JIS B 7912-2:2006 測量機器の現場試験手順―第２部：レベル

                                                                                 B 7912-2 : 2006

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日
本工業規格である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO 17123-2:2001,Optics and optical
instruments−Field procedures for testing geodetic and surveying insturuments−Part 2:Levelsを基礎として用い
た。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
  JIS B 7912-2には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考)簡易測定法の例
    附属書B(参考)標準測定法の例
    附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表
  JIS B 7912の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS B 7912-1 第1部 : 理論
    JIS B 7912-2 第2部 : レベル
    JIS B 7912-3 第3部 : セオドライト
    JIS B 7912-4 第4部 : 光波測距儀

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS B 7912-2 pdf 1] ―――――

B 7912-2 : 2006

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 一般・・・・[2]
•  4.1 要求事項・・・・[2]
•  4.2 測定手順1: 簡易測定手順・・・・[2]
•  4.3 測定手順2: 標準測定手順・・・・[2]
•  5. 簡易測定手順・・・・[3]
•  5.1 測定場所の設定・・・・[3]
•  5.2 測定・・・・[3]
•  5.3 計算・・・・[4]
•  6. 標準測定手順・・・・[5]
•  6.1 測定場所の設定・・・・[5]
•  6.2 測定・・・・[5]
•  6.3 計算・・・・[6]
•  6.4 統計的検定・・・・[7]
•  附属書A(参考)簡易測定法の例・・・・[9]
•  附属書B(参考)標準測定法の例・・・・[11]
•  附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[14]

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           B 7912-2 : 2006

測量機器の現場試験手順−第2部 : レベル

Field procedures for testing geodetic and surveying instruments− Part 2:Levels

序文

 この規格は,2001年に第1版として発行されたISO 17123-2,Optics and optical instruments−Field
procedures for testing geodetic and surveying insturuments−Part 2:Levelsを翻訳し,技術的内容を変更して作成
した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,原国際規格を変更している事項である。変
更の一覧表をその説明を付けて,附属書1(参考)に示す。

1. 適用範囲

 この規格は,レベルの屋外での精度を評価するときに用いられる方法について規定する。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          ISO 17123-2:2001,Optics and optical instruments−Field procedures for testing geodetic and surveying
              instruments−Part 2:Levels (MOD)

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 8101-1 統計−用語と記号−第1部 : 確率及び一般統計用語
      備考 ISO 3534-1:1993 Statistics-Vocabulary and symbols−Part 1: Probability and general statistical
             termsからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
    JIS Z 8103 計測用語
    ISO 4463-1 Measurement methods for building−Setting-out and measurement−Part 1:Planning and
        organization,measuring procedures,acceptance criteria
    ISO 7077 Measuring methods for building−General principles and procedures for the verification of
        dimensional compliance
    ISO 7078 Building construction - Procedures for setting out,measurement and surveying−Vocabulary and
        guidance notes
    ISO 12858-1 Optics and optical instruments−Ancillary devices for geodetic instruments−Part 1 :Invar
        levelling staffs

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS Z 8101-1及びJIS Z 8103によるほか,次による。
a) 視軸偏差 視準軸の水平からの誤差。

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B 7912-2 : 2006
b) ゼロ点オフセット 標尺底面からの10 cm目盛の誤差(ISO 12858-1による。)。

4. 一般

4.1 要求事項

 使用者は,測量を始める前に使用する測量機器が要求された精度を満たしているかどう
かを調べることが重要である。
  レベルとその附属品とは,製造業者の取扱説明書に記載されている方法によって常に調整した状態で使
用しなければならない。また,三脚と標尺とは製造業者の推奨する品を用いることとする。この試験は気
象条件,特に温度こう配の影響を受けるため,曇天下で微風のある天候が最も良い結果が得られる。もち
ろん測量する場所によって,気象条件が変化する可能性があるため,測量時の実際の気象条件及びそのと
きの周囲状況を記録しておくべきである。試験時の条件は要求された測量が実際に実行されるときの予想
される条件に合わすべきである(ISO 7077及びISO 7078による。)。
  屋内で行われる試験結果は大気の諸影響をほとんど受けないが,そのような試験の費用は高いため,実
用的ではない。さらに,屋内における測定は屋外で行った場合より高い精度をもたらしてしまう。この規
格は,5.及び6.で規定するとおり現場における二つの異なった測定手順について規定している。使用者は,
その仕事の特定要求条件に最も適している測定手順を選ぶものとする。

