JIS K 7244-3:1999 プラスチック―動的機械特性の試験方法―第３部：曲げ振動―共振曲線法

K 7244-3 : 1999 (ISO 6721-3 : 1994)

まえがき

  この規格は,工業標準化法に基づいて,日本工業標準調査会の審議を経て,通商産業大臣が制定した日
本工業規格である。
  JIS K 7244-3 : 1999には,次に示す附属書がある。
    附属書A(参考) ラウンドロビンテスト
    附属書B(参考) 参考文献
  JIS K 7244は,規格名称を“プラスチック−動的機械特性の試験方法”として,次の各部によって構成
する。
    第1部 : 通則
    (Part 1 General principles)
    第2部 : ねじり振子法
    (Part 2 : Torsion-pendulum method)
    第3部 : 曲げ振動−共振曲線法
    (Part 3 : Flexural vibration−Resonance-curve method)
    第4部 : 引張振動−非共振法
    (Part 4 : Tensile vibration−Non-resonance method)
    第5部 : 曲げ振動−非共振法
    (Part 5 : Flexural vibration−Non-resonance method)
    第6部 : せん断振動−非共振法
    (Part 6 : Shear vibration−Non-resonance method)
    第7部 : ねじり振動−非共振法                                                    (作成予定)
    (Part 7 : Torsional vibration−Non-resonance method)
    第8部 : 縦せん断振動−波動伝ぱ法                                                (作成予定)
    (Part 8 : Longitudinal and shear vibration−Wave-propagation method)
    第9部 : 引張振動−音波パルス伝ぱ法                                              (作成予定)
    (Part 9 : Tensile vibration−Sonic-pulse propagation method)
    第10部 : 平行円板形レオメータによる複素せん断粘度                               (作成予定)
    (Part 10 : Complex shear viscosity using a parallel-plate oscillatory rheometer)

(pdf 一覧ページ番号 )

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                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                          K 7244-3 : 1999
                                                                           (ISO 6721-3 : 1994)

プラスチック−動的機械特性の試験方法−第3部 : 曲げ振動−共振曲線法

Plastics−Determination of dynamicmechanical properties−Part3: Flexural vibration−Resonance-curve method

序文 この規格は,1994年に第1版として発行されたISO 6721-3, Plastics−Determination of dynamic
mechanical properties−Part 3 : Flexural vibration−Resonance-curve methodを翻訳し,技術的内容及び規格票
の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
1. 適用範囲
  この規格は,均質なプラスチックの曲げ複素弾性率E*f及び遮音用の積層プラスチック,例えば,プラ
スチック層を被覆した金属シート及び内部にプラスチック層をはさんだ2枚の金属シート,の減衰特性を
測定するための共振曲線に基づく曲げ振動法について規定する。多くの目的に対して,これらの特性を温
度及び周波数の関数として測定することは有用である。
2. 引用規格
  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の一部を構成する。これらの引用規
格のうちで,発効年(又は発行年)を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格を構成するもの
であって,その後の改正版・追補には適用しない。
    JIS K 7244-1 : 1994 プラスチック−動的機械特性の試験方法−第1部 : 通則
      備考 ISO 6721-1 : 1994, Plastics−Determination of dynamic mechanical properties−Part 1 : General
                principlesが,この規格に一致している。
3. 定義
  この規格で用いる用語の定義は,JIS K 7244-1の3.による。
4. 原理
  試験片には約10Hzから1 000Hzの範囲の周波数の強制曲げ振動が加えられる。共振曲線(JIS K 7244-1
の3.11参照)が測定され,得られた共振曲線から0.5MPa以上の範囲での曲げ貯蔵弾性率E'f[JIS K 7244-1
の3.2(貯蔵弾性率)参照]が,また,10-2から10-1の範囲での損失係数(tan      一                         

