JIS B 0670:2002 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―表面性状：輪郭曲線方式―触針式表面粗さ測定機の校正

B 0670 : 2002

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人日本規格協会 (JSA) から工業標準
原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大
臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  JIS B 0670には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定) モチーフパラメータのための測定機の校正
    附属書B(規定) 簡易オペレータ形式の測定機の校正
    附属書C(参考) 粗さ用標準片のパラメータRaの分散分析例
    附属書D(参考) GPSマトリックス
    附属書E(参考) 参考文献
    附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表

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                                                                                   B 0670 : 2002

pdf 目次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 校正要件・・・・[3]
•  5. 標準片・・・・[3]
•  6. 触針式表面粗さ測定機の計測特性・・・・[3]
•  7. 校正・・・・[6]
•  8. 測定の不確かさ・・・・[7]
•  9. 触針式表面粗さ測定機の校正証明書・・・・[8]
•  附属書A(規定) モチーフパラメータのための測定機の校正・・・・[9]
•  附属書B(規定) 簡易オペレータ形式の測定機の校正・・・・[11]
•  附属書C(参考) 粗さ用標準片のパラメータRaの分散分析例・・・・[12]
•  附属書D(参考) GPSマトリックス・・・・[14]
•  附属書E(参考) 参考文献・・・・[15]
•  附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表・・・・[16]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                            B 0670 : 2002

製品の幾何特性仕様 (GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の校正

Geometrical Product Specifications (GPS) −Surface texture : Profile method−Calibration of contact (stylus) nstruments

序文

 この規格は,2000年に第1版として発行されたISO 12179, Geometrical Product Specifications (GPS) −
Surface texture : Profile method−Calibration of contact (stylus)   nstrumentsを翻訳し,技術的内容を変更して作
成した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,製品の幾何特性仕様 (GPS) の一つで,GPS基本規格に属し(TR B 0007参照),粗さ曲線,
うねり曲線及び断面曲線の規格チェーンのリンク番号6に関係している。
この規格と他のGPS規格との関連についての詳細は,附属書Dを参照する。
この規格では,JIS B 0651で定義する触針式表面粗さ測定機の校正方法を規定する。校正は,標準片を用
いて行う。
なお,この規格の中で点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。
    備考 TR B 0007は,ISO/TR 14638 : 1995 Geometrical Product Specifications (GPS) −Master planと一
          致している。

1. 適用範囲

 この規格は,JIS B 0651で定義される輪郭曲線方式による表面性状を測定するための触針
式表面粗さ測定機の計測特性の校正に適用する。校正は,標準片を用いて行う。
  附属書Bは,JIS B 0651に従っていない簡易オペレータ形式の触針式表面粗さ測定機の計測特性の校正
に適用する。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          ISO 12179 : 2000 Geometrical Product Specifications (GPS) −Surface texture : Profile method−
              Calibration of contact (stylus)   nstruments (MOD)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで、発行年を付記してあるものは,記載年の版だけがこの規格を構成するも
のであって,その後の改訂版・追補は適用しない。発効年を付記していない引用規格は,その最新版(追
補を含む。)を適用する。

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2
B 0670 : 2002
    JIS B 0601 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
        ータ
      備考 ISO 4287 : 1997 Geometrical Product Specifications (GPS) −Surface texture : Profile method−
                Terms, definitions and surface texture parametersが,この規格と一致している。
    JIS B 0631 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状 : 輪郭曲線方式−モチーフパラメータ
      備考 ISO 12085 : 1996 Geometrical Product Specifications (GPS) −Surface texture : Profile method−
                Motif parametersが,この規格と一致している。
    JIS B 0651 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状 : 輪郭曲線方式−触針式表面粗さ測定機の特性
      備考 ISO 3274 : 1996 Geometrical Product Specifications (GPS) −Surface texture : Profile method−
                Nominal characteristics of contact (stylus)   nstrumentsが,この規格と一致している。
    JIS B 0659-1 製品の幾何特性仕様 (GPS) −表面性状 : 輪郭曲線方式 : 測定標準−第1部 : 標準片
      備考 ISO 5436-1 : 2000 Geometrical Product Specification (GPS) −Surface texture : Profile method−
                Measurement standards−Part 1 : Material measuresからの引用事項は,この規格の該当事項
                と同等である。
    JIS Z 8103 計測用語
    参考 この規格で用いる計測用語は,JIS Z 8103によるので,これを引用規格に追加した。
    ISO 10012-1 : 1992 Quality assurance requirements for measuring equipment−Part 1 : Metrological
        confirmation system for measuring equipment
    ISO 14253-1 : 1998 Geometrical Product Specifications (GPS) −Inspection by measurement of workpieces
        and measuring equipment−Part 1 : Decision rules for proving conformance or non-conformance with
        specification
    ISO/TS 14253-2 : 1999 Geometrical Product Specifications (GPS) −Inspection by measurement of
        workpieces and measuring equipment−Part 2 : Guide to the estimation of uncertainty of measurement in
        GPS measurement GPS measurement, in calibration of measuring equipment and in product verification.
    Guide to the expression of uncertainty in measurement (GUM). BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC, IUPAP, OIML,
        1st edition, 1995.
    International vocabulary of basic and general terms in metrology (VIM). BIPM, IEC, IFCC, ISO, IUPAC,
        IUPAP, OIML, 2nd edition, 1993.

