JIS C 60068-2-85:2020 環境試験方法―電気・電子―第２－８５部：長時間時刻歴再現振動試験方法（試験記号：Ｆｊ）

                                                          C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[2]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  4 試験装置に対する要求事項・・・・[5]
•  4.1 一般事項・・・・[5]
•  4.2 基本動作・・・・[5]
•  4.3 横運動・・・・[5]
•  4.4 取付け・・・・[5]
•  4.5 計測システム・・・・[6]
•  5 厳しさ・・・・[6]
•  6 前処理・・・・[6]
•  7 初期測定及び機能確認試験・・・・[6]
•  8 試験・・・・[6]
•  8.1 一般事項・・・・[6]
•  8.2 初期振動応答検査・・・・[6]
•  8.3 等化のための低レベル予備加振・・・・[7]
•  8.4 供試品の機能試験・・・・[8]
•  8.5 最終振動応答検査・・・・[8]
•  9 後処理・・・・[8]
•  10 最終検査及び機能検査・・・・[8]
•  11 製品規格に規定すべき事項・・・・[8]
•  12 試験報告書に記載する事項・・・・[9]
•  附属書A(参考)指針・・・・[11]
•  参考文献・・・・[16]

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――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 1] ―――――

           C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)

まえがき

  この規格は,産業標準化法第14条第1項の規定に基づき,認定産業標準作成機関である一般財団法人
日本規格協会(JSA)から,産業標準の案を添えて日本産業規格を制定すべきとの申出があり,経済産業
大臣が制定した日本産業規格である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実用新案権に関わる確認に
ついて,責任はもたない。
  JIS C 60068規格群(環境試験方法−電気·電子)は,次に示す部で構成する。
    JIS C 60068-1 第1部 : 通則及び指針
    JIS C 60068-2-1 第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : A)
    JIS C 60068-2-2 第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : B)
    JIS C 60068-2-6 第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
    JIS C 60068-2-7 加速度(定常)試験方法
    JIS C 60068-2-11 塩水噴霧試験方法
    JIS C 60068-2-13 減圧試験方法
    JIS C 60068-2-14 第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
    JIS C 60068-2-17 封止(気密性)試験方法
    JIS C 60068-2-18 第2-18部 : 耐水性試験及び指針
    JIS C 60068-2-20 第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ付け性及びはんだ耐熱性試験方法
    JIS C 60068-2-21 第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
    JIS C 60068-2-27 第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
    JIS C 60068-2-30 第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイクル)試験方法(試験記号 : Db)
    JIS C 60068-2-31 第2-31部 : 落下試験及び転倒試験方法(試験記号 : Ec)
    JIS C 60068-2-38 第2-38部 : 温湿度組合せ(サイクル)試験方法(試験記号 : Z/AD)
    JIS C 60068-2-39 第2-39部 : 減圧下の温度又は温湿度複合試験及び指針
    JIS C 60068-2-40 低温·減圧複合試験方法
    JIS C 60068-2-41 高温·減圧複合試験方法
    JIS C 60068-2-42 接点及び接続部の二酸化硫黄試験方法
    JIS C 60068-2-43 接点及び接続部の硫化水素試験方法
    JIS C 60068-2-45 耐溶剤性(洗浄溶剤浸せき)試験方法
    JIS C 60068-2-46 接点及び接続部の硫化水素試験−指針
    JIS C 60068-2-47 第2-47部 : 動的試験での供試品の取付方法
    JIS C 60068-2-49 接点及び接続部の二酸化硫黄試験−指針
    JIS C 60068-2-52 第2-52部 : 塩水噴霧サイクル試験方法(塩化ナトリウム水溶液)(試験記号 : 
        Kb)
    JIS C 60068-2-53 第2-53部 : 耐候性(温度·湿度)と動的(振動·衝撃)との複合試験及び指針

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――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 2] ―――――

