JIS C 62024-1:2011 高周波誘導部品―電気的特性及び測定方法―第１部：ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ

                                                               C 62024-1 : 2011 (IEC 62024-1 : 2008)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 インダクタンス,Q及びインピーダンス・・・・[2]
•  3.1 インダクタンス・・・・[2]
•  3.2 Q・・・・[5]
•  3.3 インピーダンス・・・・[6]
•  4 共振周波数・・・・[6]
•  4.1 自己共振周波数・・・・[6]
•  4.2 最小出力法・・・・[6]
•  4.3 反射法・・・・[8]
•  4.4 アナライザによる測定・・・・[9]
•  5 直流抵抗・・・・[10]
•  5.1 測定回路(ブリッジ法)・・・・[10]
•  5.2 測定方法及び計算式・・・・[10]
•  5.3 測定上の注意事項・・・・[11]
•  5.4 測定温度・・・・[11]
•  附属書A(規定)表面実装インダクタの実装方法・・・・[12]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 62024-1 pdf 1] ―――――

C 62024-1 : 2011 (IEC 62024-1 : 2008)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報
技術産業協会(JEITA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改
正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)であ
る。
  これによって,JIS C 62024-1:2006は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 62024“高周波誘導部品−電気的特性及び測定方法”の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 62024-1 第1部 : ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ
    JIS C 62024-2 第2部 : DC/DCコンバータ用インダクタの定格電流の決め方(予定)

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 62024-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         C 62024-1 : 2011
                                                                          (IEC 62024-1 : 2008)

高周波誘導部品−電気的特性及び測定方法−第1部 : ナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ

High frequency inductive components-Electrical characteristics and measuring methods-Part 1: Nanohenry range chip inductor

序文

  この規格は,2008年に第2版として発行されたIEC 62024-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,通常,高周波帯域(100 kHz以上)で使用するナノヘンリー範囲の表面実装インダクタ(以
下,インダクタという。)の電気的特性及び測定方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 62024-1:2008,High frequency inductive components−Electrical characteristics and measuring
              methods−Part 1: Nanohenry range chip inductor(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 6484:2005 プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂
      注記 対応国際規格 : IEC 61249-2-7:2002,Materials for printed boards and other interconnecting
             structures−Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated
             sheet of defined flammability (vertical burning test), copper-clad(MOD)
    JIS K 8839:2007 2-プロパノール(試薬)
      注記 対応国際規格 : ISO 6353-3:1987,Reagents for chemical analysis−Part 3: Specifications−Second
             series(MOD)
    JIS Z 3282:2006 はんだ−化学成分及び形状
      注記 対応国際規格 : ISO/FDIS 9453:2005,Soft solder alloys−Chemical compositions and forms(MOD)

――――― [JIS C 62024-1 pdf 3] ―――――

2
C 62024-1 : 2011 (IEC 62024-1 : 2008)

3 インダクタンス,Q及びインピーダンス

3.1 インダクタンス

  供試インダクタのインダクタンスは,ベクトル電圧・電流計法で測定する。
3.1.1  測定回路
  ベクトル電圧・電流計法の測定回路を,図1に示す。
             Rg       : 信号発生器の出力抵抗(50 Ω)
             R        : 抵抗器
             Lx       : 供試インダクタ
             Cd       : 供試インダクタの分布静電容量
             Ls       : 供試インダクタの直列インダクタンス
             Rs       : 供試インダクタの直列抵抗
                      : 位相基準信号
             Ev1,Ev2  : ベクトル電圧計
             G        : 信号発生器
                             図1−ベクトル電圧・電流計法の測定回路
3.1.2  供試インダクタの取付け
  供試インダクタは,個別規格に規定する試験用ジグに取り付ける。個別規格に試験用ジグの規定がない
場合は,次の試験用ジグA又はBのいずれかを用いる。用いた試験用ジグを記録する。
3.1.2.1  インダクタンス試験用ジグA
  インダクタンス試験用ジグAの形状及び寸法を,図2及び表1に示す。

――――― [JIS C 62024-1 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                               C 62024-1 : 2011 (IEC 62024-1 : 2008)
                                図2−インダクタンス試験用ジグA
                                       表1−寸法l及びd
                                                                 単位 mm
                       供試インダクタの寸法記号      l             d
                                1608                1.6           0.95
                                1005                1.0           0.60
                                0603                0.6           0.36
                                0402                0.4           0.26
                      注記 供試インダクタの寸法記号は,インダクタの長さ及び幅(又
                           は高さ)のそれぞれの外形寸法を示す2桁の有効数字で構
                           成する4桁の数字で表している(JIS C 62025-1参照)。
  試験用ジグの電極は,適切な方法での加圧力によって,供試インダクタそれぞれの電極に対して接触で
きるようにする。電極の加圧力は,供試インダクタの特性に影響を及ぼさずに十分に安定した測定ができ
る値から選定し,その値を個別規格に規定する。
  測定回路と試験用ジグとの間の構造は,できるだけ50 Ωに近い特性インピーダンスをもつものを用いる。
3.1.2.2  インダクタンス試験用ジグB
  インダクタンス試験用ジグBを,図3に示す。
  なお,d寸法に関しては,個別規格に規定する。
                                図3−インダクタンス試験用ジグB

――――― [JIS C 62024-1 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6