JIS C 5402-3-1:2005 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第３－１部：絶縁試験―試験３ａ：絶縁抵抗

                                                             C 5402-3-1 : 2004 (IEC 60512-3-1 : 2002)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-3-1:2002,Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistanceを基礎と
して用いた。
  この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100 : 試験一覧による。

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 5402-3-1 pdf 1] ―――――

C 5402-3-1 : 2004 (IEC 60512-3-1 : 2002)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 試料の取付け・・・・[1]
•  3. 試験方法・・・・[1]
•  3.1 方法A・・・・[1]
•  3.2 方法B・・・・[1]
•  3.3 方法C・・・・[2]
•  4. 個別規格に規定する事項・・・・[2]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 5402-3-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        C 5402-3-1 : 2004
                                                                        (IEC 60512-3-1 : 2002)

電子機器用コネクタ―試験及び測定―第3-1部 : 絶縁試験―試験3a : 絶縁抵抗

Connectors for electronic equipment -Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests -Test 3a: Insulation resistance

序文

 この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 60512-3-1,Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 3-1: Insulation tests - Test 3a: Insulation resistanceを翻訳し,技術的内容及び規格
票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1. 適用範囲

 この規格は,電子機器用コネクタ(以下,コネクタという。)の絶縁抵抗を評価するための
試験方法について規定する。この試験方法は,類似の部品に用いてもよい。
    備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
            なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
          (修正している),NEQ(同等でない)とする。
          IEC 60512-3-1:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 3-1:
              Insulation tests - Test 3a: Insulation resistance (IDT)

2. 試料の取付け

 試料を個別規格に従って取り付ける。

3. 試験方法

 絶縁抵抗は,個別規格に方法A,方法B又は方法Cのいずれかを規定し,閉回路直流電圧
10 V±1 V,100 V±15 V又は500 V±50 Vで測定する。
  絶縁抵抗は,安定した読みが得られるときだけ測定する。安定状態に達しない場合には,絶縁抵抗の読
みは電圧印加後60 s±5 s以内に記録する。
  絶縁抵抗は,個別規格に規定する値以上でなければならない。

3.1 方法A

 絶縁抵抗は,試験する一つのターミネーションと一括接続した残りのすべてのターミネー
ション(ハウジング及び/又は取付け板に接続)との間に,規定する試験電圧を印加し,測定する。測
定後,ターミネーションを変えて,順次測定する。

3.2 方法B

 ターミネーションを互い違いに一括接続し,二つのグループを作る。絶縁抵抗は,試料に
規定の試験電圧を次のとおり印加し,測定する。
a) 第一グループのターミネーションとハウジング(及び/又は取付け板)に接続した第二グループのタ

――――― [JIS C 5402-3-1 pdf 3] ―――――

2
C 5402-3-1 : 2004 (IEC 60512-3-1 : 2002)
    ーミネーションとの間,並びに
b) 第二グループのターミネーションとハウジング(及び/又は取付け板)に接続した第一グループのタ
    ーミネーションとの間。
    備考 ターミネーションが2列以上の場合には,隣接するターミネーションの各対の絶縁抵抗を測定
          するために他の組合せで二つのグループを作る必要がある。

3.3 方法C

 絶縁抵抗は,最小のスペーシングをもつ二つの隣接するターミネーション間に規定の試験
電圧を印加し,測定する。

4. 個別規格に規定する事項

 個別規格には,次の事項を規定する。
a) 使用する測定方法
b) 試験電圧の値
c) 絶縁抵抗の最小値
d) 試験するコンタクト
e) この試験方法との相違

――――― [JIS C 5402-3-1 pdf 4] ―――――