JIS C 5021:1978 廃止 規格情報
JIS C 5021:1978 廃止 移動先 規格概要
この規格 C5021は、電子部品の低温における特性を調べて,その特性に応じた低温で使用する場合の適性を判定するための試験方法について規定。
- 規格 番号
- JIS C5021
- 規格 名称
- 電子部品の耐寒性試験方法
- 規格 名称 英語訳
- Cold testing procedures for electronic components
- 制定 年月日
- 1967-05-01
- 廃止 年月日
- 1987-07-01
- 引用 JIS 規格
- JISC5003,JISC5020,JISC5036,JISC5037
- 対応国際 規格 ISO
- -
- 国際規格 分類 ICS
- 改訂 履歴
- 1967-05-01 制定日, 1970-05-01 確認日, 1973-06-01 確認日, 1975-05-01 改正日, 1978-05-01 確認日, 1978-09-01 改正日, 1984-01-01 確認 1987-07-01 廃止日
- 公示の種類
- 廃止
- 廃止の理由
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- 移行先(移動先)
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
JIS C 5021:1978の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISC5003:1974
- 電子部品の故障率試験方法通則
- JISC5020:1978
- 電子部品の環境試験方法通則
- JISC5036:1975
- 電子部品の長時間電気的動作試験方法
- JISC5037:1975
- 電子部品の機械的繰返し動作試験方法