JIS B 7442:2013 規格概要
この規格 B7442は、産業用X線CT装置及びその応用に関する主な用語及び定義について規定。
JISB7442 規格全文情報
- 規格番号
- JIS B7442
- 規格名称
- 産業用X線CT装置―用語
- 規格名称英語訳
- Industrial X-ray CT systems -- Vocabulary
- 制定年月日
- 2013年11月20日
- 最新改正日
- 2018年10月22日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- 国際規格分類
ICS
- 19.100
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- ‐
- 改訂:履歴
- 2013-11-20 制定日, 2018-10-22 確認
- ページ
- JIS B 7442:2013 PDF [24]
B 7442 : 2013
pdf 目 次
ページ
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 分類・・・・[1]
- 3 用語及び定義・・・・[1]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS B 7442 pdf 1] ―――――
B 7442 : 2013
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,独立行政法人産業技術総合研究所(AIST)
から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経
て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS B 7442 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
B 7442 : 2013
産業用X線CT装置−用語
Industrial X-ray CT systems-Vocabulary
1 適用範囲
この規格は,産業用X線CT装置及びその応用に関する主な用語及び定義について規定する。
2 分類
産業用X線CT装置及びその応用に関する用語の分類は,次による。
a) 共通及び一般用語
1) 放射線及びCT一般用語
2) T性能関連用語
b) 線源系用語
c) 検出系用語
d) 走査系用語
e) 再構成系用語
f) 表示解析系用語
g) アーチファクト系用語
注記1 番号は4桁とし,1000の位の数字は大分類を表し,100の位の数字は細分類を表す。共通及
び一般用語の放射線及びCT一般用語は0001から,同じく共通及び一般用語のCT性能関連
用語は0101から,線源系用語は1001から,検出系用語は2001から,走査系用語は3001か
ら,再構成系用語は4001から,表示解析系用語は5001から,アーチファクト系用語は6001
からの番号で表す。
注記2 用語は,分類ごとに基本的な用語から並べ,関連度合いが高いものをまと(纏)めるように
配列している。
注記3 一つの用語欄において二つ以上の用語を併記してある場合には,先に記載してある用語を優
先して使用する。
3 用語及び定義
主な用語及び定義は,次による。
注記 対応英語は,参考として示す。
――――― [JIS B 7442 pdf 3] ―――――
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B 7442 : 2013
a) 共通及び一般用語
1) 放射線及びCT一般用語
番号 用語 定義 対応英語(参考)
0001 ワーク object
X線CTで撮影する被対象物。被検体,検査体,試験体,テストピ
ース,被検査物など様々な呼び方がある。
0002 線減弱係数 linear attenuation
物質に入射したX線又はγ線が,その物質内を単位距離だけ透過
したときの透過率から導かれる物質の特性を表す係数。入射線量coefficient
をI0,透過線量をI,線減弱係数を 透過距離をtとすると,
I=I0・exp(−
で表される。この式から,次の式で求める。
−1/t・ln(I/I0)
注記1 通常, cm−1である。質量減弱係数は,線減弱
係数を物質の密度で除したものである。
注記2 X線CTの断面画像は,原理的に線減弱係数の値が画像化
される。すなわち,その画素の値は,線減弱係数に対応す
る値である。医療用X線CTでは,それをCT値(ハウン
ズフィールド単位)と呼び,空気が−1 000,水が0とな
るように校正して用いるが,産業用X線CTでは必ずしも
そうではない。X線CTの断面画像が線減弱係数に対応す
る値であることから,ワークに含まれている物質(元素)
の種類が既知,又は既知のものと比較測定ができる場合,
その物質を同一と断定したり,密度を算出したりすること
ができることもある。線減弱係数は,物質(元素)の材質,
密度,及びX線又はγ線のエネルギーによって変化し,吸
収端と呼ばれる特異点を除いて,一般にエネルギーが高い
ほど小さな値となる。
0003 CT, CT,
ワーク断面の全周方向から得た放射線投影データによって画像を
コンピュータ断 再構成し,断面画像を得る手法。 computed
層撮影法 tomography
0004 トモグラム, tomogram
コンピュータ断層撮影法で撮影した断面画像。一般的には,得ら
断面画像 れたX線減弱係数の分布を輝度変換した画像として表す。
0005 産業用CT値 産業用X線CTの画像再構成の結果,各画素に割り付けられた数 industrial CT
値。ワークの線減弱係数と関係する数値。 number
注記 医療用X線CTではCT値(ハウンズフィールド単位)で表
現されるが,産業用X線CTでは任意単位が一般的である。
0006 ファントム phantom
装置の様々な性能を評価したり,校正データを取得したりするた
めの特別なワーク。評価したい性能項目によって,ワークの材質
及び形状が工夫されている。
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B 7442 : 2013
番号 用語 定義 対応英語(参考)
0007 線量 dose
放射線の量。X線CTの場合,X線源から照射される照射線量,物
質による吸収線量,人体への影響を考慮した線量当量などがある。
注記1 これらの線量は,それぞれ次の単位で表す。
− 照射線量 : クーロン毎キログラム(C/kg)
− 吸収線量 : グレイ(Gy)
− 線量当量 : シーベルト(Sv)
注記2 照射線量はX線の線源の強さの程度を表しているのでは
なく,照射された空気への影響を表している。電離作用で
生じた単位質量当たりの電荷量を照射線量といい,照射の
大きさを表現する。吸収線量は,放射線を受けた物体が吸
収した単位質量当たりのエネルギー。つまり,グレイ(Gy)
はエネルギーに視点をおいた単位である。エネルギーを質
量で除すので,1[Gy]=1[J]/[kg]である。線量当量は人体に
対する被ばく(曝)量を評価する単位であり,吸収線量を,
放射された部位又は放射線の種類によって補正した量。線
量当量の単位は,シーべルト(Sv)である。線量当量と吸
収線量との関係は,吸収線量に線質係数及び修正係数を乗
じたものが,線量当量となる。
0008 吸収コントラス absorption contrast
ワークによるX線の減弱率を測定して,ワークの線減弱係数分布
ト断層撮影 を画像再構成する断層撮影方法。 tomography
注記 吸収コントラスト断層撮影を,一般にCTという。位相コン
トラスト断層撮影との対比でこの用語が使われる。
0009 位相コントラス phase contrast
X線がワークを透過する際に生じる位相変化(位相シフト)によ
ト断層撮影 って僅かに屈折する現象を利用し,屈折したX線のコントラスト tomography
を強調した透過画像を得て,それをもとに断面画像を得る手法。
注記 屈折コントラスト法は,位相変化を取り出す一つの方法であ
る。
0010 マルチスライス multi slice CT
ライン検出器を多段でもち,1回の走査で複数の断面画像が得られ
CT るCT装置。
0011 ラミノグラフィ laminography
X線源及び検出器がワークに対して相対的な運動をする場合にお
いて,X線源の直線軌道走査,円軌道走査などの走査軌道を含む
面と,検出器における検出面との間にある任意の平面における断
面画像を撮影する方法。
0012 ラミノグラム ラミノグラフィによって撮影・再構成された画像。 laminogram
0013 トモシンセシス tomosynthesis
ワークを異なる角度から複数撮影し,線源と検出器との間の任意
の平面における断面画像を得る方法。ラミノグラフィと同義に用
いられる。又は,上記撮影方法を実現する装置で,撮影及び再構
成された画像を示す場合もある。
――――― [JIS B 7442 pdf 5] ―――――
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