JIS R 1639-2:1999 ファインセラミックス―か（顆）粒特性の測定方法―第２部：かさ密度

R 1639-2 : 1999

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。通商産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は,出願公開後の実用
新案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。

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――――― [JIS R 1639-2 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         R 1639-2 : 1999

ファインセラミックス−か(顆)粒特性の測定方法−第2部 : かさ密度

Test methods of properties of fine ceramic granules Part 2 : Bulk density

1. 適用範囲 この規格は,数十から数百               ァインセラミックスか粒のかさ密度の測定方法につい
て規定する。
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版を適用する。
    JIS R 1600 ファインセラミックス関連用語
    JIS R 1628 ファインセラミックス粉末のかさ密度測定方法
    JIS R 6003 研摩材のサンプリング方法
    JIS Z 8401 数値の丸め方
3. 定義 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS R 1600によるほか,次による。
a) か粒 微粒子の造粒操作によって製造した粒子集合体。
b) か粒特性 か粒の特性を表す代表的な性質。
c) かさ密度 か粒が占める単位かさ体積当たりの質量。
d) 初期かさ密度 か粒を静かに容器に入れたときのかさ密度。
e) タップかさ密度 か粒を容器に入れた後,容器にタップによる衝撃を加え,体積変化がなくなったと
    きのかさ密度。
f)  定体積測定法 測定体積を一定として行う測定方法。
g) 定質量測定法 測定質量を一定として行う測定方法。
4. サンプリング方法 試験する試料のサンプリング方法は,JIS R 6003の3.(サンプリング方法)及び
4.(試料調整方法)による。
  調整試料の1試料の量は,体積で200cm3程度とする。
5. かさ密度の種類 かさ密度の種類は,次による。
a) 初期かさ密度

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R 1639-2 : 1999
b) タップかさ密度
6. 測定方法の種類 かさ密度の測定は,次のいずれかによる。
a)   IS R 1628による方法
b) その他の方法
7. 測定方法
7.1 JIS R 1628による方法 JIS R 1628に規定する定体積測定法又は定質量測定法による。ただし,試料
の乾燥は行わない。タップかさ密度を求める場合には,いずれの測定法においても,最初のタップ回数を
100回から始めてもよい。
7.2   その他の方法による場合 JIS R 1628に規定する方法以外の場合には,測定結果がJIS R 1628に規
定する定容積測定法又は定質量測定法の結果との差が,あらかじめ当事者間で合意した許容範囲内になる
ように,測定条件を設定して行わなければならない。
8. 計算 かさ密度の計算は,次による。
8.1   初期かさ密度及びタップかさ密度 初期かさ密度及びタップかさ密度は,それぞれの測定における
試料の質量を,測定容器中に占める試料の最上層までの体積で除して求め,それぞれ初期かさ密度及びタ
ップかさ密度とする。
8.2   計算結果の整理 測定値は,有効数字3けたまで求め,平均値は4けたまで計算して,JIS Z 8401
によって3けたに丸め,単位はg/cm3で表示する。
9. 結果の表示 かさ密度の測定結果の表示は,次による。
a) 試料名
b) 測定方法(JIS R 1628による方法の場合には,その規格番号と測定方法の種類。その他の方法による
    場合には,容器の材質及び断面積,容器に入れた試料の高さ,タップ高さ,タップ速度,タップ時間
    及び衝撃面材質)
c) 測定条件(温度及び湿度)
d) 初期かさ密度
e) タップかさ密度

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                                                                                  R 1639-2 : 1999
      ファインセラミックスか(顆)粒特性の測定方法 第2部 かさ密度原案作成委員会 構成表
                                   氏名                           所属
     (委員長)          ○ 内 海 良 治        工業技術院名古屋工業技術研究所
     (委員)            ○ 伊ケ崎 文 和       工業技術院物質工学工業技術研究所
                         ○ 青 木 正 司        財団法人ファインセラミックスセンター
                         ○ 山 田 哲 夫        宇部與産株式会社
                         ○ 伊 藤      崇      大川原化工機株式会社
                         ○ 渡 邊 敬一郎       日本ガイシ株式会社
                         ○ 松 尾 康 史        日本特殊陶業株式会社
                            鈴 木 和 夫        工業技術院名古屋工業技術研究所
                            椿    淳一郎       名古屋大学
                            中 平 兼 司        財団法人ファインセラミックスセンター
                            中 村 彰 一        大塚電子株式会社
                            福 井 俊 文        株式会社島津製作所
                            橋 本 邦 男        昭和電工株式会社
                            佐々木 邦 雄       株式会社セントラル科学貿易
                            山 口 浩 文        日本ガイシ株式会社
                            虎 谷 秀 穂        名古屋工業大学
                            林     茂 雄       三重県窯業試験場
                            中 安 哲 夫        宇部與産株式会社
                            安 川 勝 正        京セラ株式会社
                            築 野      孝      住友電気工業株式会社
                            稲 場      徹      電気化学工業株式会社
                         ○ 伊 藤      敏      通商産業省生活産業局ファインセラミックス室
                         ○ 大 嶋 清 治        工業技術院標準部
                         ○ 加 山 英 男        財団法人日本規格協会
                         ○ 菅 野 隆 志        ファインセラミックス国際標準化推進協議会
                         ○ 渡 辺 一 志        社団法人日本ファインセラミックス協会
     (事務局)          ○ 杉 本 克 晶        社団法人日本ファインセラミックス協会
                            備考 ○印は小委員会委員を兼ねる。
                            文責 原案作成小委員会