JIS HB 23-2 電子 III-2 2020 jisハンドブック pdf 一覧表

接続部品,プリント配線板,実装技術,水晶振動子,半導体

価格 14,740円(税込)本体価格:13,400円

発売年月日:2020-07-31

JIS HB 23-2 電子 III-2 2020

Amazon詳細ページへ

※最新の情報は詳細ページでご確認ください。

― 7 ―

電子III-2:目次

接続部品

JIS C5401-1:2015
電子機器用コネクタ―製品要求事項―第1部:品目別通則…IEC610761:2006(IDT)…27
JIS C5401-2:2005
電子機器用コネクタ―第2部:品種別通則―丸形コネクタ―品質評価付…IEC610762:1998(IDT)…38
JIS C5401-2-001:2005
電子機器用コネクタ―第2001部:丸形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 …IEC610762001:2001(IDT)…55
JIS C5401-3:2005
電子機器用コネクタ―第3部:品種別通則―角形コネクタ―品質評価付…IEC610763:1999(IDT)…107
JIS C5401-3-001:2005
電子機器用コネクタ―第3001部:角形コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 …IEC610763001:1999(IDT)…120
JIS C5401-4:2005
電子機器用コネクタ―第4部:品種別通則―プリント配線板用コネクタ―品質評価付…IEC610764:1995(IDT)…177
JIS C5401-4-001:2005
電子機器用コネクタ―第4001部:プリント配線板用コネクタ―品質評価付―ブランク個別規格 …IEC610764001:1996(IDT)…191
JIS C5402-1:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1部:一般 …IEC605121:2001(IDT)…250
JIS C5402-1-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第11部:一般試験―試験1a:外観…IEC6051211:2002(IDT)…252
JIS C5402-1-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第12部:一般試験―試験1b:寸法及び質量…IEC6051212:2002(IDT)…253
JIS C5402-1-3:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第13部:一般検査―試験1c:電気的接触長…IEC6051213:1997(IDT)…254
JIS C5402-1-4:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第14部:一般検査―試験1d:コンタクトの保護効果(スクーププルーフ)…IEC6051214:1997(IDT)…256
JIS C5402-1-100:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1100部:一般―試験方法規格一覧…IEC605121100:2012(MOD)…258
JIS C5402-2-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第21部:導通及び接触抵抗試験―試験2a:接触抵抗―ミリボルトレベル法…IEC6051221:2002(IDT)…265
JIS C5402-2-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第22部:導通及び接触抵抗試験―試験2b:接触抵抗―規定電流法…IEC6051222:2003(IDT)…267

― 電子III- 2 ―

― 8 ―

JIS C5402-2-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第23部:導通及び接触抵抗試験―試験2c:接触抵抗の変動 …IEC6051223:2002(IDT)…269
JIS C5402-2-5:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第25部:導通及び接触抵抗試験―試験2e:コンタクトディスターバンス …IEC6051225:2003(IDT)…270
JIS C5402-2-6:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第26部:導通及び接触抵抗試験―試験2f:ハウジング(シェル)の導通性 …IEC6051226:2002(IDT)…272
JIS C5402-3-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第31部:絶縁試験―試験3a:絶縁抵抗 …IEC6051231:2002(IDT)…274
JIS C5402-4-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第41部:電圧ストレス試験―試験4a:耐電圧 …IEC6051241:2003(IDT)…275
JIS C5402-4-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第42部:電圧ストレス試験―試験4b:部分放電 …IEC6051242:2002(IDT)…277
JIS C5402-4-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第43部:電圧ストレス試験―試験4c:耐電圧(絶縁被覆付クリンプバレル) …IEC6051243:2002(IDT)…278
JIS C5402-5-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第51部:電流容量試験―試験5a:温度上昇 …IEC6051251:2002(IDT) …279
JIS C5402-5-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第52部:電流容量試験―試験5b:電流・温度の軽減 …IEC6051252:2002(IDT)…281
JIS C5402-6-1:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第61部:動的ストレス試験―試験6a:加速度(定常) …IEC6051261:2002(IDT)…284
JIS C5402-6-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第62部:動的ストレス試験―試験6b:バンプ …IEC6051262:2002(IDT)…286
JIS C5402-6-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第63部:動的ストレス試験―試験6c:衝撃 …IEC6051263:2002(IDT)…288
JIS C5402-6-4:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第64部:動的ストレス試験―試験6d:正弦波振動 …IEC6051264:2002(IDT)…290
JIS C5402-7-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第71部:衝撃試験(可動形コネクタ)―試験7a:自由落下(繰返し) …IEC6051271:2010(IDT)…292
JIS C5402-7-2:2019
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第72部:衝撃試験(可動形コネクタ)―試験7b:機械的衝撃強さ …IEC6051272:2011(IDT)…295
JIS C5402-8-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第81部:静的な力試験(固定形コネクタ)―試験8a:静的な力,横方向 …IEC6051281:2010(IDT)…299

