JIS C 6186:2008 光ファイバ用光パワーメータ校正方法

JIS C 6186:2008 規格概要

この規格 C6186は、光ファイバ通信に用いる一般的な光源から放射される光パワーを測定する測定機器の校正方法について規定。

JISC6186 規格全文情報

規格番号
JIS C6186 
規格名称
光ファイバ用光パワーメータ校正方法
規格名称英語訳
Calibration of fiber optic power meters
制定年月日
1999年4月20日
最新改正日
2017年10月20日
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‐ 
対応国際規格

ISO

IEC 61315:2005(IDT)
国際規格分類

ICS

33.140, 33.180.10
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
電子 II-1 2020, 電子 II-2 2020, 電子 III-1 2020, 電子 III-2 2020
改訂:履歴
1999-04-20 制定日, 2004-03-20 確認日, 2008-01-20 改正日, 2012-10-22 確認日, 2017-10-20 確認
ページ
JIS C 6186:2008 PDF [35]
                                                                  C 6186 : 2008 (IEC 61315 : 2005)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[2]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 校正の準備・・・・[9]
  •  4.1 組織・・・・[9]
  •  4.2 トレーサビリティ・・・・[9]
  •  4.3 測定及び校正に関する注意事項・・・・[10]
  •  4.4 使用者への推奨事項・・・・[10]
  •  5 光パワーの絶対値の校正・・・・[11]
  •  5.1 校正条件の設定・・・・[12]
  •  5.2 校正手順・・・・[13]
  •  5.3 校正不確かさ・・・・[13]
  •  5.4 結果の報告・・・・[19]
  •  6 校正済光パワーメータの測定不確かさ・・・・[19]
  •  6.1 基準条件での不確かさ・・・・[19]
  •  6.2 動作条件での不確かさ・・・・[20]
  •  7 非直線性の校正・・・・[26]
  •  7.1 重ね合せ法に基づく非直線性の校正・・・・[26]
  •  7.2 校正された光パワーメータとの比較に基づく非直線性の校正・・・・[29]
  •  7.3 光減衰器との比較に基づく非直線性の校正・・・・[30]
  •  7.4 ハイ光パワー測定のための光パワーメータの校正・・・・[30]
  •  附属書A(規定)数学的基礎・・・・[31]
  •  附属書B(参考)参考文献・・・・[33]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 6186 pdf 1] ―――――

C 6186 : 2008 (IEC 61315 : 2005)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,財団法人光産業技
術振興協会(OITDA)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべ
きとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS C 6186:1999は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に係る確認について,責任は
もたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 6186 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                              JIS
C 6186 : 2008
(IEC 61315 : 2005)

光ファイバ用光パワーメータ校正方法

Calibration of fiber optic power meters

序文

  この規格は,2005年に第2版として発行されたIEC 61315を基に,技術的内容及び対応国際規格の構成
を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
光ファイバ用光パワーメータは,光ファイバ用光源から出力される光パワーをできるだけ正確に測定す
るように設計されている。その性能は,校正手順に大きく依存する。他のタイプの測定器と比較すると,
光ファイバ用光パワーメータによる測定結果は,通常,多くの測定条件に依存する。校正条件は,校正手
順における測定条件であって,これは校正手順の中で厳密に示す必要がある。
この規格では,校正条件を明らかにし,校正を実行し,不確かさを計算し,不確かさ,校正条件及びト
レーサビリティを報告するまでのすべての校正手順を各段階にわたって規定する。
光パワーの絶対値の校正では,入力光パワーと光パワーメータの指示値との相関の決定法を示す。その
相関を表す比例定数を補正係数と呼ぶ。補正係数の測定の不確かさは,附属書Aに規定するように,参照
標準器,被測定器,測定系の構成及び測定手順を総合的に組み合わせて求める。
補正係数の測定の不確かさを計算によって求めるためには,それぞれの要素の不確かさを細かく分析す
ることになるが,次の注意を必要とする。
a) 各不確かさの評価が妥当である。
b) 詳細な不確かさの分析は,同じ型番の光パワーメータに対して行い,同じ型番の複数の光パワーメー
タに対する校正に対して,校正時に評価された適切なタイプAの不確かさを繰り返し適用できる。
c) 幾つかの種類の不確かさについては,チェックリストに代表値を記載すればよく,各々の値をそれぞ
れリストに記入しなくてもよい場合がある。
この規格では,箇条5に規定した校正について報告しなければならない。
箇条6は,基準条件及び動作条件のもとで動作する校正済の光パワーメータの測定の不確かさの評価に
ついて規定する。その評価は,5.3によって計算される光パワーメータの校正の不確かさ,校正条件及びそ
の校正条件依存性で行う。この不確かさの評価は,通常,光パワーメータの製造業者が光パワーメータの
仕様を決めるために行うもので,この規格では,この不確かさの評価を報告することは義務付けない。こ
の不確かさの原因の一つである非直線性は別途規定する(箇条7参照)。
注記 光パワーメータは,光ファイバ端の空気中での光パワーを測定し,表示する。ガラス(N=1.47)
と空気との境界でのフレネル反射によって,光ファイバ中の光パワーに比べて約3.6 %だけ小
さいので注意が必要である。

