JIS B 7451:1997 真円度測定機

B 7451 : 1997

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が改正した日
本工業規格である。これによってJIS B 7451-1991は改正され,この規格に置き換えられる。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,
このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について責任はもたない。
  この規格には,次の附属書がある。
    附属書1(規定) 真円度測定機による真円度の評価方法
    附属書2(参考) 測定手順及び一般的指針

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS B 7451 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                            B 7451 : 1997

真円度測定機

Instruments for the assessment of departure from roundness −Measurement of variations in radius

序文 この規格は,1985年に第1版として発行されたISO 4291, Methods for the assessment of departure from
roundness−Measurement of variations in radius及びISO 6318, Measurement of roundness−Terms, definitions
and parameters of roundnessを基に作成した日本工業規格(日本産業規格)であり,対応国際規格と対応する部分については,
技術的内容を変更することなく作成しているが,対応国際規格には規定されていない内容(回転精度に関
する許容差)を追加している。
また,対応国際規格には規定されていない項目(載物台の機構,拡大倍率,測定機の安定度,検査,表示)
を追加している。
1. 適用範囲 この規格は,検出器によって対象物の円形形体の円周方向の半径の変化を測定することを
目的とする接触式真円度測定機(以下,測定機という。)について規定する。
    備考 この規格の本体によらない真円度測定機による真円度の評価方法を附属書1(規定)に規定す
          る。
2. 引用規格 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。こ
れらの規格は,その最新版を適用する。
    JIS B 0621 幾何偏差の定義及び表示
    JIS B 7430 オプチカルフラット
    JIS B 7506 ブロックゲージ
    JIS Z 8103 計測用語
3. 用語の定義・記号 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS B 0621及びJIS Z 8103によるほか,次
による。
  また,記号は,それぞれの用語の後の括弧内に示す。
a) 検出器回転形 載物台が固定され,検出器が回転する機構をもつ測定機の形式(付図1参照)。
b) 載物台回転形 検出器が固定され,載物台が回転する機構をもつ測定機の形式(付図2参照)。
c) 検出器 測定真円度曲線を検出する機構及び変換器によって構成される装置。
d) 測定子 検出器のうち対象物に直接接触する部分。
e) 測定力 測定子が測定面に作用する静的な力。
f)  回転精度 回転装置の回転精度は,次による。

――――― [JIS B 7451 pdf 2] ―――――

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B 7451 : 1997
  1) 半径方向の回転精度 球,半球又は円筒形状の標準器(以下,回転精度検査用標準器という。)を測
      定して得られる真円度の値で表される回転装置の精度。
  2) 軸方向の回転精度 オプチカルフラットを測定して得られる1円周についての平面度の値で表され
      る回転装置の精度。
g) 実真円度曲線 定められた軸に直角な平面で,対象物の円形形体の実表面を切断したときに生じる横
    断面輪郭線。
h) 測定真円度曲線 測定子が対象物の実真円度曲線上を駆動したときの,測定子の先端部の中心の軌跡。
    この測定子は,所定の形状と測定力をもつ。
i)  真円度曲線 ディジタル形又はアナログ形の測定真円度曲線に対し,所定の山の数より大きい成分を
    位相補償形又は2CR形の低域フィルタで除去し,更に選択された中心定義法の中心へ座標変換した曲
    線。
      この真円度曲線から所定の山の数より小さい成分を位相補償形又は2CR形の高域フィルタで除去
    した曲線も含める。
j)  基準円 与えられた方法(例えば,最小二乗法)で,対象物の測定真円度曲線又は真円度曲線に当て
    はめた幾何学的円。
k) 山の数 (upr) 対象物の1円周当たりの正弦波的な起伏数。
l)  真円度曲線のカットオフ値 (fc)  低域フィルタと高域フィルタの利得が75%となる山の数(以下,
    カットオフ値という。)。
m) 倍率校正器 ねじ及びてこ,ねじ及びくさびなどを利用して正確な寸法の変位を静的に与えることが
    できる校正器。
n) 校正用標準器 測定子に動的,かつ,一定の変位を与えるため,外周面上に一つ以上の小さな平面又
    は曲面をもつ円筒形の器具。
4. 形式 測定機の形式は,回転機構によって検出器回転形と載物台回転形とに区分する。
5. 構造
5.1   測定機の構成 測定機は,検出器・測定子,回転装置,送り装置,載物台,増幅装置,フィルタ,
演算装置,表示装置,記録装置などから構成する(付図1及び付図2参照)。半径方向の回転精度を測定す
るための,回転精度検査用標準器を附属するのがよい。
    備考 測定機の構成図の例を図1に示す。

――――― [JIS B 7451 pdf 3] ―――――

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                                    図1 測定機の構成図の例

――――― [JIS B 7451 pdf 4] ―――――

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B 7451 : 1997
5.2   測定子 測定子の先端部の形状は,次による。
a) 球形,おの(斧)形,円筒形又は卵形とする(図2参照)。
b) 先端部の曲率半径(図2に示すrの呼び値)は,0.25mm,0.8mm,2.5mm,8mm及び25mmの5種類
    とし,先端部の曲率半径の許容差は,それぞれの呼び値の±30%とする。
                                  図2 測定子先端部の形状の例
      参考 測定子の先端部の材質は,鋼,超硬合金,ダイヤモンド,サファイヤ,セラミックスなどがある。
           ただし,軟質物の測定用のものでは,プラスチックス系の材料を用いることが多い。
5.3   載物台 載物台は,対象物の測定断面中心と回転装置の回転軸心とを一致させるための微調整機構
をもっていなければならない。
5.4   フィルタ フィルタの構成及びカットオフ値は,次による。
5.4.1  フィルタの構成 フィルタは,位相補償形又は時定数が等しい二組のR-C回路を直列に接続した
構造で,図4の伝達特性をもつ。
5.4.2  フィルタのカットオフ値及びその組合せ フィルタのカットオフ値及びその組合せは,表1から選
択する。

――――― [JIS B 7451 pdf 5] ―――――

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