― 電子III- 2 ―

― 9 ―

JIS C5402-8-2:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第82部:静的な力試験(固定形コネクタ)―試験8b:静的な力,軸方向 …IEC6051282:2011(IDT)…301
JIS C5402-8-3:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第83部:静的な力試験(固定形コネクタ)―試験8c:操作レバーの強度 …IEC6051283:2011(IDT)…303
JIS C5402-9-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第91部:耐久試験―試験9a:機械的動作…IEC6051291:2010(IDT)…306
JIS C5402-9-2:2019
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第92部:耐久試験―試験9b:電気的負荷及び温度 …IEC6051292:2011(IDT)…309
JIS C5402-10-4:2006
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第104部:インパクト試験(可動形部品),静的負荷試験(固定形部品),耐久試験及び過負荷試験―試験10d:電気的過負荷(コネクタ) …IEC60512104:2003(IDT)…312
JIS C5402-11-1:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第111部:耐候性試験―試験11a:一連耐候性 …IEC60512111:1995(IDT)…315
JIS C5402-11-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第112部:耐候性試験―試験11b:低温・減圧・湿度複合シーケンス…IEC60512112:2002(IDT)…317
JIS C5402-11-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第113部:耐候性試験―試験11c:高温高湿(定常) …IEC60512113:2002(IDT)…319
JIS C5402-11-4:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第114部:耐候性試験―試験11d:温度急変 …IEC60512114:2002(IDT)…321
JIS C5402-11-5:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第115部:耐候性試験―試験11e:かびの成長 …IEC60512115:2002(IDT)…323
JIS C5402-11-6:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第116部:耐候性試験―試験11f:腐食,塩水噴霧 …IEC60512116:2002(IDT)…325
JIS C5402-11-7:2006
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第117部:耐候性試験―試験11g:混合ガス流腐食 …IEC60512117:2003(IDT)…327
JIS C5402-11-8:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第118部:耐候性試験―試験11h:砂じん …IEC60512118:1995(IDT)…329
JIS C5402-11-9:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第119部:耐候性試験―試験11i:高温 …IEC60512119:2002(IDT)…331
JIS C5402-11-10:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1110部:耐候性試験―試験11j:低温 …IEC605121110:2002(IDT)…333
JIS C5402-11-11:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1111部:耐候性試験―試験11k:減圧 …IEC605121111:2002(IDT)…335
JIS C5402-11-12:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1112部:耐候性試験―試験11m:温湿度サイクル …IEC605121112:2002(IDT)…337

― 電子III- 2 ―

― 10 ―

JIS C5402-11-13:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1113部:耐候性試験―試験11n:ガスタイト・無はんだラッピング接続 …IEC605121113:2002(IDT)…339
JIS C5402-11-14:2006
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1114部:耐候性試験―試験11p:単一ガス流腐食 …IEC605121114:2003(IDT)…341
JIS C5402-12-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第121部:はんだ付け試験―試験12a:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだ槽法 …IEC60512121:2006(MOD)…344
JIS C5402-12-2:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第122部:はんだ付け試験―試験12b:はんだ付け性,ぬれ(ウェッティング),はんだこて法 …IEC60512122:2006(MOD)…349
JIS C5402-12-4:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第124部:はんだ付け試験―試験12d:はんだ耐熱性,はんだ槽法…IEC60512124:2006(MOD)…354
JIS C5402-12-5:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第125部:はんだ付け試験―試験12e:はんだ耐熱性,はんだこて法 …IEC60512125:2006(MOD)…359
JIS C5402-12-6:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第126部:はんだ付け試験―試験12f:自動はんだ付けにおけるフラックス及び洗浄液に対する封止…IEC60512126:1996(IDT)…362
JIS C5402-12-7:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第127部:はんだ付け試験―試験12g:はんだ付け性,平衡法 …IEC60512127:2001(IDT)…365
JIS C5402-13-1:2015
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第131部:機械的動作試験―試験13a:結合力及び離脱力 …IEC60512131:2006(IDT)…367
JIS C5402-13-2:2012
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第132部:機械的動作試験―試験13b:挿入力及び引抜力 …IEC60512132:2006(IDT)…369
JIS C5402-13-5:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第135部:機械的動作試験―試験13e:極性及びキーイング …IEC60512135:2006(IDT)…371
JIS C5402-14-2:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第142部:封止(気密性)試験―試験14b:封止(気密性)―微小エアリーク …IEC60512142:2006(IDT)…374
JIS C5402-14-4:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第144部:封止(気密性)試験―試験14d:浸せき―防水 …IEC60512144:2006(IDT)…377
JIS C5402-14-5:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第145部:封止(気密性)試験―試験14e:浸せき(減圧) …IEC60512145:2006(IDT)…380

