JIS C 60068-2-61:1996 環境試験方法―電気・電子―一連耐候性試験

                                                                   C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

pdf 目次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1. 目的・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[2]
•  3. 定義・・・・[2]
•  4. 試験機器・・・・[3]
•  5. 厳しさ・・・・[3]
•  6. 前処理・・・・[3]
•  7. 初期測定・・・・[3]
•  8. 試験・・・・[3]
•  9. 後処理・・・・[5]
•  10. 最終測定・・・・[5]
•  11. 製品規格に規定する事項・・・・[5]
•  附属書A(参考) 規格作成者のための指針・・・・[7]
•  附属書B(参考) 試験実施上の指針・・・・[8]

(pdf 一覧ページ番号 )

――――― [JIS C 60068-2-61 pdf 1] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             C 0035-1996
                                                                           (IEC 68-2-61 : 1991)

環境試験方法−電気・電子−一連耐候性試験

Environmental TestingPart 2 : Test methodsTest Z/ABDM : Climatic sequence

日本工業規格(日本産業規格)としてのまえがき
この規格は,1991年第1版として発行されたIEC 68-2-61 (ENVIRONMENTAL TESTING Part 2 : Test methods
−Test Z/ABDM : Climatic sequence) を翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した
日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある事項は,原国際規格にない事項である。

序文

 一連耐候性試験の有用性は,特に部品に対してJIS C 0010-1993[環境試験方法−電気・電子−通則
7.(一連耐候性試験)及び附属書Bの(環境試験に対する一般的指針参照)]の内容によって証明されてい
る。
    参考 JIS C 0010-1993は、IEC 68-1 : 1988 Environmental testing. Part 1 : General and guidanceと一致す
          る。
IEC電子部品品質認証制度 (IECQ) の重要性の広がりに伴ってJIS C 0010の7.で規定されているより,は
るかに高い正確さをもった試験手順とともに試験の満足な再現性を得ることを目的として,定義すること
が必要となった。
この規格は,主として部品に対して“一連耐候性試験”を詳細に規定したものであり,そのことはJIS C 0010
の7.を基本として,また,規格作成者と試験実施者のための参考資料中の指針に書かれている。
    注 試験Z/ABDMは,JIS C 0010の7.で定義した“一連耐候性”というよりはむしろ,同規格に定義
        されている“組合せ試験”である。JIS C 0010の7.で引用している“一連耐候性”という用語は
        よく使われているので,この組合せ試験の実施に際して続いて使用してもよい。

1. 目的

 この規格は,供試品が一連の温度,湿度,必要があれば減圧などの環境ストレスから構成され
た環境条件におかれたとき,供試品の適応性を決めるための組合せ試験方法を規定するものである。
  加えるストレスの順序及びある段階から次の段階へ移る際の条件が,自然の気候条件で観測されたのと
同じタイプの劣化機構を加速し,十分進行させるために選択される。
    注 自然界に発生する環境条件は,IEC 721-2及びIEC 721-3に分類されている。
  この規格は劣化の機構が同じであり,試験に対する規定の要求が満足されていれば,他の電気製品にも
適用できるものである。他の場合は,同様な試験方法を作成するための基本となるものでもある。

――――― [JIS C 60068-2-61 pdf 2] ―――――

2
C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)
  この試験で,供試品は標準の順序で,またJIS C 0010の附属書Aの部品耐候性カテゴリーの基本記号に
従って環境試験が行われる。ただし,数字の第3グループがJIS C 0027の6.(試験)に従ってカテゴライ
ズされた試験Db湿度サイクリックの段階5のサイクルの数を表すのに使用される場合を除く。耐候性カ
テゴリー−/−/56,40/−/−,などでダッシュは次の例のようにあいたところに適切な何らかの標準値でお
き代えてもよい : 55/100/56,25/085/56,40/085/21。何らかの修正が必要な場合には製品規格で選択した方
法の各段階に対して必要な情報を与えなければならない(8.参照)。
  この試験は,しばしば供試品の封止が損傷されるかどうかを調べるために,例えば,端子強度試験,は
んだ付性,衝撃,振動のような機械的ストレスを含む他の試験に引き続いて行う。

