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JIS C 7022:1979 (W) 半導体集積回路の環境試験方法及び耐久性試験方法

JIS C 7022:1979 廃止 規格情報

JIS C 7022:1979 廃止 移動先 規格概要

この規格 C7022は、産業用及び民生用の電子機器に用いる集積回路(混成集積回路を除く。)の使用中,貯蔵中及び輸送中に受ける各種環境状態での耐性を評価するための環境試験方法及び耐久性試験方法について規定。

規格 番号
JIS C7022 
規格 名称
半導体集積回路の環境試験方法及び耐久性試験方法
規格 名称 英語訳
Environmental testing methods and endurance testing methods for semiconductor integrated circuits
制定 年月日
1979-03-01
廃止 年月日
1997-09-20
引用 JIS 規格
JISC2320,JISC5024,JISC5025,JISC5026,JISC5028,JISC5030,JISC5031,JISC5032,JISC5033,JISC5034,JISC5035,JISK1522,JISK5902,JISK8034,JISK8150,JISK8377,JISK8459,JISK8666,JISK8839,JISZ3282
対応国際 規格 ISO
IEC 147(NEQ), IEC 147-4(NEQ), IEC 147-5(NEQ), IEC 147-68(NEQ)
国際規格 分類 ICS
31.200
改訂 履歴
1979-03-01 制定日, 1984-09-01 確認日, 1989-10-01 確認 1997-09-20 廃止日
公示の種類
廃止
廃止の理由
-
移行先(移動先)
JISハンドブック
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JIS C 7022:1979の関連規格と引用規格一覧

JIS C 7022:1979の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 147(NEQ)
  • IEC 147-4(NEQ)
  • IEC 147-5(NEQ)
  • IEC 147-68(NEQ)

JIS C 7022:1979の国際規格 ICS 分類一覧

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