JIS C 62246-1:2016 リードスイッチ―第１部：品目別通則

                                                               C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[3]
•  3.1 リードスイッチの特性分類に関する用語及び定義・・・・[3]
•  3.2 動作値に関する用語・・・・[4]
•  3.3 動作時間に関する用語・・・・[5]
•  3.4 接点に関する用語・・・・[7]
•  4 定格値・・・・[10]
•  4.1 一般要求事項・・・・[10]
•  4.2 動作頻度・・・・[10]
•  4.3 通電率・・・・[10]
•  4.4 接点間電圧・・・・[11]
•  4.5 定格電流・・・・[11]
•  4.6 定格電力・・・・[11]
•  4.7 動作回数・・・・[11]
•  4.8 耐候性カテゴリ・・・・[11]
•  4.9 環境に対する性能・・・・[11]
•  4.10 サージ電圧・・・・[12]
•  4.11 負荷の種別・・・・[12]
•  4.12 接触信頼性・・・・[13]
•  5 表示・・・・[13]
•  6 試験及び測定方法・・・・[13]
•  6.1 試験及び測定方法に関する要求事項・・・・[13]
•  6.2 代替方法・・・・[13]
•  6.3 試験の標準条件・・・・[13]
•  6.4 目視検査その他・・・・[13]
•  6.5 機能試験・・・・[14]
•  6.6 残留磁気試験・・・・[15]
•  6.7 接触抵抗・・・・[16]
•  6.8 耐電圧試験・・・・[17]
•  6.9 絶縁抵抗・・・・[18]
•  6.10 動作時間・・・・[19]
•  6.11 接点スティッキング・・・・[21]
•  6.12 端子強度・・・・[23]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS C 62246-1 pdf 1] ―――――

C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)

pdf 目次

ページ

•  6.13 はんだ付け性及びはんだ耐熱性・・・・[23]
•  6.14 耐候性シーケンス・・・・[23]
•  6.15 温湿度,定常状態・・・・[24]
•  6.16 急激な温度変化・・・・[25]
•  6.17 塩水噴霧・・・・[25]
•  6.18 振動・・・・[25]
•  6.19 衝撃・・・・[26]
•  6.20 加速度試験-機能試験・・・・[27]
•  6.21 気密度試験・・・・[27]
•  6.22 電気的耐久性・・・・[28]
•  6.23 機械的耐久性・・・・[34]
•  6.24 最大動作頻度・・・・[35]
•  6.25 耐サージ電圧試験・・・・[36]
•  6.26 接点の開閉容量・・・・[36]
•  6.27 条件付き短絡電流試験・・・・[39]
•  6.28 接触信頼性・・・・[39]
•  6.29 温度上昇・・・・[41]
•  6.30 投入電流容量試験・・・・[41]
•  6.31 遮断電流容量試験・・・・[42]
•  附属書A(規定)リードスイッチの標準試験コイル・・・・[44]
•  附属書B(規定)試験システム・・・・[46]
•  附属書C(参考)電気的耐久試験回路・・・・[47]
•  附属書D(参考)突入電流負荷・・・・[48]
•  附属書E(参考)条件付き短絡電流試験回路・・・・[49]
•  附属書F(参考)誘導負荷の電気的定格の種類・・・・[50]
•  附属書G(参考)モータ負荷における定格出力の例・・・・[51]
•  附属書H(参考)接触信頼性試験の回路例・・・・[52]
•  附属書I(参考)投入電流容量試験の回路例・・・・[53]
•  附属書J(参考)遮断電流容量試験の回路例・・・・[54]

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS C 62246-1 pdf 2] ―――――

                                                               C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本電気制御機器工業会(NECA)
及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出
があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
  JIS C 62246の規格群には,次に示す部編成がある。
    JIS C 62246-1 第1部 : 品目別通則
    JIS C 62246-1-1 第1-1部 : 品質評価及び試験方法

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS C 62246-1 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                         C 62246-1 : 2016
                                                                          (IEC 62246-1 : 2015)

リードスイッチ−第1部 : 品目別通則

Reed switches-Part 1: Generic specification

序文

  この規格は,2015年に第3版として発行されたIEC 62246-1を基に,技術的内容及び構成を変更するこ
となく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。