                                                         C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)
    JIS C 60068-2-55 第2-55部 : ルーズカーゴに対するバウンス試験及び指針(試験記号 : Ee)
    JIS C 60068-2-57 第2-57部 : 時刻歴及びサインビート振動試験方法(試験記号 : Ff)
    JIS C 60068-2-58 第2-58部 : 表面実装部品(SMD)のはんだ付け性,電極の耐はんだ食われ性及び
        はんだ耐熱性試験方法
    JIS C 60068-2-60 第2-60部 : 混合ガス流腐食試験(試験記号 : Ke)
    JIS C 60068-2-61 一連耐候性試験
    JIS C 60068-2-64 第2-64部 : 広帯域ランダム振動試験方法及び指針(試験記号 : Fh)
    JIS C 60068-2-65 第2-65部 : 音響振動(試験記号 : Fg)
    JIS C 60068-2-66 高温高湿,定常(不飽和加圧水蒸気)
    JIS C 60068-2-67 基本的に構成部品を対象とした高温高湿,定常状態の促進試験
    JIS C 60068-2-68 砂じん(塵)試験
    JIS C 60068-2-69 第2-69部 : 試験−試験Te/Tc : 電子部品及びプリント配線板のはんだ付け性試験
        方法(平衡法)
    JIS C 60068-2-70 第2-70部 : 指及び手の擦れによる印字の摩滅試験
    JIS C 60068-2-75 第2-75部 : ハンマ試験(試験記号 : Eh)
    JIS C 60068-2-77 表面実装部品(SMD)の本体強度及び耐衝撃性試験方法
    JIS C 60068-2-78 第2-78部 : 高温高湿(定常)試験方法(試験記号 : Cab)
    JIS C 60068-2-80 第2-80部 : 混合モード振動試験方法(試験記号 : Fi)
    JIS C 60068-2-81 第2-81部 : 衝撃応答スペクトル合成による衝撃試験方法
    JIS C 60068-2-82 第2-82部 : 試験−試験XW1 : 電気·電子部品のウィスカ試験方法
    JIS C 60068-2-83 第2-83部 : 試験Tf−ソルダペーストを用いた平衡法による表面実装部品
        (SMD)のはんだ付け性試験方法
    JIS C 60068-2-85 第2-85部 : 長時間時刻歴再現振動試験方法(試験記号 : Fj)
    JIS C 60068-3-1 第3-1部 : 低温(耐寒性)試験及び高温(耐熱性)試験の支援文書及び指針
    JIS C 60068-3-2 第3-2部 : 温度/減圧複合試験を理解するための必す(須)情報
    JIS C 60068-3-3 機器の耐震試験方法の指針
    JIS C 60068-3-4 第3-4部 : 高温高湿試験の指針
    JIS C 60068-3-5 第3-5部 : 支援文書及び指針−温度試験槽の性能確認
    JIS C 60068-3-6 第3-6部 : 支援文書及び指針−温湿度試験槽の性能確認
    JIS C 60068-3-7 第3-7部 : 支援文書及び指針−負荷がある場合の低温試験(試験A)及び高温試験
        (試験B)の試験槽の温度測定のための指針
    JIS C 60068-3-8 第3-8部 : 振動試験方法の選択の指針
    JIS C 60068-3-13 第3-13部 : 支援文書及び指針−はんだ付け

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――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 3] ―――――

                                      日本産業規格                            JIS
                                                                    C 60068-2-85 : 2020
                                                                      (IEC 60068-2-85 : 2019)

環境試験方法−電気·電子−第2-85部 : 長時間時刻歴再現振動試験方法(試験記号 : Fj)

Environmental testing- Part 2-85: Tests-Test Fj: Vibration-Long time history replication

