JIS C 2110-1:2016 固体電気絶縁材料―絶縁破壊の強さの試験方法―第１部：商用周波数交流電圧印加による試験

                                                                C 2110-1 : 2016 (IEC 60243-1 : 2013)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般的事項・・・・[3]
•  5 電極及び試験片・・・・[3]
•  5.1 一般的事項・・・・[3]
•  5.2 試験片の表面に垂直方向の試験・・・・[4]
•  5.3 一般材料の沿面方向及び積層材料の沿層方向の試験・・・・[6]
•  5.4 試験片・・・・[7]
•  5.5 電極間距離・・・・[7]
•  6 試験前の状態調節・・・・[7]
•  7 周囲媒質・・・・[7]
•  7.1 一般的事項・・・・[7]
•  7.2 高温の大気中における試験・・・・[8]
•  7.3 液体中における試験・・・・[8]
•  7.4 固体媒質中における試験・・・・[8]
•  8 電気機器類・・・・[8]
•  8.1 電源・・・・[8]
•  8.2 電圧の測定・・・・[9]
•  9 試験手順・・・・[9]
•  10 昇圧方式・・・・[9]
•  10.1 短時間(急速昇圧)試験・・・・[9]
•  10.2 20秒段階昇圧試験・・・・[10]
•  10.3 低速昇圧試験(120秒240秒) 1010.4 60秒段階昇圧試験・・・・[11]
•  10.5 超低速昇圧試験(300秒600秒) 1110.6 保証試験・・・・[11]
•  11 絶縁破壊の判定基準・・・・[11]
•  12 試験回数・・・・[11]
•  13 試験報告・・・・[12]
•  附属書A(参考)試験データの取扱方法・・・・[19]

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――――― [JIS C 2110-1 pdf 1] ―――――

C 2110-1 : 2016 (IEC 60243-1 : 2013)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS C 2110-1:2010は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 2110の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 2110-1 第1部 : 商用周波数交流電圧印加による試験
    JIS C 2110-2 第2部 : 直流電圧印加による試験
    JIS C 2110-3 第3部 : インパルス電圧印加による試験

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――――― [JIS C 2110-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 2110-1 : 2016
                                                                          (IEC 60243-1 : 2013)

固体電気絶縁材料−絶縁破壊の強さの試験方法−第1部 : 商用周波数交流電圧印加による試験

Solid electrical insulating materials-Test methods for electric strength- Part 1: Tests at power frequencies

序文

  この規格は,2013年に第3版として発行されたIEC 60243-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,固体電気絶縁材料の商用周波数(48 Hz62 Hz)の交流電圧による短時間の絶縁破壊の強
さの試験方法について規定する。液体及び気体電気絶縁材料は,この規格の適用範囲には含まれないが,
測定時の含浸材又は周囲媒質として規定する場合がある。
    注記1 この規格は,固体電気絶縁材料の表面に平行方向の絶縁破壊電圧の試験方法も含んでいる。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 60243-1:2013,Electric strength of insulating materials−Test methods−Part 1: Tests at power
                frequencies(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 2103 電気絶縁用ワニス試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60464-2,Varnishes used for electrical insulation−Part 2: Methods of test
             (MOD)
    JIS C 2105 電気絶縁用無溶剤液状レジン試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60455-2,Resin based reactive compounds used for electrical insulation−Part 2:
             Methods of test(MOD)
    JIS C 2133 電気絶縁用チューブの試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60684-2,Flexible insulating sleeving−Part 2: Methods of test(IDT)
    JIS C 2142 固体電気絶縁材料−試験前及び試験時における標準状態

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C 2110-1 : 2016 (IEC 60243-1 : 2013)
      注記 対応国際規格 : IEC 60212,Standard conditions for use prior to and during the testing of solid
             electrical insulating materials(MOD)
    JIS C 2320:2010 電気絶縁油
      注記 対応国際規格 : IEC 60296,Fluids for electrotechnical applications−Unused mineral insulating oils
             for transformers and switchgear及びIEC 60836,Specifications for silicone liquids for electrical
             purposes(全体評価 : MOD)
    JIS K 7151 プラスチック−熱可塑性プラスチック材料の圧縮成形試験片
      注記 対応国際規格 : ISO 293,Plastics−Compression moulding of test specimens of thermoplastic
             materials (IDT)
    JIS K 7152-3 プラスチック−熱可塑性プラスチック材料の射出成形試験片−第3部 : 小形角板
      注記 対応国際規格 : ISO 294-3,Plastics−Injection moulding of test specimens of thermoplastic materials
             −Part 3: Small plates(IDT)
    JIS K 7154(規格群) プラスチック−熱硬化性樹脂成形材料の射出成形試験片
      注記 対応国際規格 : ISO 10724 (all parts),Plastics−Injection moulding of test specimens of
             thermosetting powder moulding compounds (PMCs)(IDT)
    ISO 295,Plastics−Compression moulding of test specimens of thermosetting materials
    IEC 61099,Insulating liquids−Specifications for unused synthetic organic esters for electrical purposes

