JIS C 6188:1999 測定用光減衰器試験方法

C 6188 : 1999

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。主務大臣及び日本工業標準調査会は,
このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新案登
録出願にかかわる確認については,責任をもたない。

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                                                                                   C 6188 : 1999

pdf 目次

ページ

•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 標準試験条件・・・・[1]
•  5. 試験の概要・・・・[2]
•  5.1 試験の種類・・・・[2]
•  5.2 試験結果の算出方法・・・・[2]
•  5.3 誤差の対数表示・・・・[2]
•  6. 基準光減衰器を用いる減衰量確度試験・・・・[3]
•  6.1 減衰量確度試験の概要・・・・[3]
•  6.2 固有誤差試験・・・・[3]
•  6.3 個別誤差試験・・・・[4]
•  6.3.1 波長依存特性・・・・[4]
•  6.3.2 偏光依存特性・・・・[5]
•  6.3.3 温度依存特性・・・・[6]
•  6.3.4 直線性・・・・[7]
•  7. 光パワーメータを用いる減衰量確度試験・・・・[8]
•  7.1 減衰量確度試験の概要・・・・[8]
•  7.2 固有誤差試験・・・・[8]
•  7.3 個別誤差試験・・・・[9]
•  7.3.1 波長依存特性・・・・[9]
•  7.3.2 偏光依存特性・・・・[9]
•  7.3.3 温度依存特性・・・・[10]
•  7.3.4 直線性・・・・[11]
•  8. その他の性能試験・・・・[12]
•  8.1 残留減衰量試験・・・・[12]
•  8.2 アイソレーション試験・・・・[13]
•  8.3 反射減衰量試験・・・・[13]
•  9. 強度試験・・・・[15]
•  9.1 振動試験・・・・[15]
•  9.2 衝撃試験・・・・[15]
•  9.3 過負荷試験・・・・[15]

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――――― [JIS C 6188 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                            C 6188 : 1999

測定用光減衰器試験方法

Test methods of measuring optical attenuators

1. 適用範囲

 この規格は,光ファイバを用いた光伝送系の測定に使用する測定用光減衰器の試験方法に
ついて規定する。

2. 引用規格

 次に掲げる規格は、この規格に引用されることによって、この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は、その最新版を適用する。
    JIS C 1002 電子測定器用語
    JIS C 1003 : 1976 ディジタル電圧計試験方法
    JIS C 6182 レーザビーム用光パワーメータ試験方法
    JIS C 6183 光スペクトラムアナライザ試験方法
    JIS C 6832 石英系マルチモード光ファイバ素線
    JIS C 6835 石英系シングルモード光ファイバ素線
    JIS Z 8103 計測用語
    JIS Z 8120 光学用語

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS C 1002,JIS Z 8103及びJIS Z 8120の規定によるほ
か,次による。
a) 測定用光減衰器 (measuring optical attenuator)一対の光ファイバ入力端子と出力端子をもち,光減
    衰量確度が明記された光測定器。減衰量値が可変の可変光減衰器と,固定の固定光減衰器の2種類が
    ある。
b) 光パワーメータ (optical power meter)光ファイバ入力端子をもち,連続光及び/又はパルス光の光
    パワーを定量的に計測できる機器。光パワーを電気的出力に変換する検出器と指示計から構成される。
                                             光減衰量が誤差評価され,かつ,減衰量値が可変の光
c) 基準光減衰器 (reference optical attenuator)
    減衰器。
                                 被試験器に入射する光の励振モード分布を規定する条件。
d) 励振条件 (excitation condition)

4. 標準試験条件

 測定用光減衰器(以下,対象とする測定用光減衰器を被試験器という。)を試験すると
き標準となる条件は,規定がない限り次による。
a) 温度 23℃±2℃
b) 相対湿度   (65±10) %
c) 光ファイバ 規定がない場合は,被試験器の種別に応じて表1に示す光ファイバを用いる。
  なお,表中の記号は,JIS C 6832又はJIS C 6835の規定による。

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2
C 6188 : 1999
  光ファイバ長は,クラッドモードが十分に除去でき,かつ,測定用の光ファイバ自体の損失が,被試験
器の損失に対し無視できる長さのものを使用する。
  標準試験条件で試験することが困難な場合は,実施した条件及びその影響について試験結果に記録する。
                                 表1 試験時に用いる光ファイバ
                              被試験器種別
                                                           試験時に用いる光ファイバ
                適用光ファイバの種別      光源波長 (nm)
                                               850
               マルチモード光ファイバ                      SGI-50/125
                                              1310
                                                           SSMA-9/125,SSMA-9.5/125,
                                              1310
                                                           SSMA-10/125
              シングルモード光ファイバ
                                                           SSMA-9/125,SSMA-9.5/125,
                                              1550
                                                           SSMA-10/125, SSMB-8/125

