JIS C 2570-1:2015 直熱形ＮＴＣサーミスタ―第１部：品目別通則

                                                                                 C 2570-1 : 2015

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 一般事項・・・・[1]
•  1.1 適用範囲・・・・[1]
•  1.2 引用規格・・・・[1]
•  2 技術データ・・・・[4]
•  2.1 単位,記号及び専門用語・・・・[4]
•  2.2 用語及び定義・・・・[4]
•  2.3 推奨値及び耐候性カテゴリ・・・・[12]
•  2.4 表示・・・・[13]
•  3 品質評価手順・・・・[13]
•  4 試験及び測定手順・・・・[13]
•  4.1 一般事項・・・・[13]
•  4.2 標準試験状態・・・・[14]
•  4.3 乾燥及び後処理・・・・[14]
•  4.4 取付け(表面実装形NTCサーミスタに適用)・・・・[14]
•  4.5 外観検査及び寸法検査・・・・[16]
•  4.6 ゼロ負荷抵抗値・・・・[16]
•  4.7 B定数又は抵抗比・・・・[17]
•  4.8 絶縁抵抗値(絶縁形NTCサーミスタに適用)・・・・[17]
•  4.9 耐電圧(絶縁形NTCサーミスタに適用)・・・・[19]
•  4.10 抵抗-温度特性・・・・[20]
•  4.11 熱放散定数δ・・・・[20]
•  4.12 周囲温度変化による熱時定数τa・・・・[22]
•  4.13 自己発熱からの冷却による熱時定数τc・・・・[22]
•  4.14 端子強度(表面実装形NTCサーミスタ以外に適用)・・・・[23]
•  4.15 はんだ耐熱性・・・・[24]
•  4.16 はんだ付け性・・・・[25]
•  4.17 温度急変・・・・[26]
•  4.18 振動・・・・[26]
•  4.19 バンプ・・・・[27]
•  4.20 衝撃・・・・[27]
•  4.21 自然落下(個別規格に規定がある場合)・・・・[27]
•  4.22 二液槽温度急変(個別規格に規定がある場合)・・・・[27]
•  4.23 低温(耐寒性)(個別規格に規定がある場合)・・・・[28]
•  4.24 高温(耐熱性)(個別規格に規定がある場合)・・・・[29]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 2570-1 pdf 1] ―――――

C 2570-1 : 2015

pdf 目次

ページ

•  4.25 高温高湿(定常)・・・・[29]
•  4.26 耐久性・・・・[30]
•  4.27 固着性(表面実装形NTCサーミスタに適用)・・・・[34]
•  4.28 耐プリント板曲げ性(表面実装形NTCサーミスタに適用)・・・・[35]
•  4.29 部品の耐溶剤性・・・・[35]
•  4.30 表示の耐溶剤性・・・・[35]
•  4.31 塩水噴霧(個別規格に規定がある場合)・・・・[36]
•  4.32 封止(個別規格に規定がある場合)・・・・[36]
•  4.33 温湿度組合せ(サイクル)(個別規格に規定がある場合)・・・・[36]
•  附属書A(参考)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)などに用いる場合のIEC 60410の抜取計画及び手順の説明・・・・[37]
•  附属書B(規定)電子機器用コンデンサ及び抵抗器のための個別規格を用意するための規則・・・・[38]
•  附属書C(参考)直熱形NTCサーミスタの測定のための取付方法・・・・[39]
•  附属書Q(規定)IEC電子部品品質認証制度(IECQ)に用いる場合の品質評価手順・・・・[40]
•  附属書JA(参考)直熱形NTCサーミスタの図記号・・・・[43]
•  附属書JB(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[44]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 2570-1 pdf 2] ―――――

                                                                                 C 2570-1 : 2015

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電子
情報技術産業協会(JEITA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。これによって,JIS C 2570-1:2006は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 2570の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 2570-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 2570-2 第2部 : 品種別通則−表面実装形NTCサーミスタ

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS C 2570-1 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                           C 2570-1 : 2015

直熱形NTCサーミスタ−第1部 : 品目別通則

Directly heated negative temperature coefficient thermistors- Part 1: Generic specification

序文

  この規格は,2008年に第2版として発行されたIEC 60539-1を基とし,我が国の実情に合わせるため,
技術的内容を変更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JBに示す。また,附属書JAは対応国際規格にはない事項であ
る。

1 一般事項

1.1 適用範囲

  この規格は,半導体特性をもつ遷移金属酸化物によって作られる直熱形の負温度係数サーミスタ(以下,
NTCサーミスタという。)の品質評価,また,その他の目的として,品種別通則及び個別規格で用いる用
語,検査手順及び試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 60539-1:2008,Directly heated negative temperature coefficient thermistors−Part 1: Generic
              specification(MOD)
            なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
          ことを示す。

1.2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 0617(規格群) 電気用図記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60617 (all parts),Graphical symbols for diagrams(MOD)
    JIS C 5005-2:2010 品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式
        の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)
    JIS C 5062:2008 抵抗器及びコンデンサの表示記号
      注記 対応国際規格 : IEC 60062,Marking codes for resistors and capacitors(MOD)
    JIS C 6484:2005 プリント配線板用銅張積層板−耐燃性ガラス布基材エポキシ樹脂
      注記 対応国際規格 : IEC 61249-2-7,Materials for printed boards and other interconnecting structures−
             Part 2-7: Reinforced base materials clad and unclad−Epoxide woven E-glass laminated sheet of

――――― [JIS C 2570-1 pdf 4] ―――――

2
C 2570-1 : 2015
             defined flammability (vertical burning test), copper-clad(MOD)
    JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing−Part 1: General and guidance及び
             Amendment 1:1992(MOD)
    JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : 
        A)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)
    JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : 
        B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
             (IDT)
    JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6: 1995,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(MOD)
    JIS C 60068-2-11:1989 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-11:1981,Basic environmental testing procedures−Part 2-11: Tests−
             Test Ka: Salt mist(IDT)
    JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:1984,Basic environmental testing procedures−Part 2-14: Tests−
             Test N: Change of temperature及びAmendment 1:1986(MOD)
    JIS C 60068-2-17:2001 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2-17: Tests−
             Test Q: Sealing(IDT)
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:1979,Basic environmental testing procedures−Part 2-20: Tests−
             Test T: Soldering及びAmendment 2:1987(MOD)
    JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)
    JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:1987,Basic environmental testing procedures−Part 2-27: Tests−
             Test Ea and guidance: Shock(MOD)
    JIS C 60068-2-31:2013 環境試験方法−電気・電子−第2-31部 : 落下試験及び転倒試験方法(試験記
        号 : Ec)
      注記 対応国際規格で引用しているIEC 60068-2-32:1975,Environmental testing−Part 2-32: Tests−
             Test Ed: Free fall及びAmendment 2:1990は,IEC 60068-2-31:2008,Environmental testing−Part
             2-31: Tests−Test Ec: Rough handling shocks, primarily for equipment-type specimensに置き換え
             られているため,このIEC 60068-2-31に対応するJIS C 60068-2-31を採用した。
    JIS C 60068-2-38:1988 環境試験方法(電気・電子)温湿度組合せ(サイクル)試験方法

――――― [JIS C 2570-1 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6