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2
K 7244-3 : 1999 (ISO 6721-3 : 1994)
の3.6参照)が算出される(備考1.参照)。試験周波数は,二次以上の振動次数の測定を行うことによって
変化させることができる。曲げ損失弾性率E''f(JIS K 7244-1の3.3参照)の測定範囲は,損失係数の測定
範囲及び貯蔵弾性率の値によって決まる。
  使用する振動モードは,振動モードIII(JIS K 7244-1の表2参照)であり,測定される弾性率のタイプ
はEf(JIS K 7244-1の表3参照)である。
  試験は断面が長方形の棒状試験片について,垂直の状態で上端をクランプして他端を自由とする(A法)
か,振動の節点に細い糸を取り付け水平につり下げて(B法)行う(図1参照)。B法が剛直な(すなわち,
寸法安定性が高い)試験片,例えば減衰用にプラスチック層を被覆した金属板の試験に特に適しているの
に対して,A法は比較的柔軟なものを含む多くのプラスチックの試験に適している。
    備考1. JIS K 7244-1に記述されているように,変形速度振幅の測定に基づく共振曲線から得られる
            周波数は動的特性と正確に対応する。この規格で推奨される損失係数(tan      が0.1未満の範
            囲では,変形振幅の測定に基づく共振曲線も使用できる。これより減衰特性の大きな材料に
            ついては,JIS K 7244-1の附属書Aによる。
5. 試験装置
5.1   一般
  試験装置は試験片をクランプ(A法)又はつ(吊)り下げる(B法)機器,試験片に強制曲げ振動を励
起させるとともに試験片の周波数及び速度振幅を測定するための電子機器(発振器及び記録装置)によっ
て構成される(備考1.参照)。振動の励起及び検出のために二つの電磁変換器が試験片の両端付近に取り付
けられる。試験片,クランプ又はつり下げ機器及び電磁変換器は恒温槽内部に配置する(図1参照)。
5.2   クランプ又はつり下げ糸
  試験片の1端をクランプする場合,クランプは試験片の上端を確実,かつ,堅固に保持するよう設計さ
れなければならない[図1 a)参照]。これは系の付加的な減衰の発生を防止するために必要である。
  付加的な減衰の原因は二つある。
― 試験片とクランプとの摩擦 : これは適切な振動次数の自由減衰振動の励起によって検出できる。JIS K
    7244-1の附属書Bに記載されているように,これは,線形粘弾性挙動からのずれとは異なる様式を示
    す。
― クランプの振動 : クランプは,振動している試験片に対して釣り合いおもりとして作用する重量物の
    上に設置されなければならない。これは恒温槽内に重く剛直なスタンドを設ける必要があることを示
    す。
      試験片を水平につり下げる場合,試験片は2本の細い糸によって振動の節点部分を支持されなけれ
    ばならない(9.3.2参照)。
5.3   励起子及び検出器
  発信器は,電磁変換器を用いて一定の力で試験片に10Hz1 000Hzの範囲の振動を励起できるものでな
ければならない。
  検出器は試験片の変形又は変形速度(備考1.参照)の測定が可能であり,それによって共振曲線が記録
できるものでなければならない(JIS K 7244-1の3.11及び附属書A参照)。
  検出器の変形速度振幅に対する感度の変化は周波数の10%の変化に対して0.5%を超えてはならない。
  検出器におけるノイズを最小化するためにトラッキングフィルターを使用しなければならない。周波数
は少なくとも0.1%の分解能で測定されなければならない(11.2参照)。