4.2 測定手順1: 簡易測定手順

 簡易測定手順は,使用するレベルの測定結果がISO 4463-1に従った許
容偏差の範囲に入っているかどうかを評価する方法を示している。
  この測定方法は,通常,ある範囲を水平にするための作業,又は視準距離が不均一な建築及び工事にお
ける水準測量に使用されるレベルの精度を確認する方法を意図している。
  この簡易測定手順は,最少の観測数で行う。したがって,信頼性の高い標準偏差を得ることはできない。
現場条件の下で,より正確な評価が必要であるならば,6.で示すようなより厳密な標準測定手順を採用す
ることを勧める。この測定方法は,約60 m離れた2地点の高低差を求める方法である。つまり,2地点の
中間にレベルを設置し測定して得た高低差と,不等距離に設置して得た高低差との差が,実施する測量で
規定された許容偏差(ISO 4463-1による。)に合うかどうかを評価するものである。

4.3 測定手順2: 標準測定手順

 標準測定手順は,現場条件の下で使用するレベルとその附属品で得られ
る最も良い測定精度を決定するために採用されるもので,等距離での設置(最大の変化10 %)が必要であ
る。これは通常,より正確な水準測量,路線水準や他の主要な水準測量(例えば,土木水準測量)で使用
するレベルの精度を確認する方法を意図している。
  視準距離は30 mを推奨するが,要求される測量の精度に合わせる場合,又はより高い水準測量精度を
求められるときは,この距離を30 mより長めにとることを薦める。
  標準測定手順は,等距離観測だけで行う。この測定手順でレベルの視軸偏差は検出されない。しかし,
この視軸偏差は,測定の標準偏差及び標尺のゼロ点オフセットには何の影響も与えない。実際に測量を実
施する前には,製造業者の取扱説明書によって視軸偏差を確認すべきである。
  この規格の6.で規定している測定手順は,使用するレベルの精度を決定できるように考えられている。
この精度の測定結果は,1 km往復に相当する水準測量の標準偏差として次のように表現する。
  sISO−LEV
  さらに,この方法は,次の問題を決定するために使用する。
  − 1台の機械,及びその附属品を同一の観測者が使用するときのレベルの精度測定
  − 時間が経過した場合の1台の機械の精度測定
  − よく似た現場条件で複数のレベルを用いる場合の各々の機械が達成可能な精度を比較するための精

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                                                                                 B 7912-2 : 2006
      度測定
  統計的検定は,得られた標準偏差sが,その機械の理論上の標準偏差σの母集団に属するか否か,二つ
の測定サンプルが同じ母集団に属するか否か,標尺のゼロ点オフセットの差δが,ゼロとみなせるかに適
用される(6.4による。)。

5. 簡易測定手順

5.1 測定場所の設定

 屈折の影響をできるだけ小さくするために,なるべく水平な場所を選ぶ。二つの
測点A,Bを,距離約60 m(又は実際に使用する現場に応じた距離)離して設置する。測定の間,標尺は
確実に信頼できる結果を得るために,安定な場所にしっかりと固定し設置する。

5.2 測定

 測定を始める前に,機械は周囲温度に順応させる。温度差1 ℃当たりの順応時間は約2分で
ある。
  なお,使用者は,測定の前に視軸偏差を確認すべきである。
  2セットの測定を行うものとし,屈折の影響及び視軸偏差の影響を最小にするため最初のセットでは測
点AとBとの間のほぼ中間の位置(30 m)にレベルを設置する(図1)。ここに,A点の標尺の読みを後視の
読み値xA,j,B点の標尺の読みを前視の読み値xB,jとする(j=1, ... ,10)。測定は後視,前視の順に繰り返
し5回読み(xA,1,xB,1, ... ,xA,5,xB,5),次に,レベルの位置を三脚ごとわずかに移動させて設置し,前視
後視順に繰り返し5回読む(xB,6,xA,6,...,xB,10,xA,10)。以上各10回の読みを1セットとする。
  2セット目の測定は,レベルを測点Aから約10 mの地点(測点Bから約50 m)に設置する(図2)。1
セット目と同様に測定を行う。このときの測定番号jは11,... ,20とするので,2セット目の読み値はxA,11,
xB,11,...,xA,15,xB,15;xA,16,xB,16,...,xB,20,xA,20となる。
                              図1 簡易測定手順の1セット目の配置

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