この規格ページの目次
- JISP8150 規格全文情報
- まえがき
- pdf 目 次
- 紙及び板紙−色(C/2゜)の測定方法−拡散照明法
- 序文
- 1. 適用範囲
- 2. 引用規格
- 3. 定義
- 3.1 反射率係数(reflectance factor)R
- 3.2 固有反射率係数(intrinsic reflectance factor)R∞
- 3.3 三刺激値(tristimulus values)X,Y,Z
- 3.4 CIELAB色空間(CIELAB colour space)
- 4. 原理
- 5. 装置
- 5.1 反射率計
- 5.2 フィルタ機能
- 5.3 参照標準面
- 5.4 常用標準面
- 5.5 光トラップ(black cavity)
- 6. 試料の採取
- 7. 試験片の調製
- 8. 操作
- 9. 計算
- 9.1 CIE三刺激値
- 9.2 CIELAB座標
- JIS P 8150:2004の引用国際規格 ISO 一覧
- JIS P 8150:2004の国際規格 ICS 分類一覧
- JIS P 8150:2004の関連規格と引用規格一覧
JIS P 8150:2004 規格概要
この規格 P8150は、拡散光で照明し,正反射成分を除いて,紙及び板紙の色を測定する方法について規定。蛍光染料(蛍光増白剤を除く。)又は蛍光顔料によって着色した紙及び板紙には適用しない。
JISP8150 規格全文情報
- 規格番号
- JIS P8150
- 規格名称
- 紙及び板紙―色(C/2°)の測定方法―拡散照明法
- 規格名称英語訳
- Paper and board -- Determination of colour(C/2 degree) -- Diffuse reflectance method
- 制定年月日
- 2004年3月20日
- 最新改正日
- 2018年10月22日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- ISO 5631:2000(MOD)
- 国際規格分類
ICS
- 85.060
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 紙・パルプ 2021, 色彩 2019
- 改訂:履歴
- 2004-03-20 制定日, 2008-10-01 確認日, 2013-10-21 確認日, 2018-10-22 確認
- ページ
- JIS P 8150:2004 PDF [12]
P8150:2004
まえがき
この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,紙パルプ技術協会(JAPAN TAPPI)/財団法人日
本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標準調
査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
制定に当たっては,ISO 5631 : 2000 Paper and board−Determination of colour(C/2゜)−Diffuse reflectance
methodを基礎として用いた。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任はもたない。
JIS P 8150には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定) 三刺激値の計算
附属書B(参考) 参考文献
附属書1(参考) JISと対応する国際規格との対比表
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS P 8150 pdf 1] ―――――
P 8150 : 2004
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1. 適用範囲・・・・[1]
- 2. 引用規格・・・・[1]
- 3. 定義・・・・[2]
- 3.1 反射率係数(reflectance factor)R・・・・[2]
- 3.2 固有反射率係数(intrinsic reflectance factor)R∞・・・・[2]
- 3.3 三刺激値(tristimulus values)X,Y,Z・・・・[2]
- 3.4 CIELAB色空間(CIELAB colour space)・・・・[2]
- 4. 原理・・・・[2]
- 5. 装置・・・・[2]
- 5.1 反射率計・・・・[2]
- 5.2 フィルタ機能・・・・[2]
- 5.3 参照標準面・・・・[2]
- 5.4 常用標準面・・・・[3]
- 5.5 光トラップ(black cavity)・・・・[3]
- 6. 試料の採取・・・・[3]
- 7. 試験片の調製・・・・[3]
- 8. 操作・・・・[3]
- 9. 計算・・・・[3]
- 9.1 CIE三刺激値・・・・[3]
- 9.2 CIELAB座標・・・・[3]
- 9.3 測定結果のばらつき・・・・[4]
- 10. 試験結果の表し方・・・・[4]
- 11. 報告・・・・[4]
- 附属書A(規定)三刺激値の計算・・・・[5]
- 附属書B(参考)参考文献・・・・[8]
- 附属書1(参考)JISと対応する国際規格との対比表・・・・[9]
