JIS C 5005-2:2010 品質評価システム―第２部：電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用（統計的工程品質限界の評価手順）

                                                                C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 抜取検査システム・・・・[3]
•  4.1 ロットの構成及び識別・・・・[3]
•  4.2 サンプルの抜取り・・・・[3]
•  4.3 抜取検査方式・・・・[3]
•  5 合格及び不合格・・・・[5]
•  5.1 合格判定基準・・・・[5]
•  5.2 不合格ロットの処置・・・・[5]
•  6 統計的工程品質限界(SVQL)・・・・[5]
•  6.1 一般事項・・・・[5]
•  6.2 SVQLの算出・・・・[5]
•  附属書A(参考)信頼水準60 %における100万個当たりの不適合品率(ppm)で示す統計的工程品質限界(SVQL)の推定・・・・[7]
•  附属書B(参考)この規格とJIS Z 9015-1との関係・・・・[11]
•  附属書C(参考)この規格の適用事例(IEC/TC40文書における評価水準EZのロットごとの検査)・・・・[13]

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C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)及
び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                                JIS
                                                                           C 5005-2 : 2010
                                                                          (IEC 61193-2 : 2007)

品質評価システム−第2部 : 電子部品及び電子パッケージのための抜取検査方式の選択及び活用(統計的工程品質限界の評価手順)

Quality assessment systems-Part 2: Selection and use of sampling plans for inspection ofelectronic components and packages

序文

  この規格は,2007年に第1版として発行されたIEC 61193-2を基に,技術的内容及び対応国際規格の構
成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  製品の高い品質水準を達成するためには,品質を安定させ,品質水準を監視し,更に,工程改善を進め
るために,製造工程での重要特性の全数検査及び統計的手法を利用した工程管理が必要である。
  抜取検査は,工程管理が効果的に機能しているかどうかを検証するための一つの手段である。
  今日の電気機器及び電子機器に用いる製品の品質水準は,不適合品ゼロ又はそれに近い品質水準を期待
されている。不適合品ゼロに近い品質水準を抜取検査だけで評価することは,検査コストの不当な増加に
つながるため,製造工程での効果的な工程管理と合格判定数(合格許容不適合数)ゼロの抜取検査とを組
み合わせることが必す(須)である。
  この規格は,不適合品の流出を防ぐための適切な工程管理の下で製造された電子部品,電子パッケージ
及び電子モジュールの検査のための抜取検査システム及び方式を提供する。
    注記 この規格が提供する抜取検査システムは,JIS Z 9015-1を基にして,製造業者だけでなく,顧
          客又は第三者機関が最終製品の検査に用いることができる。

1 適用範囲

  この規格は,電子機器及び電気機器用電子部品,電子パッケージ及び電子モジュール(以下,製品とい
う。)の検査に適用する。この規格は,合格判定数(合格許容不適合数)ゼロ(Ac=0)を前提として,サ
ンプルの選定及び手順の基準を含む計数値抜取検査方式について規定する。
  この規格による合格判定数ゼロの抜取検査は,抜取検査の前に不適合品ゼロの品質水準を目標とした適
切な工程管理の下に製造する製品の検査に適用する。
  さらに,この規格は,信頼水準60 %における統計的工程品質限界(以下,SVQLという。)の期待値の
算出方法を提供する。特に,この方法は,供給業者の工程管理の有効性を検証するために用いることがで

