JIS B 0681-2:2018 製品の幾何特性仕様（ＧＰＳ）―表面性状：三次元―第２部：用語，定義及び表面性状パラメータ

                                                                                 B 0681-2 : 2018

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 領域パラメータの定義・・・・[6]
•  5 プラトー構造表面に対するパラメータの決定・・・・[18]
•  附属書A(参考)三次元表面性状規格の背景・・・・[21]
•  附属書B(参考)GPSマトリックス・・・・[23]
•  参考文献・・・・[25]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[26]

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B 0681-2 : 2018

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工
業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済
産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 0681の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 0681-2 第2部 : 用語,定義及び表面性状パラメータ
    JIS B 0681-6 第6部 : 表面性状測定方法の分類

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 0681-2 : 2018

製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 三次元−第2部 : 用語,定義及び表面性状パラメータ

Geometrical product specifications (GPS)-Surface texture: Areal- Part 2: Terms, definitions and surface texture parameters

序文

  この規格は,2012年に第1版として発行されたISO 25178-2を基とし,技術的内容を変更して作成した
日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,製品の幾何特性仕様(GPS)の一つで,GPS規格に属し(ISO/TR 14638:1995参照),表面
性状規格チェーンのリンク番号2に関係する。三次元表面性状規格の背景については,附属書Aを参照。
この規格と他のGPS規格との関連についての詳細は,附属書Bを参照。
  この規格は,三次元表面性状の用語,概念及びパラメータについて記載する。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。
    注記 ISO/TR 14638のリンク番号2は,最新版ISO 14638:2015では,リンク番号Bに対応している。

1 適用範囲

  この規格は,三次元的な方法によって表面性状を表すための用語,定義及びパラメータについて規定す
る。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 25178-2:2012,Geometrical product specifications (GPS)−Surface texture: Areal−Part 2: Terms,
              definitions and surface texture parameters(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    ISO 17450-1:2011,Geometrical product specifications (GPS)−General concepts−Part 1: Model for
        geometrical specification and verification
    ISO/TS 16610-1:2006,Geometrical product specifications (GPS)−Filtration−Part 1: Overview and basic
        concepts
      注記 ISO/TS 16610-1:2006は2015年に廃止され,代わりにISO 16610-1:2015,Geometrical product
             specifications (GPS)−Filtration−Part 1: Overview and basic conceptsが発行されている。

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B 0681-2 : 2018

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,ISO 17450-1:2011及びISO/TS 16610-1:2006によるほか,次によ
る。
3.1   一般用語
3.1.1
実表面モデル(non-ideal surface model),スキンモデル(加工物の)(skin model)
  加工物が周囲の空間と物理的に接している表面のモデル。
    注記1 実表面モデルは,実表面をモデル化した外郭表面であり,図面などで指示された理想的な形
            体(図示外殻形体,JIS B 0672-1の2.3参照)を構成する表面モデルではない。また,高さ方
            向には厚みをもたない。
    注記2 ISO 17450-1:2011の3.2.2参照。
3.1.1.1
機械的な接触で検出する曲面(mechanical surface)
  スキンモデルから,半径rの球でエロージョンによって求めた輪郭曲面,又はスキンモデル上を半径r
の理想的な球が転がった場合の,球の中心の軌跡から得られる輪郭曲面。
    注記1 エロージョンは,原図形と構造要素との論理積をとるデータ処理の方法である。例えば,触
            針式表面粗さ測定機において,スタイラス先端球の中心軌跡として得られたデータから被測
            定面を推定する場合の,半径分のオフセット演算がそれに該当する。
    注記2 “輪郭曲面”とは,表面性状を表す点群データの総称であり,“機械的な接触で検出する曲面”
            のほか,“電磁波によって検出する曲面(3.1.1.2)”,“基礎表面性状曲面(3.1.3)”,“部分基礎
            表面性状曲面”,“S-F曲面(3.1.5)”,“S-L曲面(3.1.6)”及び“表面性状曲面(3.1.7)”も,
            この“輪郭曲面”に含まれる。
    注記3 “輪郭曲面”は,二次元の輪郭曲線方式における“輪郭曲線”に相当する。
    注記4 関数及びパラメータにおける“輪郭曲面”は,3.1.7で定義する“表面性状曲面”を指す。
    注記5 ISO 14406:2010の3.1.1参照。
3.1.1.2
電磁波によって検出する曲面(electro-magnetic surface)
  スキンモデルと電磁波との相互作用によって得られる輪郭曲面。
    注記 ISO 14406:2010の3.1.2参照。
3.1.2
座標系(specification coordinate system)
  表面性状パラメータを定義する座標系。
    注記 基準面が平面又は平面の一部である場合に,座標軸は右手直交座標系を使用する。X軸及びY
          軸がその基準面上にあり,Z軸は外側方向(実体から周囲の媒体方向)にある。この座標系を
          この規格において適用する。
3.1.3
基礎表面性状曲面(primary surface)
  規定したネスティングインデックスの下で,規定の数学モデルによって表現したときに得られる輪郭曲
面の一部分。
    注記1 この規格では,基礎表面性状曲面を得るためにSフィルタを使用している。