― 電子III- 2 ―

― 11 ―

JIS C5402-14-6:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第146部:封止(気密性)試験―試験14f:インタフェーシャルシーリング …IEC60512146:2006(IDT)…383
JIS C5402-14-7:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第147部:封止(気密性)試験―試験14g:噴射水 …IEC60512147:1997(IDT)…386
JIS C5402-15-1:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第151部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15a:インサート内のコンタクト保持 …IEC60512151:2008(IDT)…388
JIS C5402-15-2:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第152部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15b:ハウジング内のインサート保持(軸方向) …IEC60512152:2008(MOD)…391
JIS C5402-15-3:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第153部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15c:ハウジング内のインサート保持(ねじれ方向) …IEC60512153:2008(IDT)…395
JIS C5402-15-4:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第154部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15d:コンタクトの挿入,解放及び引抜力 …IEC60512154:2008(IDT)…398
JIS C5402-15-5:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第155部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15e:インサート内のコンタクト保持,ケーブルの回転(nutation) …IEC60512155:2008(IDT)…401
JIS C5402-15-6:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第156部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15f:コネクタカップリング機構の効果…IEC60512156:2008(IDT)…404
JIS C5402-15-8:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第158部:コネクタ試験(機械的試験)―試験15h:コンタクト保持機構,工具の使用に対する耐久性…IEC60512158:1995(IDT)…406
JIS C5402-16-1:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第161部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16a:プローブダメージ …IEC60512161:2008(IDT)…408
JIS C5402-16-2:2012
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第162部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16b:リストリクテッドエントリ …IEC60512162:2008(IDT)…411
JIS C5402-16-3:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第163部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16c:コンタクト曲げ強度 …IEC60512163:2008(IDT)…413
JIS C5402-16-4:2012
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第164部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16d:引張強度(圧着接続) …IEC60512164:2008(IDT)…416

― 電子III- 2 ―

― 12 ―

JIS C5402-16-5:2012
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第165部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16e:ゲージ保持力(弾性コンタクト)…IEC60512165:2008(IDT)…418
JIS C5402-16-6:2014
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第166部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16f:ターミネーション強度 …IEC60512166:2008(IDT)…420
JIS C5402-16-7:2012
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第167部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16g:圧着後のコンタクトの変形測定…IEC60512167:2008(IDT)…422
JIS C5402-16-8:2015
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第168部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16h:インシュレーショングリップの有効性(圧着接続) …IEC60512168:2008(IDT)…425
JIS C5402-16-9:2015
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第169部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16i:接地コンタクトスプリングの保持力 …IEC60512169:2008(IDT)…428
JIS C5402-16-13:2015
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1613部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16m:ラッピングの巻き戻し,無はんだラッピング接続 …IEC605121613:2008(IDT)…430
JIS C5402-16-20:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第1620部:コンタクト及びターミネーションの機械的試験―試験16t:機械的強度(無はんだ接続のターミネーション) …IEC605121620:1996(IDT)…432
JIS C5402-17-1:2015
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第171部:ケーブルクランプ試験―試験17a:ケーブルクランプ強度 …IEC60512171:2010(IDT)…433
JIS C5402-17-2:2015
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第172部:ケーブルクランプ試験―試験17b:ケーブルクランプ強度(ケーブルの回転) …IEC60512172:2011(IDT)…435
JIS C5402-17-3:2018
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第173部:ケーブルクランプ試験―試験17c:ケーブルクランプ強度(ケーブルの引張り)…IEC60512173:2010(IDT)…437
JIS C5402-17-4:2015
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第174部:ケーブルクランプ試験―試験17d:ケーブルクランプ強度(ケーブルのねじり) …IEC60512174:2010(IDT)…439
JIS C5402-19-3:2002
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第193部:耐化学薬品試験―試験19c:耐液性 …IEC60512193:1997(IDT)…441
JIS C5402-20-2:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第202部:耐火性試験―試験20b:耐火性 …IEC60512202:2000(IDT)…444
JIS C5402-22-1:2016
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第221部:静電容量試験―試験22a:静電容量 …IEC60512221:2010(IDT)…449