1 適用範囲

  この規格は,光ファイバ通信に用いる一般的な光源から放射される光パワーを測定する測定機器の校正

――――― [JIS C 6186 pdf 3] ―――――

2
C 6186 : 2008 (IEC 61315 : 2005)
方法について規定する。これらの光源には,レーザダイオード,LED及び光ファイバ出力の光源を含み,
拡散放射又は平行ビームの双方に対応できる。この規格は,校正機関又は光パワーメータの製造業者が用
いることを想定している。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
IEC 61315:2005,Calibration of fibre-optic power meters (IDT)
なお,対応の程度を表す記号(IDT)は,ISO/IEC Guide 21に基づき,一致していることを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)
には適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS C 1005 電気・電子計測器の性能表示
注記 対応国際規格 : IEC 60359:2001,Electrical and electronic measurement equipment−Expression of
performance (IDT)
JIS Q 17025 試験所及び校正機関の能力に関する一般要求事項
注記 対応国際規格 : ISO/IEC 17025:2005,General requirements for the competence of testing and
calibration laboratories (IDT)
IEC 60027-3:2002,Letter symbols to be used in electrical technology−Part 3: Logarithmic and related
quantities, and their units
IEC 60050-300:2001,International Electrotechnical Vocabulary−Electrical and electronic measurements and
measuring instruments−Part 311: General terms relating to measurements−Part 312: General terms
relating to electrical measurements−Part 313: Types of electrical measuring instruments−Part 314:
Specific terms according to the type of instrument
IEC 60793-1-43:2001,Optical fibres−Part 1-43: Measurement methods and test procedures−Numerical
aperture
IEC 60793-2:2003,Optical fibres−Part 2: Product specifications−General
IEC 61300-3-12:1997,Fibre optic interconnecting devices and passive components−Basic test and
measurement procedures−Part 3-12: Examinations and measurements−Polarization dependence of
attenuation of a single-mode fibre optic component: Matrix calculation method
IEC/TR 61931:1998,Fibre optic−Terminology
BIPM,IEC,IFCC,ISO,IYPAC,IUPAP and OIML:1993,International vocabulary of basic terms in metrology
(VIM)
BIPM,IEC,IFCC,ISO,IUPAC,IUPAP and OIML:1995,Guide to the expression of uncertainty in
measurement (GUM)

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,次による。
3.1
認定された校正機関 (accredited calibration laboratory)
適切な国の機関の認定の下,規定した最小不確かさの範囲で,国家標準へのトレーサビリティを保証す

――――― [JIS C 6186 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
C 6186 : 2008 (IEC 61315 : 2005)
る校正証明書を発行できる校正機関。
3.2
調整 (adjustment)
被測定対象について,ある任意の値に対応する測定指示値を表示するために,測定機器に対して行う一
連の操作(IEC 60050-300及びVIM, 4.30を参照)。
注記 被測定対象の値が0で,対応する測定指示値も0となるように調整する場合,その操作を特に
ゼロ点調整という。
3.3
校正 (calibration)
測定機器が表示した値と標準器が示す標準値との関係を,規定した条件の下に確立する一連の操作。
注記1 校正の結果,測定対象のパラメータの値を測定指示値に合わせて表示する場合,及び逆に測
定指示値を訂正する場合がある。
注記2 校正によっては,例えば測定環境に影響されて変動する変動係数のような,何らかの計測要
因係数を決定することもある。
注記3 校正結果は,校正証明書又は校正報告書のような文書に記録されることもある。
3.4
校正条件 (calibration conditions)
校正に際して行う測定の条件。
3.5
中心波長 (center wavelength) : λcenter
真空中における光源の光パワー分布を重み付け平均した波長。
連続スペクトルのセンタ波長は,次の式で定義する。
1
center p d
Ptotal
総光パワーは
Ptotal p
ここに, p( 光源の光パワースペクトル密度,例えばW/nm で表す。
光源が複数の線スペクトルで構成される場合,中心波長は,次の式で定義する。
Pi i
center
Pi
ここに, Pi : i番目の線スペクトルの光パワー,例えばWで表す。
λi : i番目の線スペクトルの真空中の波長
注記 上記の積分又は積算は,理論上は,光源のスペクトル全域にわたるが,通常は,光パワー密度
p( は光パワーPiが最大値の0.1 %以上の領域で積分又は積算すれば十分である。
3.6
補正係数 (correction factor) : CF
システム誤差を補正するため,補正前の測定結果に乗じる数値(VIM, 3.16を参照)。

――――― [JIS C 6186 pdf 5] ―――――

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JIS C 6186:2008の引用国際規格 ISO 一覧

  • IEC 61315:2005(IDT)

JIS C 6186:2008の国際規格 ICS 分類一覧

JIS C 6186:2008の関連規格と引用規格一覧