JIS X 0521-1:2005 バーコード検証器の適合仕様―第1部:1次元シンボル

JIS X 0521-1:2005 規格概要

この規格 X0521-1は、JIS X 0520の手法を用いる1次元バーコード向け検証器について,試験方法及び最低限の精度基準について規定。

JISX0521-1 規格全文情報

規格番号
JIS X0521-1 
規格名称
バーコード検証器の適合仕様―第1部 : 1次元シンボル
規格名称英語訳
Barcode verifier conformance specifications -- Part 1:Linear symbols
制定年月日
2005年12月20日
最新改正日
2016年10月20日
JIS 閲覧
‐ 
対応国際規格

ISO

ISO/IEC 15426-1:2000(IDT)
国際規格分類

ICS

35.040
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
情報セキュリティ・LAN・バーコード・RFID 2019
改訂:履歴
2005-12-20 制定日, 2011-08-22 確認日, 2016-10-20 確認
ページ
JIS X 0521-1:2005 PDF [9]
                                                            X 0521-1 : 2005 (ISO/IEC 15426-1 : 2000)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本自動認識システム協会(JAISA)
/財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日
本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
制定に当たっては,日本工業規格(日本産業規格)と国際規格との対比,国際規格に一致した日本工業規格(日本産業規格)の作成及び日
本工業規格を基礎にした国際規格原案の提案を容易にするために,ISO/IEC 15426-1:2000,Information
technology−Automatic identification and data capture techniques−Bar code verifier conformance specifications−
Part 1:Linear symbols を基礎として用いた。
この規格の一部が,技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の
実用新案登録出願に抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会
は,このような技術的性質をもつ特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権,又は出願公開後の実用新
案登録出願にかかわる確認について,責任をもたない。
JIS X 0521-1には,次に示す附属書がある。
附属書A(規定)1次参照テストシンボル
附属書B(規定)1次参照テストシンボルの検証要件
JIS X 0521の規格群には、次に示す部編成がある。
JIS X 0521-1第1部 : 1次元シンボル
JIS X 0521-2第2部 : 2次元シンボル(予定)

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 0521-1 pdf 1] ―――――

X 0521-1 : 2005 (ISO/IEC 15426-1 : 2000)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1. 適用範囲・・・・[1]
  •  2. 規格への適合・・・・[1]
  •  3. 引用規格・・・・[2]
  •  4. 定義・・・・[2]
  •  5. 記号及び略語・・・・[2]
  •  6. 機能要件・・・・[2]
  •  6.1 一般要件・・・・[2]
  •  6.2 反射率の校正・・・・[2]
  •  6.3 必す(須)機能・・・・[2]
  •  6.4 任意補足機能・・・・[3]
  •  7. 構成上及び操作上の一般要件・・・・[3]
  •  7.1 設置,操作及び保守・・・・[3]
  •  7.2 電源・・・・[3]
  •  7.3 温度・・・・[3]
  •  7.4 動作温度範囲・・・・[3]
  •  7.5 湿度・・・・[3]
  •  7.6 周辺光への耐性・・・・[3]
  •  8. 試験要件・・・・[4]
  •  8.1 試験方法・・・・[4]
  •  8.2 試験環境・・・・[4]
  •  8.3 1次参照テストシンボル・・・・[4]
  •  8.4 試験報告・・・・[5]
  •  9. 証明及びラベルちょう(貼)付・・・・[5]
  •  10. 装置仕様・・・・[5]
  •  附属書A(規定)1次参照テストシンボル・・・・[6]
  •  附属書B(規定)1次参照テストシンボルの検証要件・・・・[7]

――――― [JIS X 0521-1 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
X 0521-1 : 2005
(ISO/IEC 15426-1 : 2000)

バーコード検証器の適合仕様−第1部 : 1次元シンボル

Barcode verifier conformance specifications−Part 1:Linear symbols

序文

 この規格は,2000年に第1版として発行されたISO/IEC 15426-1,Information technology−Automatic
identification and data capture techniques−Bar code verifier conformance specifications−Part 1:Linear symbolsを
翻訳し,技術的内容及び規格票の様式を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある“参考”は,原国際規格にはない事項である。

