JIS C 61000-4-16:2017 電磁両立性―第４－１６部：試験及び測定技術―直流から１５０ｋＨｚまでの伝導コモンモード妨害に対するイミュニティ試験

                                                          C 61000-4-16 : 2017 (IEC 61000-4-16 : 2015)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[3]
•  5 試験レベル・・・・[3]
•  5.1 一般事項・・・・[3]
•  5.2 電源周波数における試験レベル・・・・[3]
•  5.3 15 Hz150 kHzの周波数範囲における試験レベル 46 試験装置・・・・[5]
•  6.1 試験信号発生器・・・・[5]
•  6.2 試験信号発生器の特性の検証・・・・[6]
•  6.3 結合回路網及び減結合回路網・・・・[6]
•  7 試験配置・・・・[8]
•  7.1 一般事項・・・・[8]
•  7.2 接地の接続・・・・[8]
•  7.3 EUT・・・・[8]
•  7.4 試験信号発生器・・・・[8]
•  7.5 減結合装置又は分離装置・・・・[8]
•  8 試験手順・・・・[9]
•  8.1 一般事項・・・・[9]
•  8.2 試験室の環境基準・・・・[9]
•  8.3 試験の実施・・・・[9]
•  9 試験結果の評価・・・・[10]
•  10 試験報告書・・・・[11]
•  附属書A(参考)妨害の発生源及び結合メカニズム・・・・[16]
•  附属書B(参考)試験レベルの選択・・・・[17]
•  参考文献・・・・[18]

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――――― [JIS C 61000-4-16 pdf 1] ―――――

C 61000-4-16 : 2017 (IEC 61000-4-16 : 2015)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-4-16:2004は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-3-2 第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20 A以下の機器)
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4-16部 : 試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に
        対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション
        及びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

    JIS C 61000-6-1 第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニティ
    JIS C 61000-6-2 第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ

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――――― [JIS C 61000-4-16 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                    C 61000-4-16 : 2017
                                                                      (IEC 61000-4-16 : 2015)
        電磁両立性−第4-16部 : 試験及び測定技術−
     直流から150             kHzまでの伝導コモンモード妨害に
                          対するイミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-16: Testing and measurementtechniques-Test for immunity to conducted, common mode disturbances inthe frequency range 0 Hz to 150 kHz

序文

  この規格は,2015年に第2版として発行されたIEC 61000-4-16を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線又は側線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に対する電気・電子機器のイミュニティ要
求事項及び試験について規定する。
  この規格の目的は,電源,制御,信号及び通信の各ポートに対するコモンモード妨害について,電気・
電子機器を試験するため,共通の再現性がある試験方法の基準を確立することである。
  この規格では,次の内容を規定している。
− 試験電圧及び電流波形
− 試験レベルの範囲
− 試験装置
− 試験配置
− 試験手順
  平衡度の高い線路に用いることを意図しているポートなど,ある種のポートに対しては,各製品規格に
おいて追加試験を行ってもよい。
  試験は,電源線の電流,接地系の漏れ電流などから発生する伝導コモンモードの妨害波に対して電気・
電子機器が示すイミュニティを明らかにすることを目的としている。
  周波数が400 Hzの電源線から発生する妨害波は,この規格の適用範囲には含まない。
  このような妨害現象による実際の障害は,産業プラントを除いて比較的まれである。したがって,製品
委員会は,この規格を製品規格・製品群規格に適用することの妥当性を検討した方がよい(箇条4も参照)。
  この試験は,長さ20 m以下の短いケーブルに接続する機器のポートには適用しない。
  電力線搬送を含む交流電源ポートでの高調波及び次数間高調波に対するイミュニティ(ディファレンシ
ャルモード)は,この規格の適用範囲に含まれず,IEC 61000-4-13及びIEC 61000-4-19で規定している。

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2
C 61000-4-16 : 2017 (IEC 61000-4-16 : 2015)
  意図的に無線周波を発生する機器から生じる伝導妨害に対するイミュニティは,この規格の適用範囲に
含まれず,JIS C 61000-4-6で規定している。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          IEC 61000-4-16:2015,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-16: Testing and measurement
              techniques−Test for immunity to conducted, common mode disturbances in the frequency range 0
              Hz to 150 kHz(IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 引用規格

