JIS C 61280-1-3:2017 光ファイバ通信サブシステム試験方法―第１－３部：中心波長及びスペクトル幅測定

                                                            C 61280-1-3 : 2017 (IEC 61280-1-3 : 2010)

pdf 目 次

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•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  3.1 波長・・・・[2]
•  3.2 スペクトル幅・・・・[2]
•  3.3 その他のスペクトル特性・・・・[2]
•  4 試験装置・・・・[2]
•  4.1 校正した光スペクトラムアナライザ・・・・[2]
•  4.2 電源・・・・[3]
•  4.3 入力信号源又は変調器・・・・[3]
•  4.4 光ファイバコード・・・・[3]
•  5 試験サンプル・・・・[3]
•  6 試験手順(手法A)・・・・[3]
•  6.1 概要・・・・[3]
•  6.2 準備・・・・[4]
•  6.3 光スペクトラムアナライザの設定・・・・[4]
•  7 試験手順(手法B)・・・・[5]
•  7.1 準備・・・・[5]
•  7.2 光スペクトラムアナライザの設定・・・・[5]
•  7.3 連続的な発光ダイオード及び単一縦モードスペクトル・・・・[5]
•  7.4 離散的な多重縦モードスペクトル・・・・[6]
•  7.5 連続的な単一縦モードスペクトル・・・・[6]
•  8 計算・・・・[6]
•  8.1 概要・・・・[6]
•  8.2 中心波長・・・・[6]
•  8.3 重心波長・・・・[7]
•  8.4 ピーク波長・・・・[7]
•  8.5 RMS幅(Δλrms)・・・・[7]
•  8.6 n-dBダウン幅(Δλn-dB)・・・・[7]
•  8.7 半値全幅(Δλfwhm)・・・・[7]
•  8.8 サイドモード抑圧比(SMSR)・・・・[8]
•  9 試験結果・・・・[8]
•  9.1 必須情報・・・・[8]
•  9.2 利用可能な情報・・・・[8]

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――――― [JIS C 61280-1-3 pdf 1] ―――――

C 61280-1-3 : 2017 (IEC 61280-1-3 : 2010)

pdf 目次

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•  10 測定結果例・・・・[8]

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――――― [JIS C 61280-1-3 pdf 2] ―――――

                                                            C 61280-1-3 : 2017 (IEC 61280-1-3 : 2010)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,一般財団法人光産
業技術振興協会(OITDA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業
規格を改正すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業
規格である。
  これによって,JIS C 61280-1-3:2010は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 61280の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 61280-1-3 第1-3部 : 中心波長及びスペクトル幅測定
    JIS C 61280-2-1 受信感度及びオーバロード測定
    JIS C 61280-2-2 第2-2部 : 光アイパターン,光波形及び消光比測定
    JIS C 61280-2-3 第2-3部 : ジッタ及びワンダ測定
    JIS C 61280-2-8 Q値測定を用いた低ビット誤り率の決定法
    JIS C 61280-2-9 高密度波長分割多重システムの光信号対雑音比測定
    JIS C 61280-2-10 第2-10部 : レーザ送信器の時間分解チャープ及びアルファファクタ測定
    JIS C 61280-2-11 光信号品質評価のための強度ヒストグラム評価を用いた平均化Q値測定
    JIS C 61280-4-4 第4-4部 : ケーブル設備及びリンク−既設リンクの偏波モード分散測定

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                      C 61280-1-3 : 2017
                                                                       (IEC 61280-1-3 : 2010)

光ファイバ通信サブシステム試験方法−第1-3部 : 中心波長及びスペクトル幅測定

Fiber optic communication subsystem test procedures- Part 1-3: Central wavelength and spectral width measurement

序文

  この規格は,2010年に第2版として発行されたIEC 61280-1-3を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格は,光ファイバ通信サブシステム,光送信器,又は通信サブシステムの制御若しくは試験に使
用する他の光源に関連した,光学スペクトルの複数の波長及びスペクトル幅の試験方法及び定義について
規定する。
  この試験は,システム構築及び/又は保守のために実施する。光通信サブシステム信号の測定では,変
調状態にある光送信器を対象とする。
    注記1 波長及びスペクトル幅について,異なるスペクトル特性[例えば,発光ダイオード(LED)
            の連続スペクトル特性,レーザダイオード(LD)の多重縦モード(MLM),多重横モード
            (MTM)及び単一縦モード(SLM)のスペクトル特性]に対応して,異なる評価指標を用い
            ることが適切である。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 61280-1-3:2010,Fibre optic communication subsystem test procedures−Part 1-3: General
                communication subsystems−Central wavelength and spectral width measurement(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS C 6192 光スペクトラムアナライザ校正方法
      注記 対応国際規格 : IEC 62129,Calibration of optical spectrum analyzers
    JIS C 6802 レーザ製品の安全基準
      注記 対応国際規格 : IEC 60825-1,Safety of laser products−Part 1: Equipment classification and
             requirements

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C 61280-1-3 : 2017 (IEC 61280-1-3 : 2010)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。

3.1 波長

    注記 この規格では,中心波長は,一般的なカテゴリの名前である。
3.1.1
中心波長,λ0(center wavelength)
  ピーク波長λpの長波長側及び短波長側にて最も近接する二つのピークパワーの1/2に対応する波長の中
間値。“half-power mid-point”とも呼ばれる。
3.1.2
半値波長,λ3dB(half-power wavelength)
  光スペクトルのピークパワーの1/2に対応する波長。
3.1.3
ピーク波長,λp(peak wavelength)
  光スペクトルの最大パワー値に対応する波長。
3.1.4
重心波長,λc(centroidal wavelength)
  光スペクトルの中央又は平均の波長。

3.2 スペクトル幅

3.2.1
RMS幅,Δλrms(root-mean square width)
  重心波長との差から二乗平均平方根で定義するスペクトル幅。
3.2.2
n-dBダウン幅,Δλn-dB(n-dB-down width)
  パワースペクトル密度がピーク値からn dB低下し,ピーク波長λpの長波長側及び短波長側にて最も近
接する二つの波長の差の絶対値。
3.2.3
半値全幅,Δλfwhm(full-width at half maximum)
  3.2.2のn-dBダウン幅において,n=3としたとき(Δλfwhm=Δλ3dB)の特例。

3.3 その他のスペクトル特性

3.3.1
サイドモード抑圧比,SMSR(side-mode suppression ratio)
  単一縦モードレーザの光スペクトルにおいて,スペクトル強度が最も大きいモード(メインモードM1)
と2番目に大きいモード(サイドモードM2)との強度比(8.8参照)。

4 試験装置

4.1 校正した光スペクトラムアナライザ

  この特殊用途の試験装置には,光スペクトルの分布を分解及び記録するために,分散分光方式の光スペ
クトラムアナライザを使用する。必要な波長分解能及び範囲は,測定する信号のタイプ及び種類に依存す
る。一般的に,LED光源は粗い構造で広帯域なスペクトルをもつことから,200 nm以上の波長範囲が必要
である一方,分解能は1 nm又はそれ以下が望ましい。レーザ光源は,はるかに狭いスペクトルをもって

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