1. 適用範囲

 この規格では,JIS X 0520の手法を用いる1次元バーコード向け検証器(以下,検証器と
いう。)について,試験方法及び最低限の精度基準について規定する。これらを試験するときの参照すべき
校正基準についても規定する。この規格では,装置の代表的サンプルに対する試験について規定する。
備考 この規格の対応国際規格を,次に示す。
なお,対応の程度を表す記号は,ISO/IEC Guide 21に基づき,IDT(一致している),MOD
(修正している),NEQ(同等でない)とする。
ISO/IEC 15426-1:2000,Information technology−Automatic identification and data capture techniques
−Bar code verifier conformance specifications−Part 1:Linear symbols (IDT)

2. 規格への適合

 検証器は,6.3に規定する機能を実行し,8.によって実施した1次参照テストシンボル
の試験結果が次の条件を満たしている場合に,この規格に適合した検証器と見なす。
a) 試験したシンボル全体のグレードの小数第1位までが,1次参照テストシンボルの供給者が提示する
シンボル全体のグレードの±0.2である。
b) 試験によって得られる個々のパラメタについて10回試験した平均が,表1に示す許容範囲内である。
c) 試験によって得られる個々のパラメタについて10回試験して得たグレードを四捨五入した整数が,1
次参照テストシンボルの供給者が提示するグレードに等しい。
表 1 試験したパラメタ値の許容範囲
パラメタ 許容範囲
Rmax ±5 % 反射率
Rmin ±3 % 反射率
復号容易度 ±0.08
欠陥 ±0.08
備考 これらの許容範囲は,1次参照テストシンボルの供給者が
提示する許容範囲に追加されることになる。

――――― [JIS X 0521-1 pdf 3] ―――――

2
X 0521-1 : 2005 (ISO/IEC 15426-1 : 2000)

3. 引用規格

 次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成す
る。これらの引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS Q 9001 品質マネジメントシステム−要求事項
備考 ISO 9001:1994,Quality systems−Model for quality assurance in design,development,production,
installation and servicing及びISO 9002:1994,Quality systems−Model for quality assurance in
production,installation and servicingからの引用事項は,この規格の該当事項と同等である。
JIS X 0520 バーコードシンボル印刷品質の評価仕様−1次元シンボル
備考 ISO/IEC 15416 Information technology−Automatic identification and data capture techniques−
Bar code print quality test specification−Linear symbolsが,この規格と一致している。
JIS Z 9015-1 計数値検査に対する抜取検査手順−第1部 : ロットごとの検査に対するAQL指標型抜
取検査方式
備考 ISO 2859-1 Sampling procedures for inspection by attributes−Part 1: Sampling schemes indexed
by acceptance quality limit (AQL) or lot-by-lot inspectionが,この規格と一致している。
ISO 3951 Sampling procedures and charts for inspection by variables for percent nonconforming
CEN/EN 1556 Bar coding−Terminology

4. 定義

 この規格で用いる主な用語の定義は,CEN/EN 1556によるほか,次による。
4.1 1次参照テストシンボル 許容誤差を検証器精度の10倍に近い精度で作り,この規格に従ったバー
コード検証器の精度試験用シンボル。

5. 記号及び略語

    Rmax : JIS X 0520の定義による最大反射率
Rmin : JIS X 0520の定義による最小反射率
PCS値 : CEN/EN 1556の定義による。
参考 CEN/EN 1556によるPCS (Print Contrast Signal) 値の定義は,JIS X 0520の附属書Iの規定と同
じである。

6. 機能要件

6.1 一般要件

 検証器は,一定期間内において同じ検証器で特定のシンボルを反復して測定する場合及
び異なる検証器で特定のシンボルを測定する場合であっても,正確,かつ,一貫した形で,シンボルの品
質を評価できなければならない。時間を変えて2回検証したシンボル及び二つの異なる検証器で検証した
シンボルでも,評価を正しく比較できるようにするためには,このような一貫性が必要となる。

