JIS C 61000-4-22:2014 電磁両立性―第４－２２部：試験及び測定技術―全電波無響室（ＦＡＲ）における放射エミッション及びイミュニティ試験

                                                          C 61000-4-22 : 2014 (IEC 61000-4-22 : 2010)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 FARの用途・・・・[3]
•  4.1 放射イミュニティ試験における測定量・・・・[3]
•  4.2 放射エミッション測定における測定量・・・・[4]
•  5 FARの検証及び校正手順・・・・[4]
•  5.1 一般・・・・[4]
•  5.2 検証時のセットアップ・・・・[4]
•  5.3 試験設備・・・・[8]
•  5.4 FAR検証手順によって決定する量の定義・・・・[8]
•  5.5 FAR検証における測定位置・・・・[9]
•  5.6 FAR検証手順・・・・[10]
•  5.7 検証要求事項・・・・[12]
•  6 試験セットアップ・・・・[12]
•  附属書A(規定)放射イミュニティ試験・・・・[17]
•  附属書B(規定)放射エミッション測定・・・・[22]
•  附属書C(参考)システム変換係数並びにエミッション及びイミュニティの同時検証方法の背景・・・・[25]
•  附属書D(参考)測定の不確かさ・・・・[28]

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C 61000-4-22 : 2014 (IEC 61000-4-22 : 2010)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気学会(IEEJ)及び一般財
団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日
本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000-4の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4部 : 試験及び測定技術−第8節 : 電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイ
        ミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4部 : 試験及び測定技術−第16節 : 直流から150 kHzまでの伝導コモンモード
        妨害に対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション及
        びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                    C 61000-4-22 : 2014
                                                                      (IEC 61000-4-22 : 2010)

電磁両立性−第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション及びイミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-22: Testing and measurement techniques-Radiated emissionsand immunity measurements in fully anechoic rooms (FARs)

序文

  この規格は,2010年に第1版として発行されたIEC 61000-4-22を基に,技術的内容及び構成を変更す
ることなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,全電波無響室(以下,FARという。)を利用して,電磁放射現象に関わる電気・電子装置
の放射イミュニティ試験及び放射エミッション測定を行うための試験手順要求事項について規定する。
    注記1 この規格は,IEC Guide 107で記載しているように,製品規格を作成するときに用いる基本
            EMC規格である。また,製品規格委員会は,この規格を適用すべきかどうかを決定する責
            任をもつ。そして,この基本規格を適用する場合,適切な試験レベル及び性能評価基準を決
            める責任がある。
  この規格は,同じFARを用いて放射イミュニティ試験及び放射エミッション測定を実施するときの,
共通の供試装置(以下,EUTという。)セットアップ要求事項,及びFARに関する検証手順に適用する。
  この規格は,関連する全ての製品規格委員会に一般的な測定手順を提供することを主な目的とした基本
規格であり,特定の装置又はシステムに適用する試験レベル及びエミッション許容値を規定しない。
  特定の動作環境及び試験条件は,製品規格委員会が規定する。
  この規格で規定する方法は,周波数30 MHz18 GHzの範囲における放射エミッション及びイミュニテ
ィ試験に適用する。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61000-4-22:2010,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-22: Testing and measurement
                techniques−Radiated emissions and immunity measurements in fully anechoic rooms (FARs)
                (IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致してい
            る”ことを示す。

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2
C 61000-4-22 : 2014 (IEC 61000-4-22 : 2010)

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 60050-161:1997 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161:1990,International Electrotechnical Vocabulary. Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility(IDT)
    CISPR 16-1-1:2010,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−
        Part 1-1: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Measuring apparatus
    CISPR 16-1-4:2010,Specification for radio disturbance and immunity measuring apparatus and methods−
        Part 1-4: Radio disturbance and immunity measuring apparatus−Antennas and test sites for radiated
        disturbance measurements

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1
測定用補助装置(ancillary equipment)
  測定受信器又は(試験)信号発生器に接続し,EUTと測定又は試験装置との間で妨害信号伝送に利用
するトランスデューサ(例えば,電流プローブ,電圧プローブ及び擬似回路網)。
3.2
補助装置,AE(associated equipment)
  EUTの動作を補助するために必要な装置。
3.2A
システム変換係数,CdB(system transducer factor)
  測定システムの,給電終端点における電力又は受信終端点における受信電圧を,電界強度に変換する係
数。
    注記 システム変換係数は,デシベル毎メートル[dB(1/m)]で表す。
3.3
                                system transducer factor)
平均システム変換係数, C(average
                        dB
  FAR検証データによって得られる水平及び垂直偏波の各々について,全測定点のシステム変換係数測
定結果を平均した値。
    注記 平均システム変換係数は,デシベル毎メートル[dB(1/m)]で表す。
3.4
校正(calibration)
  測定装置又は測定システムが示す物理量の値と,標準器が示す値との関係を,特定の条件下で確立する
一連の作業。
3.5
進行波電力,Pf.x(forward power)
  試験領域における単一な任意の測定点xにおける電界強度に対応するFAR試験システムへの電力。
    注記 進行波電力は,ワット(W)で表す。

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                                                                                              3
                                                          C 61000-4-22 : 2014 (IEC 61000-4-22 : 2010)
3.6
全電波無響室,FAR(fully anechoic room)
  目的の周波数範囲において電磁エネルギーを吸収するために,内部の全面に電波吸収体を張り付けたシ
ールドルーム。
3.7
全電波無響室試験システム,FAR test system(fully anechoic test system)
  FARを含む電磁場発生及びそれを測定する手段からなる試験システム。
    注記 最も典型的なシステムでは,FAR,アンテナ,補助装置,ケーブルなどから成る。
3.8
測定距離,dmeasurement(measurement distance)
  EUT測定又は試験のために用い,送信又は受信アンテナの基準点からEUTの最も近い点までの距離。
    注記 測定距離は,メートル(m)で表す(図A.1及び図B.1参照)。
3.9
正規化進行波電力,Pfn,x(normalized forward power)
  試験領域中の測定点xにおいて,1 V/mの電界強度を発生するのに必要な進行波電力。
    注記 正規化進行波電力は,ワット(W)で表す。
3.10
偏波(polarization)
  電磁波が空間を伝搬する場合の電界の振動する方向。
3.11
基準距離,dreference(reference distance)
  許容値の決定に用いる距離。
3.12
試験領域(test volume)
  EUT及びそのケーブルを配置する可能性がある,FARにおける最大領域(箇条6を参照)。
3.13
検証(validation)
  計測器及び制御システム(ハードウェア及びソフトウェア)が,その機能的,性能的及びインタフェー
ス要求事項の全てに合致することを確認する手順。
3.14
検証距離,dvalidation(validation distance)
  検証又は校正に用いる,送信又は受信アンテナの基準点から試験領域までの最も近い距離。

4 FARの用途

4.1 放射イミュニティ試験における測定量

  大部分の電子装置は,何らかの形で電磁放射による影響を受ける。このような電磁放射源には,保守要
員が使用する小形携帯無線トランシーバ,ラジオ及びテレビ放送局,車載ラジオ送信機など様々な電磁放
射源がある。
  この規格が対象とする周波数範囲は,全ての場合において遠方界条件を確立することができるとは限ら
ない(例えば,低い周波数)。したがって,妨害を示すために実際の電磁気現象を模擬する物理量は,“電

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