JIS C 5402-23-4:2006 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第２３－４部：スクリーニング及びフィルタリング試験―試験２３ｄ：時間領域での伝送線路の反射

                                                           C 5402-23-4 : 2006 (IEC 60512-23-4 : 2001)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-23-4:2001,Connectors for
electronic equipment ― Tests and measurements ― Part 23-4 : Screening and filtering tests ― Test 23d : 
Transmission line reflections in the time domainを基礎として用いた。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,
このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402-23-4には,次に示す附属書がある。
    附属書A(規定)試験方法B用試験基板に関する規定
    附属書B(参考)TDR適用指針
  JIS C 5402の規格群はJIS C 5402-1-100 第1-100部 : 一般―試験一覧による。

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C 5402-23-4 : 2006 (IEC 60512-23-4 : 2001)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲及び目的・・・・[1]
•  2. 試験機器・・・・[2]
•  3. 供試品・・・・[2]
•  4. テストフィクスチャ・・・・[2]
•  4.1 試験方法A用テストフィクスチャ・・・・[2]
•  4.2 試験方法B用試験基板・・・・[2]
•  5. 試験手順(方法A及び方法B)・・・・[2]
•  5.1 試験信号の校正・・・・[2]
•  5.2 ゼロ反射基準線・・・・[2]
•  5.3 TDR波形・・・・[2]
•  5.4 コネクタ反射率・・・・[2]
•  6. 試験報告書・・・・[4]
•  6.1 試験方法A及び試験方法B・・・・[4]
•  6.2 試験方法Bに対する追加項目・・・・[5]
•  附属書A(規定)試験方法B用試験基板に関する規定・・・・[6]
•  附属書B(参考)TDR適用指針・・・・[10]

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――――― [JIS C 5402-23-4 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 5402-23-4 : 2006
                                                                      (IEC 60512-23-4 : 2001)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第23‐4部 : スクリーニング及びフィルタリング試験―試験23d : 時間領域での伝送線路の反射

Connectors for electronic equipment ― Tests and measurements ―Part 23-4 : Screening and filtering tests ―Test 23d : Transmission line reflections in the time domain

序文

 この規格は,2001年に第1版として発行されたIEC 60512-23-4:2001,Connectors for electronic
equipment ― Tests and measurements ― Part 23-4 : Screening and filtering tests ― Test 23d : Transmission line
reflections in the time domainを翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業
規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある“箇所”は,原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲及び目的

 この規格は,コネクタから生じる反射波を時間領域で測定し,伝送線路でのコネ
クタの性能を評価するための二とおりの試験方法について規定する。これらの試験方法において,供試コ
ネクタは,インピーダンス制御(controlled characteristic impedance)した伝送線路に存在する不連続点とし
て取り扱う。
  試験方法Aでは,供試コネクタと試験機器とを接続するために,精密同軸ケーブル及びセミリジット同
軸ケーブルを使用する。この方法は,様々なコネクタ又はケーブル組立品の試験に適している。
  試験方法Bでは,供試コネクタと試験機器とを接続するために,精密試験基板,精密同軸ケーブル及び
セミリジッド同軸ケーブルを使用する。この方法は,プリント配線板用コネクタの試験に適している。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60512-23-4:2001,Connectors for electronic equipment ― Tests and measurements ― Part
              23-4 : Screening and filtering tests ― Test 23d : Transmission line reflections in the time domain
              (IDT)

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2
C 5402-23-4 : 2006 (IEC 60512-23-4 : 2001)

2. 試験機器

 試験機器はタイムドメインリフレクトメータ(TDR)(又はパルス信号発生器及びオシロス
コープ),供試コネクタの特性インピーダンスと整合する精密同軸ケーブル,及びステップ信号発生器(適
用する場合)で構成する。

3. 供試品

 供試品は,一対のコネクタ(結合済み)及び/又はケーブル組立品からなり,これらには,
適切な試験ケーブルの信号導体又は接地導体と様々に接続できる多極コンタクトを備えている。

4. テストフィクスチャ

4.1 試験方法A用テストフィクスチャ

 テストフィクスチャは,セミリジット同軸ケーブル(又は同等
品)を使用する。特別なフィクスチャ(必要とする場合)については,6.1に規定する。

4.2 試験方法B用試験基板

 基板対基板コネクタの場合には,インピーダンス制御した基板パターン構
造(以下,“パターン”という。)をもつ二つの試験基板を使用する。これらの試験基板の要求事項及び構
造は附属書Aによる。

5. 試験手順(方法A及び方法B)

5.1 試験信号の校正

 試験信号の有効立上り時間及びその大きさは,校正用パターンを用いて測定する。
その場合には,測定系の立上り時間でのテストフィクスチャの影響も考慮する。
    備考 オシロスコープの上限周波数と出力信号立上り時間との積は,ほぼ0.6になることが望ましい。

5.2 ゼロ反射基準線

 コネクタの反射を測定するためのゼロ反射基準線を設定する(同基準線に関する
詳細情報は,附属書BのB.2による。)。

5.3 TDR波形

 一つ以上の規定立上り時間でステップ信号を出力する。図1にその代表的な波形を示す。

5.4 コネクタ反射率

 (反射率の代わりに反射係数ρを用いてもよい。)
5.4.1 供試コネクタに対応する反射波形の正方向及び負方向(ゼロ反射基準線に対する)の最大振幅値を測
定する。
5.4.2 テストフィクスチャを含む測定系のステップ信号振幅測定値に対する百分率を,次の式によって算出
する。
     コネクタ反射率=供試コネクタにおける最大反射振幅測定値                 × 100(%)
                 テステストフィクチャを含む測定系のステップ信号振幅測定値
5.5 複数の信号立上り時間を使用する場合には,5.3及び5.4を繰り返す。信号の立上り時間を変更する方
法/選択肢に関する指針については,附属書BのB.3による。

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                                                           C 5402-23-4 : 2006 (IEC 60512-23-4 : 2001)
                  0.40
                  0.20
                  0.00
                  -0.20
              反
              射
              係  -0.40
              数
                  -0.60
              ρ
                  -0.80
                  -1.00
                       0.00 1.00  2.00 3.00 4.00  5.00 6.00 7.00 8.00  9.00 10.00
                                               時間 ns
              代表的なTDR波形各部(試験方法B)の意味を,次に示す。
                A TDR出力ステップ電圧                  E 供試コネクタ
                B 同軸ケーブル                         F 試験基板2のパターン部
                C 同軸ケーブルと試験基板1との接続部    G 抵抗性終端器
                D 試験基板1のパターン部
                          図1 コネクタの反射を示す代表的なTDR波形

――――― [JIS C 5402-23-4 pdf 5] ―――――

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