JIS K 0121:2006 原子吸光分析通則

                                                                                   K 0121 : 2006

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本分析
機器工業会(JAIMA)/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正すべき
との申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS K 0121:1993は改正され,この規格に置き換えられる。
  この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
  JIS K 0121には,次に示す附属書がある。
    附属書(規定)原子吸光分析装置の使用判定項目

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS K 0121 pdf 1] ―――――

K 0121 : 2006

pdf 目 次

ページ

•  1. 適用範囲・・・・[1]
•  2. 引用規格・・・・[1]
•  3. 定義・・・・[1]
•  4. 分析方法の種類・・・・[2]
•  5. 原子吸光分析・・・・[2]
•  5.1 装置の構成・・・・[2]
•  5.2 光源部・・・・[2]
•  5.3 試料原子化部・・・・[3]
•  5.4 光学系・・・・[5]
•  5.5 検出部・・・・[6]
•  5.6 データ処理部・・・・[6]
•  5.7 バックグラウンド補正・・・・[6]
•  5.8 附属装置・・・・[10]
•  5.9 付加機能・・・・[12]
•  6. 水銀専用原子吸光分析・・・・[12]
•  6.1 装置の構成・・・・[12]
•  6.2 附属装置・・・・[14]
•  7. 水,試薬及びガス類・・・・[14]
•  7.1 水・・・・[14]
•  7.2 試薬・・・・[14]
•  7.3 ガス・・・・[14]
•  8. 操作方法・・・・[14]
•  8.1 装置の設置条件・・・・[14]
•  8.2 試料の調製・・・・[15]
•  8.3 装置操作条件の設定・・・・[15]
•  8.4 測定・・・・[16]
•  9. 定量・・・・[17]
•  9.1 定量方法・・・・[17]
•  9.2 定量値の表し方・・・・[18]
•  9.3 干渉・・・・[18]
•  9.4 干渉の補正・・・・[18]
•  9.5 データの質の管理・・・・[19]
•  9.6 装置の使用判定項目・・・・[19]
•  10. 安全・・・・[20]
•  11. 測定結果の整理・・・・[21]

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•  12. 個別規格で記載すべき事項・・・・[22]
•  附属書(規定)原子吸光分析装置の使用判定項目・・・・[23]

(pdf 一覧ページ番号 3)

――――― [JIS K 0121 pdf 3] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              K 0121 : 2006

原子吸光分析通則

General rules for atomic absorption spectrometry

1. 適用範囲

 この規格は,原子吸光分析装置を用いて,定量分析を行う場合の通則について規定する。

2. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS K 0050 化学分析方法通則
    JIS K 0083 排ガス中の金属分析方法
    JIS K 0101 工業用水試験方法
    JIS K 0102 工場排水試験方法
    JIS K 0211 分析化学用語(基礎部門)
    JIS K 0212 分析化学用語(光学部門)
    JIS K 0215 分析化学用語(分析機器部門)
    JIS K 0222 排ガス中の水銀分析方法
    JIS K 0557 用水・排水の試験に用いる水

3. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,JIS K 0050,JIS K 0211,JIS K 0212及びJIS K 0215に
よるほか,次による。
  なお,括弧内の対応英語は,参考のために示す。
a) 原子吸光(分光)分析(atomic absorption spectrometry) 原子吸光分析装置を用い,試料中に含まれ
    る分析対象元素を,フレーム(炎),電気加熱又は化学反応によって基底状態の原子とし,その原子蒸
    気層の吸光度を測定することによって,分析対象元素の濃度を求める方法。
b) フレーム原子吸光分析(flame atomic absorption spectrometry) フレームを用いる原子吸光分析。
c) 重水素ランプ(deuterium lamp) 重水素を封入した水素放電管で,紫外部全域にわたって強い連続ス
    ペクトルを発光するので,バックグラウンド補正用の光源として用いる。
d) 低圧水銀ランプ(low-pressure mercury lamp) 水銀蒸気の圧力が133 Pa以下の水銀放電管で,253.7 nm
    の共鳴線を強く発光するので水銀測定用の光源として用いる。
e) 電気加熱原子吸光分析(electrothermal atomic absorption spectrometry) 黒鉛又は耐熱金属を発熱体と
    する炉を電気的に加熱し,試料溶液を乾燥,灰化,原子化し,原子吸光分析をする方法。
f)  冷蒸気原子吸光分析(cold vapor atomic absorption spectrometry) 試料溶液を還元気化,又は加熱気化
    して得られた原子蒸気を原子吸光分析する方法。
g) 還元気化器(atomic generation device by reduction) 試料中の分析対象成分を還元気化して原子蒸気と
    する装置。

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K 0121 : 2006
h) 加熱気化器(atomic vapor generation device by heating) 試料中の分析対象成分を加熱気化して,原子
    蒸気とする装置。
i)  連続スペクトル光源補正方式(background-correction system using continuous-spectrum sources) 連続ス
    ペクトルを発生する光源を,バックグラウンド補正に用いる光学系の一方式。
j)  ゼーマン分裂補正方式(background-correction system using Zeeman splitted spectrum) 磁場によってゼ
    ーマン分裂したスペクトル線を,バックグラウンド補正に用いる光学系の一方式。
k) 非共鳴近接線補正方式(background-correction system using nonresonance spectrum) 中空陰極ランプか
    ら発生する分析対象元素の共鳴線に近接するスペクトル線を,バックグラウンド補正に用いる光学系
    の一方式。
l)  自己反転補正方式(background-correction system using self-reversal spectrum) 中空陰極ランプに通常
    の電流と高電流とを交互に流し,高電流による放電で生じる自已反転したスペクトル線をバックグラ
    ウンド補正に用いる光学系の一方式。
m) 水銀専用原子吸光分析装置(mercury analyzer) 試料中の水銀を還元気化又は加熱気化して発生する
    水銀原子蒸気を,原子吸光分析する水銀専用の測定装置。
n) 加熱気化−金アマルガムー冷蒸気方式(thermal vaporization-gold amalgamation-cold vapor type) 試料
    中の水銀を加熱気化して原子蒸気とし,水銀捕集管で濃縮後,これを加熱し,得られた原子蒸気を原
    子吸光分析する方式。

4. 分析方法の種類

 分析方法の種類には,原子吸光分析及び水銀専用原子吸光分析がある。
    備考 水銀専用原子吸光分析とは,水銀分析に特化した機能をもつ原子吸光分析のことをいう。

5. 原子吸光分析

5.1 装置の構成

 原子吸光分析装置は,光源部,試料原子化部,光学系,検出部及びデータ処理部から
構成する。図1に装置の基本構成の一例を示す。
      光源部       試料原子化部       光学系             検出部       データ処理部

(pdf 一覧ページ番号 )

       バックグラウンド補正部
    注(1) バックグラウンド補正部は常備の構成要素ではなく,これを備えないこともある。
                             図 1 原子吸光分析装置の構成(一例)

5.2 光源部

5.2.1  光源 光源部は,光源及びランプ点灯用電源で構成し,その光源は,次による。
a) 中空陰極ランプ 分析用光源及びバックグラウンド補正用光源で,図2に構造の一例を示す。

――――― [JIS K 0121 pdf 5] ―――――

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