JIS C 6122-1-2:2011 光増幅器―測定方法―第１－２部：パワーパラメータ及び利得パラメータ―電気スペクトラムアナライザ法

                                                             C 6122-1-2 : 2011 (IEC 61290-1-2 : 2005)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[2]
•  3 略語・・・・[2]
•  4 装置・・・・[2]
•  5 試料・・・・[4]
•  6 手順・・・・[5]
•  7 計算・・・・[7]
•  8 測定結果・・・・[9]

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C 6122-1-2 : 2011 (IEC 61290-1-2 : 2005)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技術振興協会(OITDA)及
び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,
日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによってJIS C 6122-1及びJIS C 6122-2は廃止され,その一部を分割して制定したこの規格に置き
換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 6122の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 6122-1-1 第1-1部 : パワーパラメータ及び利得パラメータ−光スペクトラムアナライザ法
    JIS C 6122-1-2 第1-2部 : パワーパラメータ及び利得パラメータ−電気スペクトラムアナライザ法
    JIS C 6122-1-3 第1-3部 : パワーパラメータ及び利得パラメータ−光パワーメータ法
    JIS C 6122-3 第3部 : 雑音指数パラメータ
    JIS C 6122-3-1 第3-1部 : 雑音指数パラメータ−光スペクトラムアナライザ法(予定)
    JIS C 6122-3-2 第3-2部 : 雑音指数パラメータ−電気スペクトラムアナライザ試験方法
    JIS C 6122-5-1 第5-1部 : 光反射率パラメータ測定方法−光スペクトラムアナライザを用いた測定方
        法
    JIS C 6122-6 第6部 : 漏れ励起光パラメータ測定方法
    JIS C 6122-7 第7部 : 波長帯域外挿入損失測定方法
    JIS C 6122-10-1 第10-1部 : マルチチャネルパラメータ−光スイッチ及び光スペクトラムアナライザ
        を用いたパルス法
    JIS C 6122-10-2 第10-2部 : マルチチャネルパラメータ−ゲート付き光スペクトラムアナライザを用
        いたパルス法
    JIS C 6122-10-3 第10-3部 : マルチチャネルパラメータ−プローブ法(予定)
    JIS C 6122-11-1 第11-1部 : 偏波モード分散パラメータ−ジョーンズマトリクス固有値解析(JME)
        法

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                        C 6122-1-2 : 2011
                                                                       (IEC 61290-1-2 : 2005)

光増幅器−測定方法−第1-2部 : パワーパラメータ及び利得パラメータ−電気スペクトラムアナライザ法

Optical amplifiers-Test methods-Part 1-2: Power and gain parameters-Electrical spectrum analyzer method

序文

  この規格は,2005年に第2版として発行されたIEC 61290-1-2を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。
  この分野には新技術が多く,しかも日々進展中であるため,この規格は,改正版が発行されることが考
えられる。

1 適用範囲

  この規格は,電気スペクトラムアナライザを用いて行う,光増幅器(OA)のパワーパラメータ測定及び
利得パラメータ測定の方法について規定する。
  この規格の目的は,電気スペクトラムアナライザを用いて,JIS C 6121の箇条3(用語,定義及び略語)
で定義するOAの次のパラメータについて,正確かつ信頼性のある測定を行うために必要な一定の条件を
確立することにある。
a) 公称出力信号光パワー
b) 利得
c) 逆方向利得
d) 最大利得
e) 最大利得波長
f)  最大利得温度変動
g) 利得波長帯域
h) 利得波長変動
i)  利得安定度
j)  偏波依存利得変動
k) 大信号出力安定度
l)  飽和出力光パワー
m) 最大入力信号光パワー
n) 最大出力信号光パワー

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2
C 6122-1-2 : 2011 (IEC 61290-1-2 : 2005)
o) 入力光パワー範囲
p) 出力光パワー範囲
q) 最大全出力光パワー
    注記1 これらのパラメータのうち,技術的に確立されていない項目については,現在IECで審議中
            である。
    注記2 f),h)及びi)は,対応国際規格の編集上の誤りによって,対応国際規格にはない事項である。
  この規格は,特にシングルチャネル用OAに適用することを目的としている。マルチチャネル用OAに
ついては,IEC 61290-10シリーズ(マルチチャネルパラメータ測定方法)を参照。
  この規格は,商用化されているOAに適用する。ここでいうOAには,光ファイバ増幅器(OFA),半導
体光増幅器(SOA)及び平面導波路形光増幅器(POWA)を含む。OFAには希土類添加OFA及びラマン効
果を用いたOFAを含む。
    注記3 この規格に規定する試験方法の,分布ラマン増幅器への適用可能性は,更に検討を要する。
    注記4 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61290-1-2:2005,Optical amplifiers−Test methods−Part 1-2: Power and gain parameters−
                Electrical spectrum analyzer method(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6121 光増幅器−通則
      注記 対応国際規格 : IEC 61291-1:2006,Optical amplifiers−Part 1: Generic specification(IDT)
    IEC 60793-1-40,Optical fibres−Part 1-40: Measurement methods and test procedures−Attenuation
      注記 対応日本工業規格(日本産業規格) : JIS C 6823 光ファイバ損失試験方法(MOD)

3 略語

  ASE     増幅された自然放出光                (Amplified spontaneous emission)
  DBR     分布ブラッグ反射形(半導体レーザ) [Distributed Bragg reflector (laser diode)]
  DFB     分布帰還形(半導体レーザ)          [Distributed feed-back (laser diode)]
  ECL     外部共振器形半導体レーザ            [External cavity laser (diode)]
  LED     発光ダイオード                      (Light emitting diode)
  OA      光増幅器                            (Optical amplifier)
  OFA     光ファイバ増幅器                    (Optical fibre amplifier)
  POWA 平面導波路形光増幅器                   (Planar optical waveguide amplifier)
  SOA     半導体光増幅器                      (Semiconductor optical amplifier)

4 装置

  測定系の構成を,図1に示す。

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                                                                                              3
                                                             C 6122-1-2 : 2011 (IEC 61290-1-2 : 2005)
                                a) 時間平均入力信号光パワーの測定
                              b) 電気信号で変調された入力信号の測定
                               c) 電気信号で変調された出力信号の測定
               図1−電気スペクトラムアナライザによる利得及び光パワー測定系の構成
  必要な測定機器及びその所要性能は,次による。
    注記1 この規格で(*)を付けた全ての数値は,測定を確かなものとするための推奨値である。その他
            の値を用いることも可能であるが,その妥当性を確認することが望ましい。
a) 光源 光源は,波長固定又は波長可変とする。
  − 波長固定光源 この光源は,個別規格で規定する波長及び光パワーの光を発生する。その他の規定
      がない場合,光源は,スペクトル半値全幅が1 nm(*)以下の変調された光を出力する。例えば,DFB
      レーザ,DBRレーザ,外部共振器形半導体レーザ(ECL)又は狭帯域光フィルタ付LEDが適用で
      きる。DFBレーザ,DBRレーザ,又はECLのサイドモード抑圧比は,30 dB(*)以上とする。出力光
      パワー変動は,0.05 dB(*)以下とするが,これは光源の出力側に光アイソレータを接続すれば容易に
      達成できる。
        注記2 レーザ光源の場合,発振スペクトルの裾野の広がりは,最小限とすることが望ましい。
  − 波長可変光源 この光源は,個別規格で規定する波長範囲及び光パワーの光を波長可変で発生する。

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