― 電子III- 2 ―

― 13 ―

JIS C5402-23-3:2005
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第233部:スクリーニング及びフィルタリング試験―試験23c:コネクタ及びアクセサリのシールド効果…IEC60512233:2000(IDT)…451
JIS C5402-23-4:2006
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第234部:スクリーニング及びフィルタリング試験―試験23d:時間領域での伝送線路の反射 …IEC60512234:2001(IDT)…457
JIS C5432:1994
電子機器用丸形 R01コネクタ …463
JIS C5410:1991
高周波同軸コネクタ通則 …IEC601691:1987(MOD)…478
JIS C5411:1995
高周波同軸 C01 形コネクタ …503
JIS C5412:1995
高周波同軸 C02 形コネクタ …519
JIS C5413:1995
高周波同軸 C03 形コネクタ …536
JIS C5414:1995
高周波同軸 C04 形コネクタ …553
JIS C5415:1995
高周波同軸 C05 形コネクタ …567
JIS C5419:1995
高周波同軸 C11 形コネクタ …577
JIS C62197-1:2020
電子機器用コネクタ―品質要求事項―第1部:品目別通則 …IEC621971:2006(IDT)…586
JIS C5442:1996
制御用小形電磁リレーの試験方法 …604
JIS C5445:2012
電子機器用スイッチ―第1部:通則…IEC610201:2009(MOD)…643
JIS C6012-3-100:2015
電子機器用の機械的構造―482.6 mm(19 in)シリーズの機械的構造寸法―フロントパネル,サブラック,シャシ,ラック及びキャビネットの基本寸法 …IEC602973100:2008(IDT)…702
JIS C6560:1994
単頭プラグ・ジャック …713
JIS C6571:2015
電子機器用トグルスイッチ …726
JIS C62246-1:2016
リードスイッチ―第1部:品目別通則 …IEC622461:2015(IDT)…789
JIS C62246-1-1:2016
リードスイッチ―第11部:品質評価及び試験方法 …IEC6224611:2013(MOD)…844

プリント配線板

JIS C5010:1994
プリント配線板通則 …885
JIS C5012:1993
プリント配線板試験方法 …IEC603262:1990,46:1980(MOD)…894
JIS C5013:1996
片面及び両面プリント配線板 …912
JIS C5014:1994
多層プリント配線板 …929
JIS C5016:1994
フレキシブルプリント配線板試験方法 …IEC602491:1982,603262:1990(MOD)…948
JIS C5017:1994
フレキシブルプリント配線板―片面・両面 …IEC603267,8:1981(MOD)…963
JIS C5603:1993
プリント回路用語 …969

― 電子III- 2 ―

― 14 ―

JIS C6471:1995
フレキシブルプリント配線板用銅張積層板試験方法 …IEC602491:1982(MOD)…986
JIS C6472:1995
フレキシブルプリント配線板用銅張積層板―ポリエステルフィルム,ポリイミドフィルム …1001
JIS C6480:1994
プリント配線板用銅張積層板通則 …1007
JIS C6481:1996
プリント配線板用銅張積層板試験方法 …IEC602491:1982,Amd.1:1984(MOD)…1010
JIS C6482:1997
プリント配線板用銅張積層板―紙基材エポキシ樹脂 …IEC6024923:1987(MOD)…1033
JIS C6483:1997
プリント配線板用銅張積層板―合成繊維布基材エポキシ樹脂 …1038
JIS C6484:2005
プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂 …IEC6124927:2002,28:2003(MOD)…1043
JIS C6485:2008
プリント配線板用銅張積層板―紙基材フェノール樹脂 …IEC6124921,22:2005(MOD)…1057
JIS C6488:1999
プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布・紙複合基材エポキシ樹脂銅張積層板…IEC6024929:1987(MOD)…1068
JIS C6489:1999
プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布・ガラス不織布複合基材エポキシ樹脂銅張積層板 …IEC60249210:1987(MOD)…1075
JIS C6490:1998
プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布基材ポリイミド樹脂 …IEC60249216:1992,Amd.1:1993,Amd.2:1994(MOD)…1081
JIS C6492:1998
プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布基材ビスマレイミドトリアジン・エポキシ樹脂 …IEC60249218:1992,Amd.1:1993,Amd.2:1994(MOD)…1088
JIS C6493:1999
多層プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布基材ポリイミド樹脂銅張積層板…IEC60249217:1992(MOD)…1095
JIS C6494:1999
多層プリント配線板用銅張積層板―耐燃性ガラス布基材ビスマレイミド/トリアジン/エポキシ樹脂銅張積層板 …IEC60249219:1992(MOD)…1101
JIS C6515:1998
プリント配線板用銅はく …IEC6124951:1995(IDT)…1107
JIS C6520:1993
多層プリント配線板用プリプレグ通則 …1116
JIS C6521:1996
多層プリント配線板用プリプレグ試験方法 …IEC6024931:1981(MOD)…1118
JIS C6522:1996
多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材エポキシ樹脂 …IEC6024931:1981(MOD)…1125
JIS C6523:1995
多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材ポリイミド樹脂 …1128
JIS C6524:1995
多層プリント配線板用プリプレグ―ガラス布基材ビスマレイミド/トリアジン/エポキシ樹脂 …1131

