JIS C 61000-4-20:2014 電磁両立性―第４－２０部：試験及び測定技術―ＴＥＭ（横方向電磁界）導波管のエミッション及びイミュニティ試験

                                                                              C 61000-4-20 : 2014

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語,定義及び略号・・・・[2]
•  3.1 用語及び定義・・・・[2]
•  3.2 略号・・・・[5]
•  4 一般事項・・・・[5]
•  5 TEM導波管の要求事項・・・・[6]
•  5.1 一般事項・・・・[6]
•  5.2 TEM導波管を使用するための一般要求事項・・・・[6]
•  5.3 特定のTEM導波管に対する要求事項及び推奨事項・・・・[9]
•  6 EUTのタイプの概要・・・・[10]
•  6.1 一般事項・・・・[10]
•  6.2 小さいEUT・・・・[10]
•  6.3 大きいEUT・・・・[10]
•  7 試験室の基準条件・・・・[10]
•  7.1 一般事項・・・・[10]
•  7.2 気象条件・・・・[11]
•  7.3 電磁環境条件・・・・[11]
•  8 試験結果の評価及び報告・・・・[11]
•  附属書A(規定)TEM導波管によるエミッション試験・・・・[12]
•  附属書B(規定)TEM導波管によるイミュニティ試験・・・・[30]
•  附属書C(参考)TEM導波管によるHEMP過渡試験・・・・[36]
•  附属書D(参考)TEM導波管の特性・・・・[42]
•  附属書E(参考)TEM導波管における電界プローブの校正方法・・・・[48]
•  参考文献・・・・[58]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[63]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 61000-4-20 pdf 1] ―――――

C 61000-4-20 : 2014

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-4-20:2006は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000-4の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニテ
        ィ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対するイ
        ミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための高
        調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4部 : 試験及び測定技術−第8節 : 電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイ
        ミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4部 : 試験及び測定技術−第16節 : 直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨
        害に対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対するイ
        ミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイ
        ミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション及
        びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の電
        圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 61000-4-20 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                    C 61000-4-20 : 2014

電磁両立性−第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及びイミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-20: Testing and measurement techniques-Emission andimmunity testing in transverse electromagnetic (TEM) aveguides

序文

  この規格は,2010年に第2版として発行されたIEC 61000-4-20を基とし,一部の技術的内容の誤り,記
述の不正確,日本工業規格(日本産業規格)の目的に合致しない規定などのため,技術的内容を変更して作成した日本工業
規格である。
  なお,この規格で側線又は点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。
変更の一覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,様々な種類のTEM(横方向電磁界)導波管を用いた電気・電子装置に対するエミッション
及びイミュニティ試験方法について規定する。これらの形式には,開放構造(例えば,ストリップライン
及び電磁パルスシミュレータ)及び密閉構造(例えば,TEMセル)を含む。これらの構造は,1ポート(開
口),2ポート又は多ポートTEM導波管に更に分類できる。周波数範囲は,具体的な試験要求条件及びTEM
導波管の種類に依存する。
  この規格の対象を,次に示す。
− 周波数範囲及び供試装置(以下,EUTという。)の大きさの制限を含むTEM導波管の特性
− EMC試験におけるTEM導波管の有効性検証の方法
− EUT[例 EUTきょう(筐)体及びケーブル]の定義
− TEM導波管を用いた放射エミッション試験における試験セットアップ,手順及び要求条件
− TEM導波管を用いた放射イミュニティ試験における試験セットアップ,手順及び要求条件
    注記1 この規格では,EUTへの電磁放射の効果及び対象とするEUTからの電磁エミッションを測
            定するための試験方法を規定している。電磁放射のシミュレーション及び測定は,全ての実
            使用環境にある設備に対しては,その効果を十分正確に定量化できない。規定する試験方法
            は,効果の定性的な分析のために,様々な試験設備において,結果の適正な再現性を確立す
            ることを主目的としている。
  この規格は,特定の機械又はシステムに適用する試験を規定するものではない。この規格は,関係する
全ての製品規格委員会に対し,一般的な基本規格を提供することを意図している。放射エミッション試験