  (対応国際規格では記載があるが,実際の引用規格がないため,不採用とした。)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
    注記 この箇条の全ての定義をJIS C 60050-161で規定しているわけではない。
3.1
供試機器,EUT(equipment under test)
  試験を受ける機器。
3.2
補助機器(auxiliary equipment)
  EUTを正常に動かし,性能を正しく評価するために必要な機器。
3.3
ポート(port)
  機器の外部電磁環境との接続箇所(図1参照)。
3.4
結合(coupling)
  エネルギーの出し入れを伴う回路間の相互作用。
3.5
結合回路網(coupling network)
  エネルギーの出し入れを目的とする電気回路。
3.6
減結合回路網(decoupling network)
  EUTに印加する試験電圧によって,EUT以外の装置,機器又はシステムが影響を受けるのを防止するた
めの電気回路。
3.7
イミュニティ(妨害に対する)[immunity(to a disturbance)]
  電磁妨害が存在する環境で,機器,装置又はシステムが性能低下せずに動作することができる能力。
  (JIS C 60050-161 01-20)
3.8
(試験信号発生器の)ソースインピーダンス(source impedance of the test generator)

――――― [JIS C 61000-4-16 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                          C 61000-4-16 : 2017 (IEC 61000-4-16 : 2015)
  開放電圧Vocを短絡電流Iscで除した値。

4 一般事項

  直流から150 kHzまでの周波数領域の伝導コモンモード妨害が,住宅地域,工業地域及び電力設備に設
置される機器並びにシステムの正常な運転に影響を与える可能性がある。
  供試機器(EUT)のポートのうち,この規格で扱う妨害の影響を受ける可能性があるポートだけを,こ
の規格の要求事項の対象として考慮しなければならない。
  この規格が扱う妨害の主な発生要因は,次による。
− 基本波周波数,顕著な高調波及び次数間高調波をもつ電力配電システム。
− 電力変換装置などのパワーエレクトロニクス装置。パワーエレクトロニクス装置は,(浮遊容量又はフ
    ィルタを通して)接地導体及び接地系に妨害を流す可能性がある。また,誘導によって信号及び制御
    回路に妨害を与える可能性がある。
  周波数が電源周波数及びその高調波領域の妨害は,通常,電力配電システム(接地系に流れる故障電流
及び漏れ電流)によってもたらされる。
  交流電源周波数の高調波領域を超える周波数の妨害(150 kHzまで)は,通常,パワーエレクトロニク
ス装置が原因である。パワーエレクトロニクス装置は,工場及び電力設備でしばしば利用されている。
  妨害発生源と,電源,信号,制御及び通信ケーブルとが結合されることによって,これらの妨害がEUT
のポートに伝わる。
  上記の結合メカニズムを完全に取り除くことは不可能なため,機器は妨害に対する適切なイミュニティ
をもたなければならない。
  機器が設置される状況に応じて,妨害は次のように分類する。
a) 電源周波数の電圧及び電流 : 直流,50 Hz及び60 Hz。
b) 周波数範囲15 Hz150 kHzの電圧及び電流(電源周波数の高調波を含む。)。
  この規格は,上記の両方の妨害に対する試験を規定する。製品規格の段階で,個々の試験の適用可否を
決定する。
  附属書Aに,コモンモード妨害に関するより詳しい情報を示す。

5 試験レベル

5.1 一般事項

  妨害源及び機器のポートの種類に応じて適用する望ましい試験レベルは,5.2及び5.3による。
  電源周波数(直流,50 Hz及び60 Hz)及び15 Hz 150 kHzの周波数範囲に対して,それぞれの試験レ
ベルを決定する。
  製品規格において,それぞれの試験の採否を規定する。
  試験電圧は,コモンモードの形で電源ポート,制御ポート,信号ポート及び通信ポートに印加する(回
路が平衡でない場合には,ディファレンシャルモード電圧が生じる場合がある。)。
  附属書Bに,試験レベルの選定に関する情報を示す。

5.2 電源周波数における試験レベル

  望ましい試験レベルは,表1及び表2による。
  これらのレベルは,直流並びに50 Hz及び60 Hzの交流電源周波数に対して適用する。

――――― [JIS C 61000-4-16 pdf 5] ―――――

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