― 電子III- 2 ―

― 15 ―

実装技術

JIS C61188-7:2020
プリント配線板及びプリント配線板実装―設計及び使用―第7部:CADライブラリに用いる電子部品の基準点及び配置方向 …IEC611887:2017(IDT)…1137
JIS C61191-1:2015
プリント配線板実装―第1部:通則―表面実装及び関連する実装技術を用いた電気機器・電子機器用はんだ付け実装要求事項 …IEC611911:2013(MOD)…1153
JIS C61191-2:2020
プリント配線板実装―第2部:部門規格―表面実装はんだ付け要求事項…IEC611912:2017(IDT)…1191
JIS C61191-3:2020
プリント配線板実装―第3部:部門規格―挿入実装はんだ付け要求事項…IEC611913:2017(IDT)…1219
JIS C61191-4:2020
プリント配線板実装―第4部:部門規格―端子実装はんだ付け要求事項…IEC611914:2017(IDT)…1233
JIS C61191-6:2011
プリント配線板実装―第6部:BGA及びLGAのはんだ接合部のボイド評価基準及び測定方法 …IEC611916:2010(IDT)…1247
JIS C62137-1-1:2010
表面実装技術―はんだ接合部耐久性試験方法―第11部:引きはがし強度試験方法 …IEC6213711:2007(IDT)…1269
JIS C62137-1-2:2010
表面実装技術―はんだ接合部耐久性試験方法―第12部:横押しせん断強度試験方法 …IEC6213712:2007(IDT)…1277
JIS C62137-1-3:2011
表面実装技術―はんだ接合部耐久性試験方法―第13部:繰返し落下試験方法…IEC6213713:2008(IDT)…1287
JIS C62137-1-4:2011
表面実装技術―はんだ接合部耐久性試験方法―第14部:繰返し曲げ試験方法 …IEC6213714:2009(IDT)…1300
JIS C62137-1-5:2011
表面実装技術―はんだ接合部耐久性試験方法―第15部:せん断疲労試験方法…IEC6213715:2009(IDT)…1307
JIS C62137-3:2014
電子実装技術―第3部:はんだ接合部耐久性試験方法の選定指針 …IEC621373:2011(IDT)…1317
JIS C62137-4:2016
電子実装技術―第4部:エリアアレイ形表面実装部品のはんだ接合部耐久性試験方法…IEC621374:2014(IDT)…1354
JIS C62739-1:2015
溶融鉛フリーはんだを用いたウエーブソルダリング装置の侵食試験方法―第1部:表面処理を施さない金属材料の侵食試験方法 …IEC627391:2013(IDT)…1388
JIS C62739-2:2019
溶融鉛フリーはんだを用いたウェーブソルダリング装置の侵食試験方法―第2部:表面処理を施した金属材料の侵食試験方法 …IEC627392:2016(IDT)…1400
JIS C62739-3:2019
溶融鉛フリーはんだを用いたウェーブソルダリング装置の侵食試験方法―第3部:試験方法の選定指針 …IEC627393:2017(IDT)…1410

― 電子III- 2 ―

― 16 ―

水晶振動子

JIS C6701:2007
水晶振動子通則…IEC601221:2002(IDT)…1435
JIS C6703:2008
水晶フィルタ …IEC603681:2000,Amd.1:2004(MOD)…1462
JIS C6704:2017
人工水晶…IEC60758:2016(MOD)…1484
JIS C6710:2007
水晶発振器品目別通則 …IEC606791:1997,Amd.1:2002,Amd.2:2003(IDT)…1530

半 導 体

JIS C7030:1993
トランジスタ測定方法 …1581
JIS C7031:1993
小信号用半導体ダイオード測定方法 …IEC607473:1985(MOD)…1637

参考

電子関係団体一覧 …1659

JISの“まえがき”の省略 …1663

ISO,IECが発行する規格・出版物の著作権 …1664

主なSI単位への換算率表 …1666