5. 試験の概要

5.1 試験の種類

 被試験器の性能は,減衰量確度試験,残留減衰量試験,アイソレーション試験,反射
減衰量試験の各試験を行って評価する。ただし,これらの各試験は評価の次元が異なるので,これらによ
って得られた誤差は各項目の評価値とし,それを足し合わせて総合評価とすることはしない。また,被試
験器の形式には,固定光減衰器と可変光減衰器とがある。ただし,固定光減衰器は,残留減衰量試験及び
アイソレーション試験は行わない。

5.2 試験結果の算出方法

 被試験器の測定確度は,減衰量確度について評価する。評価方法は,まず,
固有誤差試験で標準試験条件での固有誤差を求め,次に各個別誤差試験で被試験器の部分誤差を求める。
各誤差はパーセント (%) で求め,動作誤差の限界を式(1)及び式(2)で算出し,被試験器の確度とする。
  なお,式(1)及び式(2)は,JIS C 6182及びJIS C 6183に規定する評価式である。
                             p             p
                                      2       2   2
                         tu=   ti 2  cx      ti  te  (1)
                             i1           i1
                             p            p
                                      2      2   2
                         tl=   ti 2  cx     ti  te  (2)
                            i 1           i 1
                      ここに,       攀痿     動作誤差の上限
                                     攀       動作誤差の下限
                                   ti     部分誤差の上限,下限の平均値 
                                                                      tui
                                                                          tli
                                                                        2
                                    攀        被試験器の固有誤差(標準試験条件での被試験器の確度)
                                   2ti    部分誤差の分散tui    2
                                                             tli
                                                           12
                                            攀    槿    部分誤差の上限
                                            攀    槿    部分誤差の下限
                                   i :  各部分誤差に対する添字
                                   p :  部分誤差の数
                                     攀       測定値のばらつきの標準偏差

5.3 誤差の対数表示

 パーセント (%) 表示した誤差は(3)で算出し,対数 (dB) 表示で表すことができる。
                                       lin
                          dB=10log 1+     (3)
                                      100

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                                                                                   C 6188 : 1999
                      ここに,        攀       誤差(対数表示)
                                      攀  椀滿    誤差(パーセント表示)

6. 基準光減衰器を用いる減衰量確度試験

6.1 減衰量確度試験の概要

 基準光減衰器を用いる試験方法では,減衰量確度を決める誤差要因は被試
験器の固有誤差並びに個別誤差試験での波長依存特性,偏光依存特性,温度依存特性及び直線性による部
分誤差からなり,確度の算出方法は5.2による。

6.2 固有誤差試験

 図1に可変光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は標準試験
条件で行う。
    備考1.  光源,励振器,基準光減衰器,光パワーメータ,及び被試験器の接続形態をレセプタクル形
            で例示してあるが,測定に支障がない限り,プラグ形,ピグテイル形の接続形態でもよい。
         2. 試験の準備として,電源をあらかじめ投入しておき,測定系を十分長い時間測定環境下に保
            つことが必要である。また,測定の前後を通じて被試験器に過度の通風,日光その他の熱源
            からの直接の熱放射など,測定に影響を及ぼすような要因が入らないようにする。
            なお,入出射光部は,ごみなどのないよう十分に清潔にしておく。測定中は光ファイバをで
            きるだけ動かさない。
                            図1 可変光減衰器の固有誤差試験の試験系
  図2a),b)に固定光減衰器の減衰量確度の固有誤差試験の試験系を示す。試験は標準試験条件で行う。
                           図2a) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系
                           図2b) 固定光減衰器の固有誤差試験の試験系
a) 装置 装置は,次による。
  1) 光源 被試験器に指定の中心波長をもち,かつ,被試験器の減衰量範囲内で必要なパワーが安定し
      て得られる光源。
  2) 励振器 定常モードで励振するための励振器。NA(開口数)が0.20でコア径が50               英系グ
      レーデッドインデックス形マルチモードファイバの場合では,基準光減衰器への入射ビームスポッ
      トの半値半幅が26          入射光分布での最大値の50%となる角度   湫                                 ワー
      分布を定常モードとする。ただし,石英系シングルモードファイバの場合では,励振器は不要であ
      る。

――――― [JIS C 6188 pdf 5] ―――――

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