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS P 8150 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
P 8150 : 2004
紙及び板紙−色(C/2゜)の測定方法−拡散照明法
Paper and board−Determination of colour(C/2゜)− Diffuse reflectance method
序文
この規格は,2000年に第1版として発行されたISO 5631 : 2000Paper and board−Determination of
colour(C/2゜)−Diffuse reflectance methodを翻訳し,技術的内容を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)で
あるが,対応国際規格には規定されていない規定項目を日本工業規格(日本産業規格)として追加している。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。
1. 適用範囲
この規格は,拡散光で照明し,正反射成分を除いて,紙及び板紙の色を測定する方法につ
いて規定する。この規格は,蛍光染料(蛍光増白剤を除く。)又は蛍光顔料によって着色した紙及び板紙に
は適用しない。ただし,蛍光増白剤を含む紙及び板紙の色については,試験片への照明光に含まれる紫外
線量を,ISO 2470に規定した認定試験所(authorized laboratory)が発行するIR3標準蛍光白色面を用い,
CIEイルミナントC相当の紫外線含有量に調整すれば,測定してもよい。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
(修正している),NEQ(同等でない)とする。
ISO 5631 : 2000,Paper and board−Determination of colour(C/2゜)−Diffuse reflectance method
(MOD)
2. 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格のうちで,発行年を付記してあるものは,記載の年の版だけがこの規格の規定を構
成するものであって,その後の改正版・追補には適用しない。発行年を付記していない引用規格は,その
最新(追補を含む。)を適用する。
JIS P 0001 紙・板紙及びパルプ用語
JIS P 8110 紙及び板紙−平均品質を測定するためのサンプリング方法
備考 ISO 186,Paper and board−Sampling to determine average qualityが,この規格と一致している。
JIS Z 8401 数値の丸め方
JIS Z 8722 色の測定方法−反射及び透過物体色
ISO 2469,Paper,board and pulps−Measurement of diffuse reflectance factor
ISO 2470,Paper,board and pulps−Measurement of diffuse blue reflectance factor (ISO brightness)
CIE Publication 15.2:1986, Colorimetry
ASTM E 308-95,Standard Practice for Computing the Colors of Objects by Using the CIE System
――――― [JIS P 8150 pdf 3] ―――――
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P 8150 : 2004
3. 定義
この規格で用いる主な用語の定義は,JIS P 0001によるほか,次による。
3.1 反射率係数(reflectance factor)R
同一の照明及び受光条件下において,完全拡散反射体によって
反射された放射に対する,物体によって反射された放射の比率を,百分率で表した値。
参考 反射率係数は,物体が半透明の場合は裏当ての影響を受ける。
3.2 固有反射率係数(intrinsic reflectance factor)R∞
測定するシート枚数を2倍にしても,反射率係数
に変化がないほど不透明になるだけの厚さの,1枚の,又は重ねた試料の反射率係数。
3.3 三刺激値(tristimulus values)X,Y,Z
与えられた三色表色系において,試料の色刺激と等色する
ための3個の原刺激の量。
備考 この規格では,三色表色系を定義するために,CIE 1931標準観測者及びCIEイルミナントCを
用いる。
3.4 CIELAB色空間(CIELAB colour space)
9. 計算に規定した式によって定義した量L*,a*,b*を,直交座標系にプロットして得られる,3次元の近似的な均等色空間。4. 原理
一定条件下で試料から反射された光を,フィルタ方式の光電色彩計又は分光測光器によって解
析し,色座標を算出する。
5. 装置
装置は,次による。
5.1 反射率計
ISO 2469で規定した幾何学的,分光的及び測光的特性をもち,ISO 2469の規定に従って
校正したもの。
備考 ISO 2469の1994年版では,反射率計の仕様を附属書Aに規定しており,また,校正サービス
を附属書Bに規定している。ISO 2469が改正された場合,番号が変わる可能性がある。したが
って,1994年版以降の版を参照する場合は,反射率計の仕様及び校正サービスを規定している