2. 引用規格

 次の規格は,この規格で引用している規格である。出版時に明示されている版号が有効で
ある。
  なお,すべての規格が改正されるので,この規格の関係者は,次の規格の最新のものを調査し,適用す
るよう推奨する。
    IEC 68-1 : 1988 Environmental testing. Part 1 : General and guidance.
      備考 JIS C 0010-1993 環境試験方法−電気・電子−通則が,IEC 68-1 : 1988と一致している。
    IEC 68-2-1 : 1990 Environmental testing. Part 2 : Tests−Tests A : Cold
      備考 JIS C 0020-1995 環境試験方法−電気・電子−低温(耐寒性)試験方法が,IEC 68-2-1 : 1990
                と一致している。
    IEC 68-2-2 : 1974 Environmental testing. Part 2 : Tests−Tests B : Dry heat. 及びIEC 68-2-2A : (1976)   irst
        supplement.
      備考 JIS C 0021-1995 環境試験方法−電気・電子−高温(耐熱性)試験方法が,IEC 68-2-2 : 1974
                及び68-2-2A : 1976と一致している。
    IEC 68-2-13 : 1983 Environmental testing. Part 2 : Tests−Test M : Low air pressure.
      備考 JIS C 0029-1989 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法が,IEC 68-2-13 : 1983と同等で
                ある。
    IEC 68-2-28 : 1980 Environmental testing. Part 2 : Tests−Guidance for damp heat tests.
      備考 JIS C 0033-1993 環境試験方法−電気・電子−耐湿性試験−指針が,IEC 68-2-28 : 1980と一
                致している。
    IEC 68-2-30 : 1980 Environmental testing. Part 2 : Tests−Test Db and guidance : Damp heat cyclic (12+
        12-hour cycle).
      備考 JIS C 0027-1988 環境試験方法(電気・電子)温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験
                方法が,IEC 68-2-30 : 1980と同等である。
    IEC 68-3-1 : 1974 Environmental testing. Part 3 : Background information. Section One−Cold and dry heat
        tests. 及びIEC 68-3-1A : 1978 First supplement.
      備考 JIS C 0095-1995 環境試験方法−電気・電子−低温試験及び高温試験を理解するための必す
                (須)情報が,IEC 68-3-1 : 1974及び68-3-1A : 1978と一致している。
    IEC 721-2 Classification of environmental conditions. Part 2 : Environmental conditions appearing in nature.
    IEC 721-3 Classification of environmental conditions. Part 3 : Classification of groups of environmental
        parameters and their severities.

3. 定義

 用語は総括的にIEC 68-5-2 : 1990 (Terms and definitions) に定義されている。

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                                                                   C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)

4. 試験機器

 試験用の機器は,各個々の試験を行うために要求されるものであり,各種条件の試験方法
を含み,試験順序ごとに指示された要求,厳しさを満足するものとする。
  1台の試験槽を使って一連試験の異なった段階ごとに規定した条件を連続的に試験する場合は,特別な
注意が必要である(附属書BのB.3参照)。
  供試品を二つの仕切部屋の間で移送する自動移送装置をもった試験槽を使用する際は,別々の試験槽を
使用するのと同等と,みなすことができる。
  また,自動移送装置をもった試験槽で試験する場合は,各段階の終わりの後処理条件が満足されなけれ
ばならない。特に方法1の段階2の場合(8.2.2参照)。

5. 厳しさ

 厳しさは,高温試験の試験温度[JIS C 0021の4.1(試験温度)],低温試験の試験温度[JIS C
0020の4.1(試験温度)],気圧及び時間で決められ,また,もし,減圧試験の要求がある場合には厳しさ
[JIS C 0029の4.(厳しさ)],また,最後にこの規格の8.2.5に従った耐湿性試験のサイクル数で決める。