6.2 反射率の校正

 検証器は,必要なときに基準反射率校正サンプルを使って,反射率の値を校正及び
調整できる手段をもっていなければならない。JIS X 0520では,二つの校正基準点を使用するように規定
しているが,この校正基準点は,反射率の範囲で最も上限に近い基準点及び最も下限に近い基準点の二つ
である。

6.3 必す(須)機能

 JIS X 0520による検証器は,次の機能をもたなければならない。
− シンボルを通る1本以上の走査線上で測定された反射率測定結果を集める。
− 上の測定値から走査反射率波形を作成する。
− 走査反射率波形を分析する。

――――― [JIS X 0521-1 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
X 0521-1 : 2005 (ISO/IEC 15426-1 : 2000)
− 走査反射率波形のパラメタごとのグレードを報告する。
− シンボル全体のグレードを決定して報告する(開口径及び使用した照明のピーク波長も含む。)。
− 復号化したデータを報告する。
− 符号化されたすべてのシンボルキャラクタを報告する。
検証結果を報告する方法については特に規定しないが,検証器での画面表示,印刷,コンピュータを含
めた他の装置とのデータ通信などが考えられる。

6.4 任意補足機能

 検証器にどこまで詳しい報告を求めるかは,検証器の使用者によって異なるため,
検証器は次のような補足機能をもっていてもよい。
− 総合シンボルグレードの基準となる走査反射率波形の数を報告する。
− バー幅の平均偏差,最大偏差及び最小偏差を報告する。
− 検証されたシンボル体系を報告する。
− 使用者の選択によって,走査反射率波形のすべて又は選択部分を,印刷又は表示する。
− (Rmax Rmin)/Rmaxを計算し,PCS値として報告する。
備考 PCS値を計算しておくと,PCS値でコントラストを規定しているアプリケーション仕様に従っ
ている使用者に有益である。このパラメタは,シンボルコントラストと比べて,読取性能との
相関性が少ない。

7. 構成上及び操作上の一般要件

7.1 設置,操作及び保守

 製造業者は,装置の設置者,使用者又は保守管理者へ提供する文書の中で,
装置の設置,操作及び保守に関する条件を規定しなければならない。これらの文書では,保守の推奨範囲
及び頻度について指示しておかなければならない。この規格の対象となる装置が,上の条件に従って設置,
操作及び保守されるときは,提供する文書の規定どおりに動作しなければならない。

7.2 電源

 製造業者は,装置がその仕様に従って動作することができる電源について,最小パラメタ及
び最大パラメタを表示しなければならない。製造業者によって規定されている範囲で電源電圧及び周波数
が変動しても,検証器の精度に悪影響があってはならない。
電池式装置の場合,検証器の信頼性を保証できない低電圧の限界に近づいた時点で,検証器は,操作者
へ警告信号を送るか,又は動作を停止しなければならない。充電式装置の場合は,製造業者は,電池への
充電要件を表示しなければならない。

7.3 温度

7.4 動作温度範囲

 製造業者は,装置が動作する温度範囲について,℃の単位で明記しなければならな
い。
7.4.1 保存温度範囲 製造業者は,装置(取外し可能な電池も含む)が,保存及び輸送中に,性能を劣化
させることなく耐えることのできる温度範囲を,℃の単位で明記しなければならない。

7.5 湿度

 製造業者は,装置が動作する空気中の相対湿度(RH)範囲及びその環境における結露の有無に
ついて明記しなければならない。

7.6 周辺光への耐性

 周辺光には様々な特徴があるため,これも考慮に入れておいた方がよい。問題を
引き起こす可能性がある代表的な光源としては,高効率蛍光灯,ナトリウム灯,水銀灯,赤色ネオン灯,
直射日光などが挙げられる。
製造業者は,装置を使用する場合の周辺光について,推奨条件を明記しなければならない。

――――― [JIS X 0521-1 pdf 5] ―――――

次のページ PDF 6

JIS X 0521-1:2005の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 15426-1:2000(IDT)

JIS X 0521-1:2005の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 0521-1:2005の関連規格と引用規格一覧