JIS B 7912-1:2014 測量機器の現場試験手順―第１部：理論

                                                                                 B 7912-1 : 2014

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[1]
•  4 測定の不確かさ評価・・・・[7]
•  4.1 一般・・・・[7]
•  4.2 標準不確かさのタイプA評価・・・・[8]
•  4.3 標準不確かさのタイプB評価・・・・[13]
•  4.4 不確かさ伝ぱ(播)の法則及び合成不確かさ・・・・[14]
•  4.5 拡張不確かさ・・・・[15]
•  5 不確かさの報告・・・・[16]
•  6 不確かさ評価の要約・・・・[16]
•  7 統計的検定・・・・[17]
•  7.1 一般・・・・[17]
•  7.2 問a) : 標準偏差sは,規定の値σ0に等しい又は小さいか?・・・・[17]
•  7.3 問b) : 二つのサンプルは,同じ母集団に属しているか?・・・・[17]
•  7.4 問c) 及び問d) : パラメータykの有意性の検定・・・・[18]
•  附属書A(参考)確率分布・・・・[19]
•  附属書B(規定)χ2分布,F分布及びt分布・・・・[20]
•  附属書C(参考)計算例・・・・[21]
•  参考文献・・・・[29]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[30]

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B 7912-1 : 2014

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本
測量機器工業会(JSIMA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS B 7912-1:2004は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS B 7912の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7912-1 第1部 : 理論
    JIS B 7912-2 第2部 : レベル
    JIS B 7912-3 第3部 : セオドライト
    JIS B 7912-4 第4部 : 光波測距儀
    JIS B 7912-6 第6部 : 回転レーザ
    JIS B 7912-8 第8部 : GNSS(RTK)

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7912-1 : 2014

測量機器の現場試験手順−第1部 : 理論

Optics and optical instruments-Field procedures for testing geodetic and surveying instruments-Part 1: Theory

序文

  この規格は,2010年に第2版として発行されたISO 17123-1を基とし,統計的検定についてはISO 2854
及びJIS Z 9041-2の表現に合わせるため,技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,測量機器の現場での測定精度を評価するときに用いる理論について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO 17123-1:2010,Optics and optical instruments−Field procedures for testing geodetic and surveying
              instruments−Part 1: Theory(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    ISO/IEC Guide 98-3:2008,Uncertainty of measurement−Part 3: Guide to the expression of uncertainty in
        measurement (GUM: 1995)
    ISO/IEC Guide 99:2007,International vocabulary of metrology−Basic and general concepts and associated
        terms (VIM)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,ISO/IEC Guide 99:2007によるほか,次による。
3.1   一般計測用語
3.1.1
(測定できる)量[(measurable)   uantity]
  数値と計量参照(reference)との組合せとして表すことができる大きさをもつ,現象又は物体若しくは
物質の性質。
  例1    一般的な意味での量 長さ,時間,温度

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B 7912-1 : 2014
  例2    特定な意味での量 ある棒の長さ
3.1.2
値(value),量の値(value of a quantity, quantity value)
  量の大きさを表現する,数値と計量参照との組合せ。
    例 ある棒の長さ 3.24 m
3.1.3
真の値(true value),量の真値(true value of a quantity),真の量の値(true quantity value)
  ある特定の量の定義と合致する値。
    注記 これは完全な測定によって得られる量である。ただし,この値は原理的にも実際にも知ること
          ができない。
3.1.4
参照値(reference value),量の参照値(reference quantity value)
  同じ種類の量の値と比較する基準となる量の値。
    注記 量の参照値は,通常未知である測定対象量の真値とすることができる。測定の不確かさを含む
          量の参照値は,参照測定手順によって通常規定される。
3.1.5
測定(measurement)
  ある量に合理的に結び付けることが可能な一つ以上の量の値を,実験的に得る手順。
    注記 測定は,量の比較及び実在物の計数を含む。
3.1.6
測定原理(measurement principle)
  測定の基礎となる現象(測定の科学的根拠)。
    注記 測定原理とは,距離測定に適用されるドップラー効果のような物理的現象である。
3.1.7
測定方法(measurement method)
  測定に用いる操作の論理的構成の一般的な記述。
    注記 測定の方法は,“差動法”,“直接測定法”など様々な方法を適用することができる。
3.1.8
測定対象量(measurand)
  測定によって求めたい量。
    例 トータルステーションによって決定された座標x。
3.1.9
指示値(indication)
  測定器又は測定システムによって与えられた量の値。
    注記 指示値と測定された量とに相当する値は,同じ種類の量の値である必要はない。
3.1.10
測定結果(measurement result),測定の結果(result of measurement)
  利用し得る関連情報を伴った,測定対象量に結び付けられる量の値の集合。
    注記 測定結果は,指示値,補正されない結果又は補正済みの結果を表す。
  測定結果は,一般に単一の測定量の値及び測定の不確かさで表される。

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                                                                                 B 7912-1 : 2014
3.1.11
測定された量の値(measured quantity value)
  測定結果を代表する量の値。
3.1.12
誤差(error),測定の誤差(measurement error)
  測定された量の値から量の参照値を引いたもの。
3.1.13
偶然誤差(random error),偶然測定誤差(random measurement error)
  複数回の測定において,予測が不可能な変化をする測定誤差の成分。
    注記1 繰返し測定の集合の偶然測定誤差は,一般にゼロであるとされる期待値及びその分散によっ
            て示される分布を形成する。
    注記2 誤差の要因を含めてrandom effectという用語を用いることがある。
3.1.14
系統誤差(systematic error),測定の系統誤差(systematic error of measurement)
  複数回の測定において,一定の,又は,予測可能な変化をする測定誤差の成分。
    注記1 系統誤差及びその原因は,既知又は未知の場合がある。補正を測定の既知の系統誤差の修正
            に適用することができる。
    注記2 誤差の要因を含めてsystematic effectという用語を用いることがある。
3.2   この規格に特有の用語
3.2.1
測定の精確さ(accuracy of measurement)
  測定された量の値と,測定対象量の真の値との一致の度合い。
    注記1 “精確さ”は,定性的な概念であり,数値で表現することはできない。
    注記2 “精確さ”は,系統誤差及び偶然誤差に対して正反対の関係がある。
3.2.2
標準偏差(実験標準偏差)(experimental standard deviation)
  測定結果の妥当な分布の標準偏差の推定値。
    注記1 実験標準偏差は,偶然の影響に起因する不確かさの尺度である。
    注記2 これらの影響で生じた正確な値を知ることができない。実験標準偏差の値は,通常,統計的
            手法で推定される。
    注記3 測定結果から求めた標準偏差であることを明確にしたい場合,“実験標準偏差”を用いる。
3.2.3
精密さ(precision),測定の精密さ(measurement precision)
  特定の条件下で,同一又は類似の対象を繰返し測定によって得られた測定量の値の密集度。
    注記 測定の精密さは,通常,特定の測定条件下における実験標準偏差のような測定の不正確さとし
          て表される。
3.2.4
繰返し条件(repeatability condition),測定の繰返し条件(repeatability condition of measurement)
  繰返し測定を行う際の条件。
    注記 同一又は類似対象の繰返し測定を短時間で行う際,考慮すべき条件は次を含む。

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