2024
- 規格名称
- 電磁両立性－第４－２０部：試験及び測定技術－ＴＥＭ（横方向電磁界）導波路のエミッション及びイミュニティ試験
- 規格名称英語訳
- Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-20:Testing and measurement techniques-Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
- 規格の状態
- 有効
- 公示の種類
- 改正
- 公示の種類に関する説明（改正）
- 主務大臣が当該JISを年月の経過に伴って改めることが必要と認めたとき、改正されます。
- 規格番号の西暦年（コロン(：)の後ろの年）は、改正された年になります。
- JISの制定、確認又は改正の日から5年を経過する日までに、それがなお適正であるか見直しが行われ、主務大臣が確認、改正又は廃止を行います。
- 制定年月日
- 2006年04月20日
- 最新改正日：確認日
- 2024年09月20日（改正）
- 主務大臣
- 経済産業
- JISは、産業標準化法に基づき、主務大臣が必要と認め制定する国家規格です。
- 改訂:履歴
- 2006-04-20 制定日, 2011-10-20 確認日, 2014-02-20 改正日, 2018-10-22 確認日, 2023-06-20 確認日, 2024-09-20 改正日
- JIS 閲覧情報
- C61000-4-20, JIS C 61000-4-20
- 引用JIS規格
- C60050-161
- 対応国際規格
- IEC 61000-4-20:2022(IDT)
- 同等性に関する説明 (IDT)
- IDT: identical（一致）
- 以下の場合、地域又は国家規格は国際規格と一致している。
- a) 地域又は国家規格が、技術的内容、構成及び文言において一致している。又は、
- b) 地域又は国家規格が、ISO/IEC GUIDE 21-1:2005の4.2節に規定した最小限の編集上の変更はあるが、技術的内容において一致している。「逆も同様の原理」があてはまる。
- 引用国際規格
- -
- 国際規格分類
ICS
- 33.100.10,33.100.20
- 正誤票・訂正票
- -
- JISハンドブック
- -
- ページ
- JIS C 61000-4-20:2024 PDF [114ページ]
JISC61000-4-20:2024 改訂 履歴 一覧
JISC61000-4-20:2024 関連規格と引用規格一覧
- JIS C 60050-161:1997
- ＥＭＣに関するＩＥＶ用語
JISC61000-4-20:2024 対応 国際規格 一覧
- IEC 61000-4-20:2022