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                                                                 K 7244-3 : 1999 (ISO 6721-3 : 1994)
  適切な電磁変換器によって振動の励起及び検出を行うため,試験片の両端に2枚の小さく薄い鋼板を接
着しなければならない。
5.4   恒温槽
  JIS K 7244-1の5.3による。
5.5   ガス供給
  槽内置換のため,空気又は適切な不活性ガスを供給する。
5.6   温度計
  JIS K 7244-1の5.5による。
5.7   試験片の寸法及び密度測定装置
  JIS K 7244-1の5.6による。
  試験片の質量を測定するためのはかりは1mgまで測定可能なものでなければならない。
6. 試験片
  JIS K 7244-1の6.による。
6.1   形状及び寸法
  試験片は,断面が長方形の棒状又は十分な曲げ剛性が得られる程度の厚さの帯状でなければならない。
これは共振周波数の測定に重要である。一方,厚さは曲げ振動の波長と比較して十分小さくなければなら
ない。正確なE'の値が要求される場合,せん断変形及び回転慣性の影響を避けるためにも試験片の厚さは
制限される。均質,等方性の試験片について,6次までの測定によって±5%以内の精度でのE'の値が要求
される場合,長さ/厚さの比は50以上でなければならない。
  多層系における層の厚さはその系が設計された目的による。種々の系に対する曲げ振動試験の比較によ
れば,プラスチック層と基板材料の質量比は1 : 5が好ましい。
  横方向の共振を防ぐため,試験片の幅は測定に使用する波長の半分以下でなければならない。多くの場
合に,10mmの幅が適切である。
  試験片の長さは測定の周波数による。1端をクランプした試験片の場合,振動に対するクランプの影響
を避けるために,試験片の長さは十分長くなければならない。一般的には自由長180mmが望ましい。試
験片がクランプされない場合,その長さは150mmとしなければならない。
6.2   作製
  JIS K 7244-1の6.2による。
  電磁変換器によって振動の励起及び検出を行うため,試験片の両端付近に小さく,薄く,かつ,軽い鋼
板を接着しなければならない。4%を超えるE'の誤差を避けるため,取り付ける鋼板の質量は,試験片の質
量の1%を超えてはならない。鋼板による剛性の増加を防ぐため,鋼板の長さは試験片の長さの2%を超え
てはならない。鋼板間の距離は,励起子と検出器の干渉を防ぐ程度に大きくなければならない。
  多層系試験片は,目的の用途に対応する製造技術によって,その厚さに作製しなければならない。例え
ば,鋼製シート上のプラスチック材料においては,プラスチックは噴霧,粘着又は接着によって鋼製シー
トと接合する。
7. 試験片の数
  JIS K 7244-1の7.による。

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K 7244-3 : 1999 (ISO 6721-3 : 1994)
8. 状態調節
  JIS K 7244-1の8.による。
9. 手順
9.1   試験環境
  JIS K 7244-1の9.1による。
9.2   試験片の断面積及び密度の測定
  JIS K 7244-1の9.2による。
  試験片の密度(すなわち,自由長部分の単位体積当たりの質量)は,±0.5%の精度で測定しなければな
らない。
9.3   試験片の取付け及び変換器の調整
9.3.1  A法
  試験片とクランプ間の摩擦によって生じる付加的な減衰を防ぐのに十分な程度の締め付け力で試験片を
クランプする(5.2参照)。
  試験片の自由長Lを±0.5%の精度で測定する。
9.3.2  B法
  試験片の長さを±0.2%の精度で測定する。下の二つの式のうちいずれかを用いて試験片端から最初の節
点までの距離Liを算出する。
                        i=1の場合Li/l=0.224  (1)
                        i>1の場合Li/l=0.660/ (2i+1)  (2)
                      ここに, l :  試験片の長さ
                                i :  振動次数
  算出した節点の位置に細い,望ましくは非金属性の糸を取り付ける。
9.3.3  変換器の調整
  試験片をクランプ,又は糸で支持した後,検出用及び励起用変換器を調整し,共振周波数に影響しない
程度に試験片から離す。通常の試験装置では,i=1に対して推奨される距離は3mm以上である。より高
い振動次数に対しては1mm又はそれ以下の間げきとしてもよい。
9.4   温度依存性の測定
  JIS K 7244-1の9.4による。
9.5   周波数依存性の測定
  JIS K 7244-1の9.5による。
9.6   共振曲線の記録
  発信器を用いて試験片を励起し,変形又は変形速度(又は実効値)を測定する。周波数を変えながら共
振曲線を記録する。
  振幅は±0.5%の精度で,共振周波数は少なくとも±0.1%の精度で,また,共振ピークの幅はピーク幅の
±1%の精度で測定する(11.2参照)。通常,1次から6次又は7次までの振動に対する共振曲線の測定が
可能である。
  クランプした試験片を使用する場合(A法),1次の振動は最も強くクランプ内での減衰の影響を受け,
高次の振動の大きさは周波数の増大に伴って急速に減少する。したがって,測定には中間の次数を選択す
べきである。

――――― [JIS K 7244-3 pdf 5] ―――――

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