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
絶縁破壊(electric breakdown)
  電圧印加中に試験片の絶縁性能が著しく低下し,試験回路内の電流によって遮断器が動作した状態。
    注記 試験片に装着した電極の直下以外に,その外側で周囲媒質の部分放電によって試験片が絶縁破
          壊することもある。
3.2
フラッシオーバ(flashover)
  電圧印加中に試験片周囲の気体又は液体絶縁媒質が絶縁性能を喪失し,試験回路の電流によって遮断器
が動作した状態。
    注記 試験片を貫通する炭化路又は破壊孔の有無によって,絶縁破壊とフラッシオーバとを判別する。
3.3
絶縁破壊電圧(breakdown voltage)
3.3.1
  (連続昇圧法では)規定の試験条件で試験片が絶縁破壊を起こしたときの電圧。
3.3.2
  (段階昇圧法では)規定の保持時間にわたり,試験片が絶縁破壊を起こさない最も高い電圧。
3.4
絶縁破壊の強さ(electric strength)
  絶縁破壊電圧を,試験に用いた二つの電極間の距離で除した値。
    注記 試験電極間の距離は,特に規定がない限り,5.5による。

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                                                                C 2110-1 : 2016 (IEC 60243-1 : 2013)

4 一般的事項

  この規格によって得られる絶縁破壊の強さの測定の結果は,材料の処理条件,製造条件,劣化条件,又
は環境条件に起因する絶縁破壊の強さの通常の特性からの変化及び偏差を知る上で有用である。ただし,
実使用状態における絶縁材料の性能の直接評価には適さない。
  絶縁破壊の強さの測定値は,次の要因を始めとする多くの要因によって変化する。
a) 試験片の状態 試験片の状態の例を,次に示す。
  1) 試験片の厚さ,均一性及び機械的ひずみの有無
  2) 試験片の状態調節,特に前もって行った乾燥及び含浸処理
  3) 吸蔵ガス,水分又はその他の汚損の有無
b) 試験条件 試験条件の例を,次に示す。
  1) 印加電圧の周波数,波形及び昇圧速度又は試験電圧の印加時間
  2) 周囲温度,気圧及び湿度
  3) 試験用電極の形状,寸法及び熱伝導率
  4) 周囲媒質の電気的性質及び熱的性質
  試験に供する新規の絶縁材料を対象とする場合には,これら全ての要因の影響を考慮することが望まし
い。この規格は,材料間の迅速な相対比較,品質管理などの目的で使用することに配慮して,特定の条件
を規定している。
  異なる方法で試験した結果を直接比較することはできないが,材料の相対的な絶縁破壊の強さに関する
知見を得ることは差し支えない。多くの材料の絶縁破壊の強さの測定値は,電極間の試験片の厚さが大き
くなるほど,また,電圧印加時間が長くなるほど低下する。
  多くの材料において,絶縁破壊の強さの測定値は,絶縁破壊に至るまでの沿面放電の強さ及びその持続
時間に著しく左右される。試験電圧以下において部分放電を生じないように設計を行うためには,放電を
伴わない絶縁破壊の強さを知ることが重要ではあるが,この規格の試験方法は一般にそのような目的には
合致しない。
  高い絶縁破壊の強さをもつ材料であっても,必ずしも長期間にわたる劣化過程に耐えるとは限らない。
例えば,部分放電による熱,浸食,又は化学的な劣化若しくは水分の存在下における電気化学的な劣化に
よって,実使用状態においては,はるかに低い加圧電圧で絶縁破壊に至ることがある。

5 電極及び試験片

5.1 一般的事項

  金属電極の表面は,常に滑らかで,かつ,清浄で,きずのない状態を維持する。板状及びシート状試験
片の表面に垂直方向の試験用電極配置を図1に示す。
    注記1 電極の表面状態の維持は,薄い試験片を試験する場合に特に重要である。絶縁破壊に伴う電
            極表面の損傷を少なくするには,ステンレス鋼製の電極を用いるのがよい。
    注記2 薄い材料を試験する場合は,電極の自重程度の比較的軽い圧力とする。若干反りのある材料
            には,試験片に損傷を与えない程度に,材料表面が電極に密着するように圧力をかけて使用
            することが望ましい。
  電極のリード線は電極に傾斜及び移動が起きないようにするか,又は試験片に加わる圧力に影響を及ぼ
すことのないようにする。また,試験片近傍の電界分布に影響を与えてはならない。
  非常に薄いフィルム(厚さ5 μm未満)を試験する場合には,これらの材料の規格に電極を規定すると

――――― [JIS C 2110-1 pdf 5] ―――――

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