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2
C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)
きる。
    注記1 この規格で用いる用語“モジュール”は,IEC 60194の定義に基づいている。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61193-2:2007,Quality assessment systems−Part 2: Selection and use of sampling plans for
                inspection of electronic components and packages(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS Z 8101-2 統計−用語と記号−第2部 : 統計的品質管理用語
      注記 対応国際規格 : ISO 3534-2:1993,Statistics−Vocabulary and symbols−Part 2: Statistical quality
             control(MOD)
    JIS Z 9015-1:2006 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標
        型抜取検査方式
      注記 対応国際規格 : ISO 2859-1:1999,Sampling procedures for inspection by attributes−Part 1:
             Sampling schemes indexed by acceptance quality limit (AQL)   or lot-by-lot inspection(IDT)
    IEC 60194,Printed board design, manufacture and assembly−Terms and definitions
      注記 IEC 60194の対応日本工業規格(日本産業規格)は,JIS C 5603であるが,この規格で引用しているモジュー
            ルについての記載がないため,引用規格には記載していない。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 8101-2,JIS Z 9015-1及びIEC 60194によるほか,次によ
る。
3.1
電子部品(electronic component)
  電子,光電子及び/又はMEMS(micro-electro-mechanical systems)要素を含む個別素子。
3.2
電子パッケージ(electronic package)
  信頼性を確保するために容器に入れて保護し,外部回路に容器を接続する端子がある個別の電子素子又
は素子の集合体。
3.3
電子モジュール(electronic module)
  個々の電子部品及び/又は電子パッケージを組み込んで,より高い機能をもつブロック。
3.4
検査水準,IL(inspection level)
  ロットの大きさに対するサンプルの大きさを決めるための水準。
    注記 ロットから抜き取るサンプルの大きさは,検査水準の厳しさによって変化する。

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                                                                C 5005-2 : 2010 (IEC 61193-2 : 2007)
3.5
不適合品(nonconforming item)
  一つ以上の不適合を含むアイテム。
    注記 不適合品は,ロットごとの品質確認検査,定期的な品質確認検査などで,要求事項(外観検査,
          主な電気的特性など)を満足しない製品である。
            アイテムとは,個数で数えることができるように分かれているものと定義し,この規格では,
          個々の製品を示す。
3.6
構造的に類似な製品(structurally similar products)
  同一材料,工程及び方法を用いて,同一製造業者が製造する製品。
    注記 例えば,ケース寸法及び定格値が異なっていても,構造的に類似な製品である。これらの製品
          の1ロットに対して実施する所定の試験の結果は,構造的に類似な同一グループ内のその他の
          ロットの試験結果に累積できる。

4 抜取検査システム

  この箇条に規定する抜取検査方式及び手順は,合格判定数ゼロ(Ac=0)を基準とする。

4.1 ロットの構成及び識別

  製品は,識別できるロット又はサブロットごとにまとめる。各ロットは,可能な限り同一の条件で,か
つ実質的に同時に製造された,単一のタイプ,グレード,クラス,サイズ及び構造の製品で構成する。
    注記 この中の“クラス”は,部品のクラス,等級などではなく,JIS Z 9015-1で規定する“不適合
          又は不適合品のクラス”を示す。不適合又は不適合品のクラスは,JIS Z 9015-1の3.1.5(不適
          合),3.1.7(不適合品),7.4(不適合又は不適合品のクラス)などを参照する。

4.2 サンプルの抜取り

4.2.1  サンプルの選定
  サンプルとして選定するアイテムは,ロットごとに単純ランダムサンプリング[JIS Z 8101-2の3.12(単
純ランダムサンプル)参照。]によって選定する。ロットが何らかの合理的な基準によってサブロット又は
階層に分かれているときには,層別サンプリングを用いる。しかし,その場合は,サンプル中のアイテム
数を各サブロット又は階層に比例するように選定する。
4.2.2  サンプルの抜取方法
  サンプルの抜取りは,全アイテムをロットにまとめた後でも,又はロットの生産の途中でもよい。

4.3 抜取検査方式

4.3.1  検査水準
  検査水準は,相対的な検査の厳しさを示す。一般的な用途には,三つの通常検査水準I,II及びIIIがあ
る。個別規格に規定がない場合は,検査水準IIを用いる。検査水準Iは,判別力が小さくてもよい場合に
用い,検査水準IIIは,より大きい判別力を必要とする場合に用いることができる。通常検査水準以外に,
四つの特別検査水準S-1,S-2,S-3及びS-4があり,例えば,破壊検査又は高価な製品の検査のように,
比較的小さいサンプルサイズが必要で,かつ,抜取りのリスクが大きくなることが許容できる場合に用い
てもよい。
  検査水準は,個別規格の規定又は受渡当事者間の協定によって決定する。

――――― [JIS C 5005-2 pdf 5] ―――――

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