1 適用範囲

  この規格は,リードスイッチ(品質評価済みの磁気バイアス形リードスイッチを含む。)の品目別通則に
ついて規定する。この規格は,一般用及び産業用途の全ての品種を規定する。
    注記1 環境問題から水銀入りリードスイッチは,この規格の適用範囲から除いている。
  この規格は,リードスイッチの個別規格(JIS C 62246-1-1)に用いることができる試験及び測定手順を
扱っている。
  この規格は,形成する磁場で駆動するリードスイッチの接点定格に適用できる。
  リードスイッチを使用するリレーは,JIS C 4540-1及びIEC 61811-1を併用するのがよい。
  リードスイッチを使用する応用製品は,応用製品規格を併用するのがよい。
    注記2 規格の優先順位は,次のとおりである。
            a) 個別規格
            b) 品種別通則
            c) 品目別通則
            d) 引用する国際的な規範文書(例えば,IEC規格)及び日本工業規格(日本産業規格)(JIS)
    注記3 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
            IEC 62246-1:2015,Reed switches−Part 1: Generic specification(IDT)
              なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)は適用しない。
    JIS C 8201-5-1:2010 低圧開閉装置及び制御装置−第5部 : 制御回路機器及び開閉素子−第1節 : 電
        気機械式制御回路機器
      注記 対応国際規格 : IEC 60947-5-1:2003,Low-voltage switchgear and controlgear−Part 5-1: Control
             circuit devices and switching elements−Electromechanical control circuit devices(IDT)
    JIS C 60068-1:1993 環境試験方法−電気・電子−通則

――――― [JIS C 62246-1 pdf 4] ―――――

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C 62246-1 : 2016 (IEC 62246-1 : 2015)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-1:1988,Environmental testing. Part 1: General and guidance(IDT)
    JIS C 60068-2-1:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-1部 : 低温(耐寒性)試験方法(試験記号 : 
        A)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-1:2007,Environmental testing−Part 2-1: Tests−Test A: Cold(IDT)
    JIS C 60068-2-2:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-2部 : 高温(耐熱性)試験方法(試験記号 : 
        B)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-2:2007,Environmental testing−Part 2-2: Tests−Test B: Dry heat
             (IDT)
    JIS C 60068-2-6:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-6部 : 正弦波振動試験方法(試験記号 : Fc)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-6:2007,Environmental testing−Part 2-6: Tests−Test Fc: Vibration
             (sinusoidal)(IDT)
    JIS C 60068-2-7:1993 環境試験方法−電気・電子−加速度(定常)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-7:1983,Basic environmental testing procedures−Part 2-7: Tests−Test
             Ga and guidance: Acceleration, steady state(IDT)
    JIS C 60068-2-11:1989 環境試験方法(電気・電子)塩水噴霧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-11:1981,Basic environmental testing procedures−Part 2-11: Tests−
             Test Ka: Salt mist(IDT)
    JIS C 60068-2-13:1989 環境試験方法(電気・電子)減圧試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-13:1983,Basic environmental testing procedures−Part 2-13: Tests−
             Test M: Low air pressure(IDT)
    JIS C 60068-2-14:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-14部 : 温度変化試験方法(試験記号 : N)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-14:2009,Environmental testing−Part 2-14: Tests−Test N: Change of
             temperature(IDT)
    JIS C 60068-2-17:2001 環境試験方法−電気・電子−封止(気密性)試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-17:1994,Basic environmental testing procedures−Part 2-17: Tests−
             Test Q: Sealing(IDT)
    JIS C 60068-2-20:2010 環境試験方法−電気・電子−第2-20部 : 試験−試験T−端子付部品のはんだ
        付け性及びはんだ耐熱性試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-20:2008,Environmental testing−Part 2-20: Tests−Test T: Test
             methods for solderability and resistance to soldering heat of devices with leads(IDT)
    JIS C 60068-2-21:2009 環境試験方法−電気・電子−第2-21部 : 試験−試験U : 端子強度試験方法
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-21:2006,Environmental testing−Part 2-21: Tests−Test U: Robustness
             of terminations and integral mounting devices(IDT)
    JIS C 60068-2-27:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-27部 : 衝撃試験方法(試験記号 : Ea)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-27:2008,Environmental testing−Part 2-27: Tests−Test Ea and
             guidance: Shock(IDT)
    JIS C 60068-2-30:2011 環境試験方法−電気・電子−第2-30部 : 温湿度サイクル(12+12時間サイク
        ル)試験方法(試験記号 : Db)
      注記 対応国際規格 : IEC 60068-2-30:2005,Environmental testing−Part 2-30: Tests−Test Db: Damp
             heat, cyclic (12 h + 12 h cycle)(IDT)

――――― [JIS C 62246-1 pdf 5] ―――――

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