JIS H 0211:1992 ドライプロセス表面処理用語

JIS H 0211:1992 規格概要

この規格 H0211は、ドライプロセス表面処理に関する用語及び定義について規定。

JISH0211 規格全文情報

規格番号
JIS H0211 
規格名称
ドライプロセス表面処理用語
規格名称英語訳
Glossary of terms used in surface treatments by dry processing
制定年月日
1992年12月1日
最新改正日
2018年10月22日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

国際規格分類

ICS

01.040.25, 25.220.20
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
金属表面処理 2021, 熱処理 2020
改訂:履歴
1992-12-01 制定日, 1998-10-20 確認日, 2004-01-20 確認日, 2008-10-01 確認日, 2013-10-21 確認日, 2018-10-22 確認
ページ
JIS H 0211:1992 PDF [26]
                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
H 0211-1992

ドライプロセス表面処理用語

Glossary of terms used in surface treatments by dry processing

1. 適用範囲 この規格は,ドライプロセス表面処理に関する主な用語及び定義について規定する。
2. 用語の分類 ドライプロセス表面処理用語は,次の9部門に分類する。
(1) 基礎
(2) 材料及び機能
(3) 物理蒸着法
(4) 化学蒸着法
(5) 溶融成膜法
(6) 表面改質法
(7) 表面加工法
(8) 設備及び工程
(9) 試験及び検査
3. 用語及び定義 用語及び定義は,次のとおりとする。
なお,参考のために対応する英語を示す。
備考 二つ以上の用語を並べてある場合は,その順位に従って使用する。
(1) 基礎
番号 用語 定義 対応英語(参考)
1001 表面処理 surface treatment
材料表面の状態を変えることによって,表面の性質を変えたり,新しい
機能を付加すること。
1002 表面改質 (広義) 表面処理(1001参照)に同じ。 surface modification
(狭義) 材料の表面自身を変化させ,新しい機能を付加すること。
1003 ドライプロセス材料表面を気相又は溶融状態を用いて処理すること。 dry process
参考 水溶液又は非水溶液を用いて処理することをウエットプロセ
スという。
1004 真空 vacuum
通常の大気圧より低い圧力の気体で満たされた空間内の状態。
参考 真空の程度を表現するため,便宜上圧力の領域によって,次
のように区別する。
低真空 102Pa以上
中真空10210−1Pa
高真空 10−110−5Pa
超高真空 10−510−10Pa
極高真空 10−10Pa以下

――――― [JIS H 0211 pdf 1] ―――――

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H 0211-1992
番号 用語 定義 対応英語(参考)
1005 圧力 pressure
空間内のある点を含む仮想の微小平面を両側の方向から通過する分子に
よって,単位面積当たり,単位時間に輸送される運動量の面に垂直な成
分の総和。
1006 分圧 混合気体中の特定成分の圧力(1005参照)。 partial pressure
1007 全圧 混合気体中の全成分の分圧(1006参照)の総和。 total pressure
1008 飽和蒸気圧 saturation vapor pressure
その温度で凝縮相と熱力学的平衡に達している蒸気の示す圧力。
1009 気体分子密度 単位体積当たりの気体分子の数。 number density of molecules
1010 平均自由行程 mean free path
気体の中を自由に動き回る粒子(分子,原子,電子,イオン,中性子な
ど)が同種又は異種の粒子と次々に衝突する場合,相続く衝突間に粒子
が飛行した距離の平均。
1011 衝突頻度 collision rate
気体の中を自由に動き回る粒子が単位時間に受ける衝突の平均回数。
1012 体積衝突頻度 volume collision rate
気体の中で起こる粒子間衝突の単位時間,単位体積当たりの平均回数。
1013 吸着 adsorption
気体の原子や分子が固体又は液体の表面にとどまっている現象。
1014 化学吸着 chemisorption
表面に原子や分子が付着したとき,表面第一層の原子と付着した原子や
分子との間で電子の交換を行い,化学結合を形成する吸着(1013参照)。
1015 物理吸着 physisorption
表面に原子や分子が付着したとき,表面第一層の原子と付着した原子や
分子との間に電子の授受がない,ファン・デル・ワールス力による吸着
(1013参照)。
1016 解離吸着 付着する気体分子が解離した化学吸着(1014参照)。 dissociative adsorption
1017 平均滞留時間 mean residence time
気体の原子や分子が表面に吸着状態で束縛されている時間の平均。略し
て滞留時間ともいう。
1018 脱離 desorption
表面に吸着(1013参照)した気体の原子や分子又は内部から表面に拡散
してきた原子や分子が表面に滞在した後,空間に飛び出していくこと。
1019 付着確率 sticking probability
入射粒子に対する基板(2001参照)に凝縮する粒子の比。付着係数とも
いう。
1020 入射速度 表面の単位面積当たりに単位時間に入射する物質の量。 impingement rate
1021 入射角 angle of incident, incident
気相から基板(2001参照)に入射する粒子の法線に対する角度。
angle
1022 放電 electric discharge
強い電界によって,気体などの絶縁体中を電流が流れる現象。
参考 圧力(1005参照)と電流密度の大きさによってグロー放電
(1023参照),アーク放電(1024参照),コロナ放電(1025
参照)に分類され,使用する電波の周波数によって直流放電,
低周波放電,高周波放電,マイクロ波放電に分類される。
また,磁界を加えることによって,マグネトロン放電(1026
参照),電子サイクロトロン共鳴放電(1027参照)などがあ
る。
1023 グロー放電 glow discharge
大気圧以下で得られる電離度(1033参照)の低い薄明るい放電(1022参
照)。
1024 アーク放電 arc discharge
大気圧以上又は真空中で得られる電離度(1033参照)の高い弧状の明る
い放電(1022参照)。
1025 コロナ放電 およそ10−6A以下の比較的小さい平均電流下で,導体の近傍に得られる
corona discharge
かすかな光を伴う放電(1022参照)。
1026 マグネトロン放 magnetron discharge
磁界と電界とが直交する,電極近傍に得られる放電(1022参照)。