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                                                                                              3
                                                                                 B 0681-2 : 2018
    注記2 信号処理の分野で多用されるウェーブレット変換は,信号を逐次,周波数の低いレベルに分
            解する処理手法である。そのレベル番号が“入れ子(ネスト)”の順序に対応するため,順序
            付きの番号という意味でネスティングインデックスと表現している。ネスティングインデッ
            クスがゼロの場合は,元信号のままである。ガウシアンフィルタの場合のカットオフ値は,
            ネスティングインデックスの一例である。モルフォロジカルフィルタに対しては,ネスティ
            ングインデックスは構造要素のサイズ(例えば,球の半径)に相当し,表面波長であるカッ
            トオフ値の概念とは異なる。この規格におけるネスティングインデックスは,輪郭曲線フィ
            ルタのカットオフ値及び前述した構造要素のサイズを包含する。
    注記3 ISO/TS 16610-1:2006の3.3参照。
3.1.3.1
測得基礎表面性状曲面(primary extracted surface)
  基礎表面性状曲面から抜き取った有限個数の点群データ。
    注記 ISO 14406:2010の3.7参照。
3.1.4
輪郭曲面フィルタ(surface filter)
  輪郭曲面に適用するフィルタ。
3.1.4.1
Sフィルタ(S-filter)
  輪郭曲面から,横方向スケールの小さい成分を除去する輪郭曲面フィルタ。結果として,基礎表面性状
曲面を得る。
    注記 Sフィルタは,機械的な接触で検出する曲面(3.1.1.1),又は電磁波によって検出する曲面
          (3.1.1.2)に適用する。
3.1.4.2
Lフィルタ(L-filter)
  基礎表面性状曲面又はS-F曲面から,横方向スケールの大きい成分を除去する輪郭曲面フィルタ。
3.1.4.3
F演算(F-operation)
  基礎表面性状曲面から,形状を除去する演算。
    注記1 F演算(当てはめ演算オペレータなど)には,フィルタ処理とは非常に異なる作用をもつも
            のがある。この作用は,輪郭曲面の横方向スケールの大きさを制限することができるが,領
            域を分ける境界が非常に不明瞭である。したがって,F演算の作用は,図1のように不明瞭
            な線となっている。
    注記2 多くのLフィルタは,形状の影響を受けやすい。このようなLフィルタを適用する前に,前
            フィルタとしてのF演算が必要となる。
3.1.5
S-F曲面(S-F surface)
  F演算によって,基礎表面性状曲面から形状を除いた輪郭曲面。
    注記 図1は,S-F曲面,Sフィルタ及びF演算の間の関係を説明している。
3.1.6
S-L曲面(S-L surface)

――――― [JIS B 0681-2 pdf 5] ―――――

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