JIS C 61000-4-34:2017 電磁両立性―第４－３４部：試験及び測定技術―１相当たりの入力電流が１６Ａを超える電気機器の電圧ディップ，短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

                                             C 61000-4-34 : 2017 (IEC 61000-4-34 : 2005,Amd.1 : 2009)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 一般事項・・・・[3]
•  5 試験レベル・・・・[4]
•  5.1 電圧ディップ及び短時間停電・・・・[4]
•  5.2 電圧変動(オプション)・・・・[5]
•  6 試験装置・・・・[6]
•  6.1 試験電圧発生器・・・・[6]
•  6.2 電源・・・・[8]
•  7 試験セットアップ・・・・[8]
•  8 試験手順・・・・[8]
•  8.1 試験室の基準条件・・・・[9]
•  8.2 試験の実施・・・・[9]
•  9 試験結果の評価・・・・[11]
•  10 試験報告書・・・・[11]
•  附属書A(規定)試験電圧発生器の電流供給能力・・・・[12]
•  附属書B(参考)電磁環境クラス・・・・[14]
•  附属書C(参考)三相試験のためのベクトル・・・・[15]
•  附属書D(参考)試験装置・・・・[20]
•  附属書E(参考)大電流装置の電圧ディップイミュニティ試験・・・・[22]

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――――― [JIS C 61000-4-34 pdf 1] ―――――

C 61000-4-34 : 2017 (IEC 61000-4-34 : 2005,Amd.1 : 2009)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人電気
学会(IEEJ)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正す
べきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS C 61000-4-34:2008は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61000の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61000-3-2 第3-2部 : 限度値−高調波電流発生限度値(1相当たりの入力電流が20 A以下の機器)
    JIS C 61000-4-2 第4-2部 : 試験及び測定技術−静電気放電イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-3 第4-3部 : 試験及び測定技術−放射無線周波電磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-4 第4-4部 : 試験及び測定技術−電気的ファストトランジェント/バーストイミュニ
        ティ試験
    JIS C 61000-4-5 第4-5部 : 試験及び測定技術−サージイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-6 第4-6部 : 試験及び測定技術−無線周波電磁界によって誘導する伝導妨害に対する
        イミュニティ
    JIS C 61000-4-7 第4-7部 : 試験及び測定技術−電力供給システム及びこれに接続する機器のための
        高調波及び次数間高調波の測定方法及び計装に関する指針
    JIS C 61000-4-8 第4-8部 : 試験及び測定技術−電源周波数磁界イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-11 第4-11部 : 試験及び測定技術−電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-14 第4部 : 試験及び測定技術−第14節 : 電圧変動イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-16 第4-16部 : 試験及び測定技術−直流から150 kHzまでの伝導コモンモード妨害に
        対するイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-17 第4部 : 試験及び測定技術−第17節 : 直流入力電源端子におけるリプルに対する
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-20 第4-20部 : 試験及び測定技術−TEM(横方向電磁界)導波管のエミッション及び
        イミュニティ試験
    JIS C 61000-4-22 第4-22部 : 試験及び測定技術−全電波無響室(FAR)における放射エミッション
        及びイミュニティ試験
    JIS C 61000-4-34 第4-34部 : 試験及び測定技術−1相当たりの入力電流が16 Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

    JIS C 61000-6-1 第6-1部 : 共通規格−住宅,商業及び軽工業環境におけるイミュニティ
    JIS C 61000-6-2 第6-2部 : 共通規格−工業環境におけるイミュニティ

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――――― [JIS C 61000-4-34 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                    C 61000-4-34 : 2017
                                                       (IEC 61000-4-34 : 2005,Amd.1 : 2009)
        電磁両立性−第4-34部 : 試験及び測定技術−
     1相当たりの入力電流が16                        Aを超える電気機器の

電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティ試験

Electromagnetic compatibility (EMC)-Part 4-34: Testing and measurementtechniques-Voltage dips, short interruptions and voltage variationsimmunity tests for equipment with mains current more than 16 A per phase

序文

  この規格は,2005年に第1版として発行されたIEC 61000-4-34及びAmendment 1(2009)を基に,技術
的内容及び対応国際規格の構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。ただし,追補
(amendment)については,編集し,一体とした。

1 適用範囲

  この規格は,電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対して,低圧電源に接続する電気・電子機器の
イミュニティ試験方法及び適切な試験レベルの範囲について規定する。
  この規格は,定格入力電流が1相当たり16 Aを超える電気・電子機器に適用する[1相当たり200 Aを
超える電気・電子機器の指針(附属書E)参照]。産業機械,住宅地域に設置する機器が単相及び三相電源
で50 Hz又は60 Hzの交流回路のいずれかに接続する場合の電圧ディップ及び短時間停電を規定する。
    注記1 定格入力電流が1相当たり16 A以下の電気・電子機器は,JIS C 61000-4-11で規定する。
    注記2 この規格には,入力電流の上限はない。
  この規格は,400 Hzの交流回路に接続する電気・電子機器には適用しない。これらの機器に対する試験
は,将来のIEC規格で取り扱う。
  この規格の目的は,電圧ディップ,短時間停電及び電圧変動に対するイミュニティを評価するための一
般的な基準を確立することにある。
    注記3 低振幅電圧変動のイミュニティ試験は,JIS C 61000-4-14で規定する。
    注記4 定格電流が1相当たり250 Aを超える供試機器において,適した試験装置を得るのが難しい
            場合がある。このような場合には,この規格の適用可否は,共通規格及び製品規格委員会が
            慎重に評価することが望ましい。その代わりとして,この規格は,製造業者と購入者との間
            の性能評価基準の協定の枠組みとして用いる場合がある。
  この規格は,機器のイミュニティを評価するための矛盾がない方法,又は定義する現象に対する体系を
規定する。この規格は,基本EMC規格であり,製品規格で用いる。