1027 電子サイクロト electron cyclotron resonance
高周波又はマイクロ波プラズマ中の電子を磁界下で共鳴させて得られる
ロン共鳴放電 放電(1022参照)。ECR放電ともいう。 discharge
1028 プラズマ plasma
総電荷量がゼロであるようなイオンや電子などの荷電粒子と,原子,分
子などの中性粒子からなる気体。

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H 0211-1992
番号 用語 定義 対応英語(参考)
1029 平衡プラズマ, equilibrium plasma,
イオン,電子,中性粒子の温度がほぼ等しいプラズマ(1028参照)。
高温プラズマ, 参考 プラズマ中の粒子の温度が104K程度の高温のため,高温プラ
high-temperature plasma,
熱プラズマ ズマ又は熱プラズマという。 thermal plasma
1030 電子の温度がイオン及び中性粒子よりもはるかに高いプラズマ(1028参
非平衡プラズマ, non-equilibrium plasma,
低温プラズマ 照)。 low-temperature plasma,
参考 密度の低い電子の温度が104 K程度に対し,密度の高いイオ
cold plasma
ン及び中性粒子の温度が数百K程度のため,低温プラズマと
いう。
1031 電離, ionization
原子や分子を構成している電子に外部から電気,光などのエネルギーを
イオン化 与え,原子や分子から電子を飛び出させること。
参考 この結果,正イオンができる。
1032 電離(1031参照)に必要とする最小のエネルギー。
電離エネルギー, ionization energy
イオン化工ネル
ギー
1033 電離度, プラズマ中の電離の度合いを表す割合。 ionization degree
イオン化率 ne
で示す。
中性粒子密度no,電子密度をneとしたとき,
no ne
1034 再結合 recombination
正イオンが電子と衝突して,中性粒子又は荷電数の低い正イオンになる
こと。
参考 電離(1031参照)の逆過程。
1035 イオン再結合 ion recombination
正イオンが負イオンと衝突して,中性の原子や分子になること。
1036 電子付着 電子が中性の原子や分子に付いて負イオンを生じること。 electron attachment
参考 正イオンと電子の場合の再結合(1034参照)とを区別して電
子付着と呼ぶ。
1037 脱離 負イオンから電子がとれ,中性の原子や分子に戻ること。 detachment
参考 吸着(1013参照)の場合の脱離(1018参照)と同じ用語とな
っている。
1038 電子親和力 electron affinity
電子が原子や分子に結合するときに放出するエネルギー。脱離(1037参
照)に必要なエネルギーに等しい。
1039 ガス温度, gas temperature
プラズマ(1028参照)中の気体(ガス)分子の平均的熱運動エネルギー
気体温度 を表す尺度。
参考 非平衡プラズマ(1030参照)内では,一般に電子温度(1040
参照)より低い。
1040 電子温度 electron temperature
プラズマ(1028参照)中の電子の平均的熱運動エネルギーを表す尺度。
1041 イオン温度 ion temperature
プラズマ(1028参照)中のイオンの平均的熱運動エネルギーを表す尺度。
1042 電子密度, プラズマ(1028参照)中の単位体積当たりの電子の数。 electron density, plasma
プラズマ密度 density
1043 イオン密度 プラズマ(1028参照)中の単位体積当たりのイオンの数。 ion density
1044 シース sheath
プラズマ(1028参照)中に固体が存在するとき,その周囲に形成される
空間電荷層。
1045 イオン源 気相中にイオンを発生する装置。 ion source
参考 イオンの発生方法によって,
(1) 気体放電による電子衝突電離を利用する気体プラズマ形
(2) 金属表面と原子の相互作用を利用した表面効果形に大別さ
れる。
気体プラズマ形イオン源は,放電(1022参照)によってプ
ラズマ(1028参照)を形成し,プラズマ界面からイオンを
引き出す方式が多く,代表的なものにデュオプラズマトロ
ン形イオン源,カウフマン形イオン源がある。表面効果形
イオン源としては,液体金属イオン源がある。

