ISO 4291:1985 真円度からの逸脱を評価する方法—半径の変動の測定

ISO 4291:1985の概要

ISO4291:1985の規格概要

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Methods for the assessement of departure from roundness — Measurement of variations in radius

使用する接触(スタイラス)機器のタイプ、それらの使用に関する推奨事項、機器の校正手順、およびそれらの特性の検証を確立します。参照条件下で取得されたプロファイル変換に適用されます。測定されたプロファイルの真円度からの逸脱、手順、キャリブレーション、および回転の系統的誤差の決定は、それぞれ付録AからDで処理されます。付録Eは、極座標グラフのプロットと読み取りに関する規則を示しています。最小二乗中心の位置は、付録Fに示されている単純な明示的な方程式から計算できます。

※一部、英文及び仏文を自動翻訳した日本語訳を使用しています。

ISO4291:1985 国際規格 情報

ISO 国際規格番号
ISO 4291:1985
ISO 国際規格名称
Methods for the assessement of departure from roundness — Measurement of variations in radius
ISO 規格名称 日本語訳
真円度からの逸脱を評価する方法—半径の変動の測定
発行日 (Publication date)
1985-09
更新日:確認日 (Update date,Date confirmed)
2020-07-23
状態 (Status)
公開済み (Published)
改訂 (Edition)
1
PDF ページ数 (Number of pages)
18
TC(専門委員会):Technical Committee
ISO/TC 213 寸法および幾何学的な製品仕様と検証:(Dimensional and geometrical product specifications and verification)
ICS:International Classification for Standards(国際規格分類)
17.040.20:Properties of surfaces,
ISO 対応 JIS 規格
真円度測定機,
ICS 対応 JIS 規格
17.040.30

ISO 4291:1985 関連規格 履歴一覧

ISO4291:1985 対応 JIS 規格一覧

ISO4291:1985 ICS 対応 JIS 規格

ICS > 17:度量衡及び測定.物理的現象 > 17.040:線及び角度の測定 > 17.040.20:表面の特性

ISO 4291:1985 修正 一覧 (Amendments)

ISO 4291:1985 正誤表 一覧 (Corrigenda)

ISO 4291:1985 規格の現段階 ステージ (Stage codes: 90) 見直

サブステージコード 90.93 国際標準を確認 (International Standard confirmed)

ISO 4291:1985 持続可能な開発目標 SDGS

この規格は、以下の持続可能な開発目標 (Sustainable Development Goal)に貢献します。

  • 17の目標 : [Sustainable Development Goal]

    SDGsとは、「Sustainable Development Goals(持続可能な開発目標)」の略称で、2015年9月に国連で採択された2030年までの国際開発目標。17の目標と169のターゲット達成により、「誰一人取り残さない」社会の実現に向け、途上国及び先進国で取り組むものです。