――――― [JIS C 61000-4-34 pdf 3] ―――――

2
C 61000-4-34 : 2017 (IEC 61000-4-34 : 2005,Amd.1 : 2009)
    注記5 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61000-4-34:2005,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-34: Testing and measurement
                techniques−Voltage dips, short interruptions and voltage variations immunity tests for
                equipment with mains current more than 16 A per phase及びAmendment 1:2009(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 60050-161 EMCに関するIEV用語
      注記 対応国際規格 : IEC 60050-161,International Electrotechnical Vocabulary (IEV)−Chapter 161:
             Electromagnetic compatibility(IDT)
    IEC/TR 61000-2-8,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 2-8: Environment−Voltage dips and short
        interruptions on public electric power supply systems with statistical measurement results
    IEC 61000-4-30,Electromagnetic compatibility (EMC)−Part 4-30: Testing and measurement techniques−
        Power quality measurement methods

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS C 60050-161によるほか,次による。
3.1
基本EMC規格(basic EMC standard)
  電磁両立性を実現するための一般的及び基本的な条件又は規則を規定し,全ての製品及びシステムに関
係又は適用し,製品規格委員会の参考となる規格。
3.2
イミュニティ(妨害に対する)[immunity(to a disturbance)]
  電磁妨害が存在する環境で,機器,装置又はシステムが性能低下せずに動作することができる能力。
  (JIS C 60050-161 01-20)
3.3
電圧ディップ(voltage dip)
  電力供給システムのある地点において発生し,短時間で復帰する,規定の電圧ディップしきい値以下へ
の突然の電圧低下。
    注記1 一般的に,電圧ディップは,系統又は系統に接続する設備における,回路の短絡などによる
            急激な電流の増加の開始から終了までの間に発生する。
    注記2 電圧ディップは,そのレベルが電圧及び時間(継続時間)によって決まる二次元の電磁妨害
            である。
3.4
短時間停電(short interruption)
  電力供給システムのある地点において発生し,短時間で復帰する,規定の短時間停電しきい値以下への
全ての相の突然の電圧低下。

――――― [JIS C 61000-4-34 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                             C 61000-4-34 : 2017 (IEC 61000-4-34 : 2005,Amd.1 : 2009)
    注記 一般的に,短時間停電は,系統又は系統に接続する設備における,回路の短絡を除去するため
          に行う遮断器の開放から再閉路の間に発生する。
3.5
残存電圧(電圧ディップの)[residual voltage(of voltage dip)]
  電圧ディップ又は短時間停電の最中に記録された,実効値電圧の最小値。
    注記 残存電圧は,電圧値(ボルト),又は基準電圧の百分率若しくはPU(Per Unit)値のいずれかで
          表現することもある。
3.6
誤動作(malfunction)
  機器が想定する動作を実行できなくなる状態,又は想定しない動作を実行する状態。
3.7
校正(calibration)
  標準器と比較することによって,指定する条件で指示と測定結果との間の関係を立証する一連の操作。
    注記1 この用語は,“不確かさ”手法に基づく。
    注記2 指示と測定結果との間の関係は,通常,校正図で表す。
  (IEV 311-01-09)
3.8
検証(verification)
  試験システム(例えば,試験電圧発生器と相互接続しているケーブル)を確認し,この試験システムが
箇条6に規定する仕様の範囲内で機能していることを証明するために用いる一連の操作。
    注記1 検証のために用いる方法は,校正のために用いる方法と異なることもある。
    注記2 6.1.2の検証手順は,意図する波形を供試機器(以下,EUTという。)に印加するための試験
            セットアップを構成する試験電圧発生器,及びほかの構成機器の正しい動作を保証するため
            の指針としての意味をもつ。
    注記3 この規格の目的上,この定義は,IEV 311-01-13で規定する定義とは異なる。

4 一般事項

  電気・電子機器は,電源の電圧ディップ,短時間停電又は電圧変動によって影響を受けることがある。
  電圧ディップ及び短時間停電は,電力系統若しくは設備における短絡などの故障(IEC/TR 61000-2-8参
照),又は負荷の大きな急変によって発生する。ある状況では,2回以上連続した電圧ディップ又は短時間
停電が発生することがある。電圧変動は,電源に接続した連続的に変化する負荷によって発生する。
  機器端子の電圧ディップは,系統の故障地点と機器接続点との間の変圧器の結線の影響を受ける。変圧
器の結線は,機器が受ける電圧ディップの大きさ及び位相関係の両方に影響する。
  これらの現象は,実際には不規則であるが,試験所でシミュレーションの目的に沿って定格電圧からの
逸脱幅及び継続時間で特徴付けることができる。
  したがって,この規格では,急激に変化する電圧の影響をシミュレーションするための各種試験を規定
する。これらの試験は,製品規格で,規定する場合にだけ適用する。
  この規格において,考察した現象の中で,どの現象が問題となるかを確定し,試験の適用を決定するの
は,製品規格委員会の責任とする。

――――― [JIS C 61000-4-34 pdf 5] ―――――

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