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS B 0601,JIS B 0651,JIS Z 8103,ISO 14253-1,VIM
及びGUMによる。
3.1   校正 (calibration) 測定機(計器)若しくは測定システムによって指示される値,又は標準片(実
量器)若しくは標準物質によって表される値と標準によって実現される対応した値との間の関係を,特定
の条件下で確定する一連の作業。 [VIM6.11]
3.2   調整 [adjustment (of a measuring instrument)   ] 測定機を目的に適した動作状態にする作業。
[VIM4.30]
3.3   測定標準 [(measurement)   tandard],エタロン (etalon)基準として用いるために,ある単位又はあ
る量の値を定義,実現,保存又は再現することを意図した測定機,標準片(実量器),標準物質又は測定系。
[VIM6.1]
    備考 JIS B 0601 : 1994 (ISO 5436 : 1985) では,“標準片”は“校正用標準片”と呼ばれていた。

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                                                                                   B 0670 : 2002
3.4   測定の不確かさ (uncertainty of measurement)  測定量に意味をもって結びつけることができる測定
値のばらつきを特徴づけるパラメータ。 [VIM3.9]
3.5                               不確かさがすべて表記された切れ目のない比較の連鎖に上って,
      トレーサビリティ (traceability)
通常は国家標準又は国際標準で決められた基準に結びつけられる測定結果又は標準の値の性質。
[VIM6.10]

4. 校正要件

4.1   触針式表面粗さ測定機の構成要素 触針式表面粗さ測定機は,基礎部分,送り装置,プローブ及び
記録装置から構成される(JIS B 0651参照)。
  基礎部分に幾つかの送り装置及びプローブを組み合わせて用いる場合,各構成要素を校正しなければな
らない。
    参考 基礎部分とは,測定台,コラム,固定具などをいう。
4.2   構成要素の校正 意図的であってもなくても,測定した輪郭曲線及び測定結果に影響を及ぼすよう
な変更がシステムの構成要素にあった場合には,触針式表面粗さ測定機を校正しなければならない。また,
各構成要素は,個々に校正しなければならない。
    例 プローブを交換した場合には,触針式表面粗さ測定機を校正しなければならない。
4.3   校正をする場所 外乱の影響を考慮して測定を行う場合には,それと同等の環境条件の下で,触針
式表面粗さ測定機を校正しなければならない。
    例 ノイズ,温度,振動,空気の流れなど。

5. 標準片

 次の標準片は,6.で示す校正に適用できる。
  − オプチカルフラット
  − 深さ用標準片(図1参照) : JIS B 0659 タイプA
  − 間隔用標準片(図2参照) : JIS B 0659 タイプC
  − 傾斜オプチカルフラット(図3参照)
  − 座標用標準片(球又は半球及び台形プリズム) : JIS B 0659 タイプE
  − 粗さ用標準片(図4参照) : JIS B 0659 タイプD
    備考 触針をプローブの測定範囲にわたって変位させたとき,触針がてこの支点に対して±0.5°以上
          回転する場合には,触針式表面粗さ測定機の校正に座標用標準片を用いることを推奨する。

6. 触針式表面粗さ測定機の計測特性

 目的とする測定に必要な触針式表面粗さ測定機の計測特性に関連
した校正項目だけを摘出する。
  例えば,横方向のパラメータの測定に対しては,輪郭曲線の縦方向成分についての校正をする必要はな
い。
6.1   残差曲線の校正 きずのないオプチカルフラットを測定することによって,残差曲線を求める。校
正は,適切な輪郭曲線及びパラメータを用いて行う[例 : Ra(算術平均粗さ),Rq(二乗平均平方根粗さ)
又はRt(粗さ曲線の最大断面高さ)を付した粗さ曲線;Wq(二乗平均平方根うねり)又はWt(うねり曲
線の最大断面高さ)を付したうねり曲線]。
    備考 この方法によって,基準案内の真直度,環境条件及び測定機のノイズなどの影響が分かる。

――――― [JIS B 0670 pdf 5] ―――――

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