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H 0211-1992
番号 用語 定義 対応英語(参考)
1046 イオン電流 イオンの移動による電流。 ion current
1047 イオン電流密度単位面積当たりのイオン電流(1046参照)。 ion current density
1048 ラジカル 不対電子をもつ原子又は分子。 radical
1049 クラスタ cluster
原子又は分子が数十個から1 000個程度凝集してできた小集合体。マイク
ロクラスタともいう。
1050 クラスタイオン電荷をもったクラスタ(1049参照)。 ionized cluster
(2) 材料及び機能
番号 用語 定義 対応英語(参考)
2001 基板 substrate
気体から凝縮によって薄膜(2020参照)が形成されるとき,凝縮を起こ
す場となる固体。
2002 基板温度 膜が形成される基板(2001参照)の表面温度。 substrate temperature
2003 界面 2相間の境界。 interface
2004 表面粗さ 固体表面のうねりを除いた凹凸の状態。 surface roughness
2005 平面度 平面形態の幾何学的に正しい平面からの狂いの大きさ。 flatness
2006 清浄表面 構成原子以外のものを含まない表面。 clean surface
2007 表面構造 表面における原子又は分子の並び方。 surface structure
2008 結晶 原子や分子が規則正しく配列してつくられている固体。 crystal
2009 単結晶 すべての部分が同一の結晶学的方位をもつ固体。 single crystal
2010 多結晶 方位が異なる単結晶(2009参照)が集合した固体。 polycrystal
2011 結晶粒 多結晶(2010参照)を構成する個々の結晶(2008参照)。 crystal grain
2012 結晶粒界 結晶(2008参照)と結晶との境界。 grain boundary
2013 微結晶 数nm以下の大きさの微細な結晶(2008参照)。 micro crystalite
2014 非晶質, amorphous state
原子の配列に長距離の規則性をもたず,決まった結晶形や構造をもたな
アモルファス い非結晶状態。
2015 再結晶 recrystallization
ある温度以上に加熱した場合,新しい結晶核の発生及びその成長がみら
れる現象。
2016 格子面 lattice plane
同一直線上にない三つ以上の格子点を含む平面。結晶面ともいう。
参考 ミラー指数によって表示する。
2017 面方位 格子面(2016参照)の方位。 plane direction
参考 ミラー指数によって表示する。
2018 等方性 材料の性質が,測定する方向によらず一様なこと。 isotropy
2019 異方性 材料の性質が,測定する方向によって異なること。 anisotropy
2020 薄膜 およそ数 騰 鰰 thin film
2021 厚膜
およそ数 上の厚さの膜。 thick film
2022 連続薄膜 基板(2001参照)を完全に覆った薄膜(2020参照)。 continuous thin film
2023 不連続薄膜 基板(2001参照)を完全に覆っていない薄膜(2020参照)。discontinuous thin film
2024 単層膜 同一成分の膜。 single layer film
2025 多層膜 multilayer film
2種類以上の単層膜(2024参照)を積層した膜。積層膜,累積膜ともい
う。
2026 表面拡散 surface diffusion
表面原子又は表面付着原子がエネルギー的に,より安定な場所に表面に
沿って移動する現象。表面移動ともいう。
2027 核 nucleus
過冷却相や過飽和相の中から主として結晶化又は相析出に際して形成さ
れる,原子又は分子の小さい集合体。
2028 臨界核 critical nucleus
核(2027参照)が生成しても小さすぎて,ある臨界半径以下では,核が
成長しないか又は消滅するが,ある臨界半径以上になると核が成長する
ことができる。その臨界半径の核のこと。
2029 核生成 nucleation
過冷却相や過飽和相から,核(2027参照)が形成されること。
参考 核生成には,均一核生成及び不均一核生成がある。

