JIS R 3702:1996 顕微鏡用カバーガラス

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                             R 3702-1996

顕微鏡用カバーガラス

Cover glasses for microscopes

1. 適用範囲 この規格は,主として透過形顕微鏡用標本に用いられるカバーガラスについて規定する。
    備考1. この規格の引用規格を,次に示す。
    JIS R 3502 化学分析用ガラス器具の試験方法
    JIS Z 8401 数値の丸め方
         2. この規格の対応国際規格を,次に示す。
          ISO 8255-1 Optics and optical instruments−Microscopes−Cover glasses−Part 1 : Dimensional
              tolerances, thickness and optical properties
          ISO/DIS 8255-2 Optics and optical instruments Microscopes Cover glasses Part 2 : Material
              requirements and test methods
         3. この規格の中で{}を付けて示してある単位及び数値は,従来単位であって,参考として
            併記したものである。
2. 品質
2.1   外観 顕微鏡用カバーガラス(以下,カバーガラスという。)の外観は,表1のとおりとする。
                                           表1 外観
                   項目                              外観
              色            無色透明であること。
              ひずみ        互いに直交した2枚の偏光板で挟んだとき著しい干渉色がないこと。
              清浄度        清浄でくもりがないこと。
              泡            実用上有害なものがないこと。
              すじ          透視で見えないこと。
              欠け          長さ0.5mm以上のものがないこと。
              きず          実用上有害なものがないこと。
              角の仕上がり  長さ1mm,深さ0.5mm以上の欠けや切れ目がないこと。
2.2   アルカリ溶出量 カバーガラス2.5g当たりのアルカリ溶出量は,0.2mg (Na2O) 以下とする。
2.3   平面度 カバーガラスの平面度は,0.010mm以下とする。
2.4   屈折率及びアッベ数 カバーガラスの屈折率 (ne) 及びアッベ数 (ve) は,次のとおりとする。
                        ne=1.525 5±0.001 5
                        ve=56±2
2.5   くっつき 箱から取り出したとき,互いにくっつきがないこととする。

――――― [JIS R 3702 pdf 1] ―――――

2
R 3702-1996
3. 寸法及び許容差
3.1   厚さ カバーガラスの厚さは,表2のとおりとする。
                                    表2 カバーガラスの厚さ
                                                      単位mm
                                     呼び名       厚さの範囲
                                    No.1          0.120.17
                                    No.1-S        0.150.18
3.2   長辺及び短辺寸法 カバーガラスの長辺及び短辺寸法は,受渡当事者間の協定による。
  なお,カバーガラスの長辺及び短辺の寸法の許容差は,表示に対して各々±0.5mmとする。
4. 試験方法
4.1   外観試験 外観試験は,カバーガラスの正面から約30cmの距離でガラス面を透視し,又は反射光を
用いて目視で行う。
4.2   アルカリ溶出試験 アルカリ溶出試験は,JIS R 3502の規定による。
4.3   平面度試験 平面度試験は,カバーガラス100枚をとり,全部を重ね合わせ,これを平板上に載せ,
まずコンパレータでその高さを測定(1)する。
  次いで,その100枚の一番上に20kPa [{200gf/cm2}] の圧力を加えながら再びその高さをコンパレータで
測定(2)し,次の式によって1枚当たりの平面度 (mm)   を算出する。
                      ここに,     H : 100枚の加圧前の高さ (mm)
                                  H1 : 100枚の加圧後の高さ (mm)
    注(1) 測定に当たっては上下を逆にしてそれぞれ測定し,その平均値を平面度の報告とする。
      (2) 試験装置は,図1を参照。
                                      図1 平面度試験装置
4.4   屈折率測定 光源としてe-line (      546.07nm) を用いたアッベの屈折計で測定する。
4.5   くっつき試験 くっつき試験は,個装箱からカバーガラス全部を取り出し,枚数を数えながらガラ
スのくっつきを目視で確認する。このとき,ゴム製の指サック,プラスチック製の検査手袋を用いて,カ
バーガラスに湿気を与えないように,又はくっつきを起こすおそれがある異物がカバーガラスの間に入ら
ないようにする。
  また試験中,カバーガラスは必ず端を持つこと。

――――― [JIS R 3702 pdf 2] ―――――

                                                                                              3
                                                                                    R 3702-1996
4.6   厚さの測定 厚さの測定は,1/100mmまで読めるマイクロメータなどを用いて測定し,JIS Z 8401
の規定によって小数点以下2けたに丸めて,その厚さを決定する。
5. 検査 検査は,4.の試験方法によって試験を行い,2.及び3.を満足しなければならない。
6. 表示 表示は,個装箱とその外装箱ごとに,次の事項を明記する。
(1) 包装時の年月(これについては外装箱だけでもよい。)
(2) 枚数
(3) 厚さの呼び名 (No.1, No.1-S)
(4) 長辺及び短辺の寸法(長辺×短辺)
(5) 製造業者名又はその略号
(6) 製造国名
関連規格 ISO 7944 Optics and optical instruments−Reference wavelengths
                     JIS R 3702 顕微鏡用カバーガラス原案作成委員会 構成表
                                          氏名                    所属
              (委員長)            三 宅 和 夫       筑波大学
                                    松 谷 有希雄      厚生省薬務局
                                    富 岡 賢 治       文部省教育局
                                    藤 野 達 夫       通商産業省機械情報産業局
                                    青 柳 聖 治       日本写真機光学機器検査協会
                                    岡 林 哲 夫       工業技術院標準部
                                    辻 内 順 平       東京工業大学
                                    太 田 次 郎       お茶の水女子大学
                                    山 口 和 克       杏林大学
                                    中 村 恭 一       東京医科歯科大学
                                    嶋    昭 絋       東京大学
                                    瀬 谷 正 樹       ユニオン光学株式会社
                                    松 原 正 樹       オリンパス光学工業株式会社
                                    深 井 澄 久       株式会社ニコン
                                    寺 尾 昌 男       東洋光学工業株式会社
                                    黒 岩 秀 一       協和光学工業株式会社
                                    和 田 計 二       サクラ精機株式会社
                                    加 藤 幸 彦       カートン光学株式会社
                                    小 林     亨      株式会社トプコン
                                    岡 崎 重 雄       株式会社清和光学
                                    原 嶋 啓 好       和泉光学工業株式会社
                                    余 吾 正 雄       松浪硝子工業株式会社
                                    加 山 英 男       財団法人日本規格協会
              (事務局)            古 屋 武 吉       日本顕微鏡工業会