――――― [JIS C 61000-4-20 pdf 3] ―――――

2
C 61000-4-20 : 2014
の場合,製品規格委員会は,エミッション許容値及びCISPR規格を参照した試験方法を,選択することが
望ましい。放射イミュニティ試験の場合,製品規格委員会は,それらの適用範囲内の装置に対するイミュ
ニティ試験及びイミュニティ試験レベルの適切な選択に責任をもつ。この規格は,JIS C 61000-4-3とは異
なる試験方法を示す。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61000-4-20:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-20: Testing and measurement
                techniques−Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM)   aveguides
                (MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility(IDT)
    JIS C 61000-4-3 電磁両立性−第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
      注記 対応国際規格 : IEC 61000-4-3:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-3: Testing and
             measurement techniques−Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity test(IDT)
    CISPR 16-1-1,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1-1:
        Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Measuring apparatus
    CISPR 16-1-4,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part 1-4:
        Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Antennas and test sites for radiated disturbance
        measurements
    CISPR 16-2-3:2006,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−Part
        2-3: Methods of measurement of disturbances and immunity−Radiated disturbance measurements
    CISPR 22,Information technology equipment−Radio disturbance characteristics−Limits and methods of
        measurement

3 用語,定義及び略号

3.1 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1.1
横方向電磁界モード,TEMモード(transverse electromagnetic mode)
  伝搬方向の電界及び磁界成分が,どの横方向断面をとっても主電磁界成分より十分小さい導波管のモー
ド。
3.1.2
TEM導波管(TEM waveguide)

――――― [JIS C 61000-4-20 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                              C 61000-4-20 : 2014
  導波管内において電磁波がTEMモードで伝搬し,試験で用いる特定の電磁界が発生する,開放又は密
閉形の伝送線路系。
3.1.3
TEMセル(TEM cell)
  通常は方形の同軸伝送線路で,電磁波はTEMモードで伝搬し,試験で用いる特定の電磁界を発生し,
外部導体は内部導体を完全に取り囲んでいる,密閉形TEM導波管。
3.1.4
2ポートTEM導波管(two-port TEM waveguide)
  両端に入出力ポートのあるTEM導波管。
3.1.5
1ポートTEM導波管(one-port TEM waveguide)
  入出力ポートが一つだけのTEM導波管。
    注記 このようなTEM導波管は,通常,ポートの反対側に広帯域伝送線路終端を備えている。
3.1.6
ストリップライン(stripline)
  2枚以上の平行板で構成し,平行板の間を電磁波がTEMモードで伝搬し,試験で用いるための特定の電
磁界を発生する,終端した伝送線路。
    注記 ストリップラインは開放された側面をもつため,EUTの設置,操作及び監視が容易である。
3.1.7
内部導体(inner conductor)
セプタム(septum)
  方形断面の場合は平面であることが多い,同軸伝送線路系の内部の導体。内部導体は外部導体に対して
対称又は非対称に位置することがある。
3.1.8
外部導体(outer conductor or chassis)
  多くの場合方形断面をもつ,同軸伝送線路系の外部の導体。
3.1.9
特性インピーダンス(characteristic impedance)
  任意の定位相波面における,内部導体と外部導体との間の電圧の,それぞれの導体に流れる電流に対す
る比の大きさ。特性インピーダンスは,電圧及び電流そのものの大きさには無関係であり,同軸ケーブル
断面の幾何学的構造だけに依存する。
    注記 TEM導波管の特性インピーダンスは,通常,50 Ωである。100 Ωの特性インピーダンスをもつ
          TEM導波管は,多くの場合過渡試験に使用される。
3.1.10
電波吸収体(anechoic material)
  吸収又は反射によって電磁エネルギーのレベルを減衰させる特性を示す材料。
3.1.11
広帯域伝送線路終端(broadband transmission-line termination)
  TEM導波管の特性インピーダンス(通常,50 Ω)に整合させるために,低周波域でのディスクリート抵
抗負荷と,高周波域での電波吸収体とを組み合わせた終端。

――――― [JIS C 61000-4-20 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6