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H 0211-1992
番号 用語 定義 対応英語(参考)
2030 核成長 nucleus growth
生成した核(2027参照)のうち,臨界半径以上の大きさになった核が成
長すること。
参考 核成長には,二次元核成長及び三次元核成長がある。
2031 合体 coalescence
核生成(2029参照)によって形成された核(2027参照)が,成長する段
階で核どうし一体となること。
2032 薄膜成長 growth of thin film
初期の連続薄膜(2022参照)が形成され,より厚い膜になる過程。
参考 薄膜(2020参照)の成長様式は,次の三つに分類できる
(1) 薄膜成長の初期に核(2027参照)が形成され,三次元的な島
状構造(2039参照)が起こる場合
[フォルマー−ウエバー形(Volmer−Weber形)]
(2) 成長の初期段階から層状成長が起こる場合
[フランク−ファンデルメルヴェ形(Frank-van der Merwe
形)]
(3) 最初の何層かが層状成長をし,その上に核生成(2029参照)
が起こる場合
[ストランスキー−クラスタノフ形(Stranski−Krastanov
形)]
2033 被覆率 coverage
材料表面に他の物質を被覆するとき,その被覆物質が覆う面積の全表面
積に対する割合。被覆度ともいう。
2034 シャドーイング shadowing
集積回路など複雑な表面の形態を示す基板(2001参照)において,突起
の影の部分などに原子が入り込めず,被覆が困難になる現象。
2035 ステップカバレ step coverage
基板表面で階段状に形態が変化しているところで,階段の側面まで薄膜
ージ を付けること。
2036 回り込み throwing power
空間に存在する気体による散乱によって,基板(2001参照)の光学的に
影に当たる部分[蒸発源(3012参照)に対し基板の裏面,階段の側面な
ど]にも膜が付着すること。
2037 成膜速度 deposition rate
形成される膜の単位時間当たりの厚さの増加する割合。堆積速度ともい
う。
2038 モルフォロジ,形成された膜の表面や断面の形態。 morphology
モフォロジ
2039 島状構造 island structure
核(2027参照)が成長して,島とよばれる原子の集合体となり,この島
が不連続に多数分布した薄膜(2020参照)の構造。
2040 網目状構造 network structure
島と島とが合体して,島がつながった状態の薄膜(2020参照)。
参考 島状構造(2039参照)から連続薄膜(2022参照)への移行段
階。
2041 柱状構造 columnar structure
基板(2001参照)に対し,柱状の結晶(2008参照)が成長した薄膜(2020
参照)の構造。
2042 繊維構造 fiber structure
結晶(2008参照)が一つの結晶方位に配向した薄膜(2020参照)の構造。
2043 層状構造 layer structure
異種又は同種の原子又は分子が層状になって積み重なった薄膜(2020参
照)の構造。
2044 格子欠陥 規則正しく配列した結晶格子の規則性の乱れ。 lattice defect
参考 その形状から,点欠陥(空孔,格子間原子など),線欠陥(転
位),面欠陥(積層欠陥など)などに分類される。
2045 格子不整 原子配列の異なる原子層界面における格子配列の不一致。 lattice misfit
2046 緩衝層 buffer layer
積層している各層の層間の不整合を緩和するため,層間に挿入する層。
2047 ボイド 空孔の集合による球状又は多面体の空洞。 void
2048 ピンホール 薄膜(2020参照)に存在する微小な穴状の欠陥。 pinhole
2049 多孔率 porosity
薄膜(2020参照)の全容積のなかで細孔の占める容積の割合。多孔度又
は気孔率ともいう。
2050 化学量論組成 分子式で示されるような化合物の組成。 stoichiometry

――――― [JIS H 0211 pdf 5] ―――――

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