序文

  この規格は,2019年に第1版として発行されたIEC 60068-2-85を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本産業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格は,他の既存の方法ではカバーされていない任意の性質の振動にさらされる可能性がある部品,
機器及びその他の製品(以下,供試品という。)への一般的な適用を意図した長時間の時刻歴波形を再現す
る振動試験を扱う。この規格で規定する試験方法及び技術は,時間領域における振動のデジタル制御に基
づいており,製品規格·試験方法規格で規定する個々のケースに合うように振動入力信号の柔軟な定義を
可能とする。
  他のほとんどの試験と比較して,試験Fjは確定した手法に基づいており,長時間の時刻歴試験を想定し
たものである。試験装置の技術的制限以外に振動特性に及ぼす制限はほとんどない。
  この試験における振動入力信号は,ファイルに格納されたデジタル時刻歴データによって規定されるた
め,二つの異なる試験の厳しさを比較するための一般的な方法は存在しない。振動の許容差は,試験の目
的によって異なるため,単一の尺度では与えられない。したがって,長時間の時刻歴の再現試験では,常
に使用者と仕様書作成者とによる高度な技術的判断が強く要求される。製品規格·試験方法規格の作成者
は,供試品とその用途に適した,試験手順,試験時刻歴,試験時刻歴の厳しさ及び許容差並びに分析方法
を選択することが望ましい。
  この試験方法は,振動試験装置として使えるコンピュータベースの制御システムを備えた動電式又はサ
ーボ油圧式の振動発生機を使うことを前提としている。
  長時間の時刻歴再現試験は,蓄積された応力の影響と,その結果としての機械的ぜい(脆)弱性及び性
能の劣化を識別するために使用可能である。この情報は,製品規格と合わせて,供試品の受入評価に使用
可能である。
  供試品が,他の試験方法によってカバーされる輸送環境又は実際の使用環境から生じる確定した過度的
性質又は周期的性質の振動を受ける場合,他の適した試験方法を採用するのがよい。供試品の動的振動環
境を推定し,それに基づいて適切な試験方法を選択するには,JIS C 60068-3-8 [1] 1)を参照する。
  附属書Aに,仕様書の作成に当たって考慮する可能性のある指針と詳細なリストを示す。

――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 4] ―――――

           2
C 60068-2-85 : 2020 (IEC 60068-2-85 : 2019)
  注1) 角括弧内の数字は,参考文献に対応。

1 適用範囲

  この規格は,時刻歴(長時間の時刻歴再現)によって定義される特定の振動試験要件を供試品に与え,
その機能及び/又は構造的な一体性を低下させることなく動荷重に耐える能力の評価を目的とする試験方
法について規定する。これらの時刻歴は,実環境で測定されたもの,又は人工的に生成されたものを使用
する。両方の場合において,この方法は特定の用途に合わせた試験条件を生成することが可能である。
  典型的な用途は,非常に具体的で確定した過渡的,周期的又は非周期的な加振で,かつ,動特性が他の
試験規格でカバーできない試験である。JIS C 60068-2-27 [2]の標準的な衝撃試験では十分に表現されない
時刻歴,又はJIS C 60068-2-81 [3]のような衝撃応答スペクトルによる一般的な試験,JIS C 60068-2-6の正
弦波ではカバーできない周期的振動及びJIS C 60068-2-64:2011のガウス又は非ガウス[高せん(尖)度]
広帯域ランダム振動試験ではカバーできないランダム振動を含む。ただし,長時間の時刻歴の再現では確
定した時刻歴が使用されるとユーザは認識しておく。あらゆる種類のランダム振動のシミュレーションは,
疑似ランダムで近似される。
  さらに,この試験方法では,要求される試験信号を表す時刻歴を生成することによって,混合モード試
験を可能にする。この試験は,非常に複雑な試験条件を含む。
  この試験の目的は,JIS C 60068-2-57 [4]とは異なる。JIS C 60068-2-57の目的は,主に合成された時刻歴
を使用して過渡振動を評価する。長時間の時刻歴試験は,実時間環境で測定された実際の時刻歴を使用し
た耐久性及び機能試験に主に使用する。シミュレーションされた非ガウスの時刻歴を適用する方法として
も使用可能である。
  この規格は,例えば,航空機,宇宙船,陸上車などの輸送又は動作環境に起因する非常に特殊な性質の
振動にさらされる可能性がある供試品に適用可能である。主に包装されていない供試品を対象とするが,
輸送コンテナが供試品の一部とみなされる場合,輸送コンテナ用容器を含めて対象とする。ただし,品目
が包装されている場合,品目自体を製品と呼び,品目とその包装を合わせて供試品と呼ぶ。この規格は,
包装製品の試験としてJIS C 60068-2-47と組み合わせて使用可能である。
  この規格は,主に電気·電子製品の供試品を対象とするが,それらに限定されるものではなく,必要に
応じて他の分野で使用可能である(附属書Aを参照)。
  この規格は,一軸加振に適用する。
  注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
        IEC 60068-2-85:2019,Environmental testing−Part 2-85: Tests−Test Fj: Vibration−Long time history
            replication(IDT)
          なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こと
        を示す。

2 引用規格

  次に掲げる引用規格は,この規格に引用されることによって,その一部又は全部がこの規格の要求事項
を構成している。これらの引用規格のうち,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その
後の改正版(追補を含む。)は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)

――――― [JIS C 60068-2-85 pdf 5] ―――――

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