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JIS C 5402-4-2:2005 規格概要
この規格 C5402-4-2は、部分放電を起こさずに,規定する電圧条件下で使用する電子機器用コネクタの能力を評価するための試験方法について規定。類似の部品にも用いてよい。
JISC5402-4-2 規格全文情報
- 規格番号
- JIS C5402-4-2
- 規格名称
- 電子機器用コネクタ―試験及び測定―第4-2部 : 電圧ストレス試験―試験4b : 部分放電
- 規格名称英語訳
- Connectors for electronic equipment -- Tests and measurements -- Part 4-2:Voltage stress tests -- Test 4b:Partial discharge
- 制定年月日
- 2005年3月20日
- 最新改正日
- 2019年10月21日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- IEC 60512-4-2:2002(IDT)
- 国際規格分類
ICS
- 31.220.10
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
- 改訂:履歴
- 2005-03-20 制定日, 2009-10-01 確認日, 2014-10-20 確認日, 2019-10-21 確認
- ページ
- JIS C 5402-4-2:2005 PDF [4]
C 5402-4-2 : 2004 (IEC 60512-4-2 : 2002)
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人電子情報技術産業協会(JEITA)から,
工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経
済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,IEC 60512-4-2:2002,Connectors for
electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2: Voltage stress test - Test 4b: Partial dischargeを基礎とし
て用いた。
この規格の一部が,技術的性格をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
JIS C 5402の規格群は,JIS C 5402-1-100 : 試験一覧による。
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS C 5402-4-2 pdf 1] ―――――
C 5402-4-2 : 2004 (IEC 60512-4-2 : 2002)
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1. 適用範囲・・・・[1]
- 2. 引用規格・・・・[1]
- 3. 試験方法・・・・[1]
- 4. 個別規格に規定する事項・・・・[1]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS C 5402-4-2 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
C 5402-4-2 : 2004
(IEC 60512-4-2 : 2002)
電子機器用コネクタ―試験及び測定―第4-2部 : 電圧ストレス試験―試験4b : 部分放電
Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2: Voltage stress test - Test 4b: Partial discharge
序文
この規格は,2002年に第1版として発行されたIEC 60512-4-2,Connectors for electronic equipment -
Tests and measurements - Part 4-2: Voltage stress test - Test 4b: Partial dischargeを翻訳し,技術的内容及び規格
票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
1. 適用範囲
この規格は,部分放電を起こさずに,規定する電圧条件下で使用する電子機器用コネクタ
(以下,コネクタという。)の能力を評価するための試験方法について規定する。この試験方法は,類似の
部品にも用いてよい。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
(修正している),NEQ(同等でない)とする。
IEC 60512-4-2:2002,Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 4-2: Voltage
stress test - Test 4b: Partial discharge (IDT)
2. 引用規格
次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構
成する。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定
を構成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。
IEC 60270:2000 High-voltage test techniques - Partial discharge measurements
3. 試験方法
試験は,IEC 60270に従って行う。
試験手順及び要求事項は,個別規格による。
4. 個別規格に規定する事項
個別規格には,次の事項を規定する。
a) 試験手順
b) 要求事項
c) この試験方法との相違
――――― [JIS C 5402-4-2 pdf 3] ―――――
JIS C 5402-4-2:2005の引用国際規格 ISO 一覧
- IEC 60512-4-2:2002(IDT)
JIS C 5402-4-2:2005の国際規格 ICS 分類一覧
- 31 : エレクトロニクス > 31.220 : 電子及び通信設備用機構部品 > 31.220.10 : プラグ・ソケット装備.コネクタ