JIS C 5750-3-7:2003 (W) ディペンダビリティ管理―第３－７部：適用の指針―電子ハードウェアの信頼性ストレススクリーニング

JIS C 5750-3-7:2003 廃止 移動先 規格概要

この規格 C5750-3-7は、電子ハードウェアに対する信頼性ストレススクリーニングプロセスの適用指針について規定。スクリーニングプロセスの概念,目的及び理由付けを示し,スクリーニングプログラムの主要な要素を一般的な計画手順と共に規定。

規格 番号

JIS C5750-3-7 

規格 名称

ディペンダビリティ管理―第3-7部 : 適用の指針―電子ハードウェアの信頼性ストレススクリーニング

規格 名称 英語訳

Dependability management -- Part 3-7:Application guide -- Reliability stress screening of electronic hardware

制定 年月日

2003-11-20

廃止 年月日

2019-03-20

引用 JIS 規格

JISZ8115,JISZ9021

対応国際 規格 ISO

IEC 60300-3-7:1999(IDT)

国際規格 分類 ICS

03.100.40, 03.120.01, 31.020

改訂 履歴

2003-11-20 制定日, 2008-10-01 確認日, 2013-10-21 確認 2019-03-20 廃止日

公示の種類

廃止

廃止の理由

対応する国際規格との整合性の確保のため,対応国際規格が廃止されているため廃止。

移行先(移動先)

JISハンドブック

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規格番号

規格名称

JISZ8115:2019

ディペンダビリティ(総合信頼性)用語

JISZ9021:1998

シューハート管理図