6. 前処理

 製品規格に規定がない場合,前処理が要求される。前処理の時間は,少なくとも1時間測定
及び試験のための標準大気条件におかなければならない。

7. 初期測定

 供試品を製品規格に従って外観,寸法及び機能点検をするために提供する。

8. 試験

8.1   概要 三つの方法が規格化されている。試験方法1は,製品規格に規定がない限り優先的に常に使
用しなければならない。
方法1は,供試品は最初に高温にさらし,次に湿度のサイクルにさらされる。次に供試品,又はその封止
部分の表面クラックのどちらかに浸入した水分が氷結し,更に損傷を拡大させるため,直ちに低温にさら
す。その後,減圧(選択試験)が行われた後,耐湿サイクル試験(耐候性カテゴリー−/−/04及び−/−/10
を除く。)を供試品の封止の点検を完全にするために行う。
方法2は,各5回の最終耐湿サイクルの間に低温試験を入れた更に厳しい試験を規定する(耐候性カテゴ
リー−/−/56だけ)。
方法3は,ロットごとの受入れ試験の短期間の一連耐候性試験を規定することを意図したもので,製品規
格に規定した場合,電子部品品質認証に適用する試験である。
  後処理が規定されている場合は,製品規格に規定がない限り測定及び試験のための標準大気条件で行う。
8.2   方法1 この方法は5段階から構成されており(図1参照),そのうちの一つ(8.2.4の段階4)は要
求があれば実施する。
8.2.1  段階1 : 高温
a) 供試品は,16±0.5hの試験時間で,JIS C 0021の7.(試験)に従って高温試験Baを行う。
      温度は,製品規格で規定され,耐候性カテゴリーを規定した方がよい。
      製品規格にJIS C 0021の8.(中間測定)に従って,高温試験の終わりに中間測定を規定してもよい。
    これらの測定に費やす時間は試験時間の一部となるものではない。
b) 次に供試品を槽から取り出し,少なくとも1時間の後処理を行い,段階1が終了する。段階1の総時
    間は24±0.5hである。
c) 段階2に移る前に72h(3日)を超えてはならない。

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C 0035-1996 (IEC 68-2-61 : 1991)
      この期間中の条件は,後処理の条件であり,すなわち,試験のための標準大気条件をいう。
8.2.2  段階2 : 耐湿性
a) 供試品をJIS C 0027の6.(試験)温湿度サイクル試験の1サイクルにさらす。
      製品規格に規定がない限り,条件 (Variant) 1の方法を使用する。製品規格に規定がない限り,上限
    温度は55℃とする。
b) 次に後処理をJIS C 0027の8.(後処理)に従って行う。
c) 後処理時間の終了後直ちに供試品を段階3の条件におく。
8.2.3  段階3 : 低温
a) 供試品をJIS C 0010の7.(一連耐候性試験)に従って低温試験Aaを行う。温度は製品規格に規定す
    る。できれば,120±5minの試験時間を耐候性カテゴリーに規定することを製品規格で規定する。
      製品規格には,JIS C 0020の8.(中間測定)に従って低温にさらした後,中間測定を規定してもよ
    い。これらの測定によって費やされた時間は試験時間の一部となるものではない。
b) 次に供試品を槽から取り出し,JIS C 0020に従って後処理をする。
c) 段階5に進む前に72h(3日)を超えてはならない。この期間中の条件は後処理条件であるが,製品規
    格に規定のある場合はこの期間中に,自由選択段階である段階4が行われる。
8.2.4  段階4(選択段階) : 減圧
a) 製品規格に規定があれば,耐候性カテゴリー40/−/−,55/−/−及び65/−/−の供試品は,JIS C 0029
    に従って減圧試験を行う。厳しさは製品規格で規定する。
      試験は,製品規格に規定がなければ,15℃から35℃の間の温度で60±5min行う。
      製品規格に規定がある場合は,規定の電圧及び手順に従って最後の5分間,耐電圧試験を行う。
b) 後処理の時間は,1時間から2時間の間とする。
8.2.5  段階5 : 耐湿性試験
a) 試験は,8.2.2に従って行う。製品規格に規定がない限り,サイクルの数は次の耐候性カテゴリーによ
    って決める。
                耐候性カテゴリー               −/−/04及び−/−/10適用しない
                                               −/−/21            1サイクル
                                               −/−/56            5サイクル
b) 製品規格に規定がある場合は,8.2.5 a)に従って試験した供試品を規定したサイクルの完了後,槽から
    取り出し,水滴を払い落としてから,次に15分間以内に製品規格の規定によって外観,寸法及び機能
    検査を行う。
c) 1.5hから2hまでの後処理の後,製品規格に規定した外観,寸法及び機能検査を行う。
d) 製品規格に延長後処理を規定した場合は,供試品を24±0.5hの追加の後処理の後製品規格に規定した
    外観,寸法及び機能検査を行う。
8.3   方法2 この方法を製品規格に規定する場合,耐候性カテゴリー−/−/56の供試品だけに適用する(図
2参照)。
8.3.1  供試品を8.2.1から8.2.4までに従って試験する。
8.3.2  次に供試品を製品規格の規定に従って耐湿試験Dbの1サイクルと次に8.2.2 b)の後処理を行う。
8.3.3  耐湿試験の1サイクルの次に後処理を行った後,直ちに8.2.3に従って低温試験を行う。
8.3.4  8.3.2及び8.3.3に規定した試験を更に,3回繰り返し,総計4サイクル試験を行う。供試品を最終
的に更に,1サイクルの耐湿試験にさらした後,8.3.2の規定によって後処理を行う。

――――― [JIS C 60068-2-61 pdf 5] ―――――

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