該当箇所を確認する必要がある。
5.2 フィルタ機能
フィルタ方式の光電色彩計の場合,装置の他の光学特性と併せて,CIEイルミナン
トCにおける試験片のCIE 1931標準表色系のCIE三刺激値X,Y,Zと等価に応答する一組のフィルタ。
分光測光器の場合,附属書Aに規定した重価係数を用いて,CIEイルミナントCにおける試験片のCIE
1931標準表色系のCIE三刺激値X,Y,Zを算出できる機能。
参考 分光測光器としては,JIS Z 8722に規定する第2種分光測光器が広く使われている。
5.3 参照標準面
装置及び常用標準面を校正するために,ISO 2469の規定に従ってISO/TC6認可試験所
が発行したもの。測定精度を最大にするためには,試験試料に予想される最大幅以内の値をもつ参照標準
面を選択する。
装置の直線性が不十分であるか,又は,光電色彩計では,CIE三刺激値X,Y,Zと等価に応答する一組
のフィルタ特性の誤差が,及び分光測光器では,分光波長の公称値に対する波長の誤差が許容限界以上に
大きいと考えられる場合は,測定試料に近い参照標準面を使用することを考慮すべきである。
参考 ISO/TCの認可試験所として、次の試験所がある。
CTP(Centre Technique du PaPier) フランス
KCL(Oy Keskuslaboratorio−Centrallaboratorium Ab)フィンランド
PAPRICAN(Pulp and Paper Research Institute of Canada)カナダ
STFI(Skogsindustrins tekniska forskningsinstitut) スウェーデン
TLS(Technidyne Laboratory Services)アメリカ合衆国
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P 8150 : 2004
5.4 常用標準面
使用する装置によって,ISO 2469に規定した認可試験所が発行するISOレベル3標準
面で校正したもの。満足な校正結果を維持するのに十分な頻度で,常用標準面の校正を行う。
使用する装置が参照装置と一致していることを保証できるほど十分な頻度で,新たに校正した参照標準
面を用いて校正する。
5.5 光トラップ(black cavity)
公称反射率係数に対し,すべての波長において反射率係数の差が
±0.2 %にあるもの。光トラップは,清浄な環境下に開口部を下向きにするか,又は,保護用のふたをし
て保管する。
参考1. 光トラップの状態が正常かどうかは,装置製造業者が確認する。
2. 公称反射率係数は,装置製造業者が定める。
6. 試料の採取
ロットを評価するための試験を行う場合は,JIS P 8110に規定する方法によって,試料
を採取する。それ以外の場合は,試料を代表するように試験片を採取する。
7. 試験片の調製
すき入れ,きょう雑物及び明らかな欠陥箇所を避けて,約75 mm×150 mmの長方形
の試験片を切り取る。10枚以上の試験片を,表が上を向くように重ねる。試験片の枚数は,2倍にしても
反射率係数が変化しない枚数とする。試験片束の上下に保護紙を当て,汚れ,光及び熱から保護する。
一番上の試験片の隅に,試料の種類及び表が分かるように印を付ける。
表・裏の判別が可能な場合は,表を上に向ける。ツインワイヤ抄紙機で抄造された紙のように,表・裏
の判別が不可能な場合は,同じ面を上に向ける。
8. 操作
操作は,次による。
a) 常用標準面を用いて,装置の校正を行う。
b) 試験片束から保護用の紙を取り除く。装置の測定手順に従い,測定箇所に触れないようにして,最初
の試験片のCIE三刺激値(L*,a*,b*を直接表示できる装置の場合は,L*,a*,b*)を測定する。値を読
み取り,0.05単位で記録する。
c) 測定した試験片を試験片束の一番下に移し,次の試験片について測定を行う。この操作を繰り返し,
合計10枚以上の試験片を測定する。
d) 必要に応じ,試験片の反対側の面について測定を行う。
9. 計算
計算は,次による。
9.1 CIE三刺激値
装置の波長間隔が5 nm以下である場合は,CIE Publication 15.2 : 1986に従ってCIE
三刺激値を計算する。それ以外の場合は,ASTM E 308-95に規定する重価係数を用いて,三刺激値を計算
する。CIE三刺激値を直接求めることができない装置の場合は,附属書Aに規定した表を用いて,三刺激
値を計算する。
9.2 CIELAB座標
次の式を用いて,三刺激値X,Y,ZからCIELAB座標を計算する。
L* 116(Y / Yn )1/316 (1)
a* 500[(X / Xn )3/1 (Y /Yn )3/1 ]
(pdf 一覧ページ番号 )
――――― [JIS P 8150 pdf 5] ―――――
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JIS P 8150:2004の引用国際規格 ISO 一覧
- ISO 5631:2000(MOD)
JIS P 8150:2004の国際規格 ICS 分類一覧
JIS P 8150:2004の関連規格と引用規格一覧
- 規格番号
- 規格名称
- JISP0001:1998
- 紙・板紙及びパルプ用語
- JISP8110:2006
- 紙及び板紙―平均品質を測定するためのサンプリング方法
- JISZ8401:2019
- 数値の丸め方
- JISZ8722:2009
- 色の測定方法―反射及び透過物体色