JIS X 0526:2017 情報技術―自動認識及びデータ取得技術―バーコードシンボル印刷品質の評価仕様―二次元シンボル

JIS X 0526:2017 規格概要

この規格 X0526は、二次元バーコードシンボル固有の属性を測定するための二つの方法を規定。それぞれの測定値の評価及びグレード付けの方法,並びにシンボル品質を総合的に評価する方法を規定。参照復号アルゴリズムを規定している二次元シンボル体系に適用するが,この二つの方法が部分的に又は全体的に,それ以外の類似のシンボル体系にも適用。

JISX0526 規格全文情報

規格番号
JIS X0526 
規格名称
情報技術―自動認識及びデータ取得技術―バーコードシンボル印刷品質の評価仕様―二次元シンボル
規格名称英語訳
Information technology -- Automatic identification and data capture techniques -- Bar code symbol print quality test specification -- Two-dimensional symbols
制定年月日
2017年3月21日
最新改正日
2017年3月21日
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対応国際規格

ISO

ISO/IEC 15415:2011(IDT)
国際規格分類

ICS

35.040
主務大臣
経済産業
JISハンドブック
情報セキュリティ・LAN・バーコード・RFID 2019
改訂:履歴
2017-03-21 制定
ページ
JIS X 0526:2017 PDF [44]
                                                                X 0526 : 2017 (ISO/IEC 15415 : 2011)

pdf 目 次

ページ

  •  序文・・・・[1]
  •  1 適用範囲・・・・[1]
  •  2 引用規格・・・・[1]
  •  3 用語及び定義・・・・[2]
  •  4 記号及び略号・・・・[3]
  •  5 品質グレード付け・・・・[4]
  •  5.1 概要・・・・[4]
  •  5.2 品質グレードの表現・・・・[4]
  •  5.3 総合シンボルグレード・・・・[5]
  •  5.4 シンボルグレードの報告・・・・[5]
  •  6 マルチローシンボルの測定方法・・・・[6]
  •  6.1 概要・・・・[6]
  •  6.2 行また(跨)ぎ走査ができるシンボル体系・・・・[6]
  •  6.3 行ごとの走査が必要なシンボル体系・・・・[11]
  •  7 二次元マトリックスシンボルのための測定方法・・・・[11]
  •  7.1 測定方法の概要・・・・[11]
  •  7.2 試験画像の取得・・・・[12]
  •  7.3 参照反射率測定・・・・[13]
  •  7.4 走査回数・・・・[15]
  •  7.5 走査グレードの基準・・・・[15]
  •  7.6 グレード付けの手順・・・・[15]
  •  7.7 拡張領域全体の反射率追加検査・・・・[16]
  •  7.8 画像評価パラメタ及びグレード付け・・・・[16]
  •  7.9 走査グレード付け・・・・[22]
  •  7.10 総合シンボルグレード・・・・[22]
  •  7.11 印刷太り・・・・[23]
  •  8 合成シンボル体系の測定方法・・・・[23]
  •  9 基材の特性・・・・[23]
  •  附属書A(規定)シンボルグレード付けのためのシンボル体系特有のパラメタ及び値・・・・[24]
  •  附属書B(参考)二次元マトリックスシンボルのシンボルグレード付けフローチャート・・・・[28]
  •  附属書C(参考)走査グレード及びシンボルグレードの解説・・・・[30]
  •  附属書D(参考)アプリケーション仕様におけるグレード付けパラメタ選択の手引・・・・[32]
  •  附属書E(参考)基材の特質・・・・[37]
  •  附属書F(参考)二次元シンボル体系に適用されるパラメタグレードオーバレイ技法・・・・[39]
  •  参考文献・・・・[41]

(pdf 一覧ページ番号 1)

――――― [JIS X 0526 pdf 1] ―――――

X 0526 : 2017 (ISO/IEC 15415 : 2011)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人日本自動認識システム協会
(JAISA)及び一般財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべき
との申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。

(pdf 一覧ページ番号 2)

――――― [JIS X 0526 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
X 0526 : 2017
(ISO/IEC 15415 : 2011)

情報技術−自動認識及びデータ取得技術−バーコードシンボル印刷品質の評価仕様−二次元シンボル

Information technology-Automatic identification and data capturetechniques-Bar code symbol print quality testspecification-Two-dimensional symbols

序文

  この規格は,2011年に第2版として発行されたISO/IEC 15415を基に,技術的内容及び構成を変更する
ことなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある参考事項は,対応国際規格にはない事項である。

1 適用範囲

  この規格の適用範囲を,次に示す。
− 二次元バーコードシンボル固有の属性を測定するための二つの方法を規定する。一つはマルチローシ
ンボル体系に適用し,もう一つはマトリックスシンボル体系に適用する。
− それぞれの測定値の評価及びグレード付けの方法,並びにシンボル品質を総合的に評価する方法を規
定する。
− 利用者が適切な改善処置をとれるように,最適グレードからずれを生じさせると考えられる原因に関
する情報を提供する。
この規格は,参照復号アルゴリズムを規定している二次元シンボル体系に適用するが,この二つの方法
が部分的に又は全体的に,それ以外の類似のシンボル体系にも適用できる。
この規格は,ダイレクトパーツマーキングにも適用できるが,ISO/IEC TR 29158と合わせて適用するこ
とによって,測定結果とリーダの読取能力との間の,よりよい相関を得ることができる。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO/IEC 15415:2011,Information technology−Automatic identification and data capture techniques
−Bar code symbol print quality test specification−Two-dimensional symbols(IDT)
なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
とを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格のうちで,西暦年を付記してあるものは,記載の年の版を適用し,その後の改正版(追補を含む。)

――――― [JIS X 0526 pdf 3] ―――――

2
X 0526 : 2017 (ISO/IEC 15415 : 2011)
は適用しない。西暦年の付記がない引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS K 5600-4-5:1999 塗料一般試験方法−第4部 : 塗膜の視覚特性−第5節 : 測色(測定)
注記 対応国際規格 : ISO 7724-2:1984,Paints and varnishes−Colorimetry−Part 2: Colour measurement
(IDT)
JIS X 0500-1 自動認識及びデータ取得技術−用語−第1部 : 一般
注記 対応国際規格 : ISO/IEC 19762-1,Information technology−Automatic identification and data
capture (AIDC) echniques−Harmonized vocabulary−Part 1: General terms relating to AIDC(IDT)
JIS X 0500-2 自動認識及びデータ取得技術−用語−第2部 : 光学的読取媒体
注記 対応国際規格 : ISO/IEC 19762-2,Information technology−Automatic identification and data
capture (AIDC) echniques−Harmonized vocabulary−Part 2: Optically readable media (ORM)
(IDT)
JIS X 0510 二次元コードシンボル−QRコード−基本仕様
注記 対応国際規格 : ISO/IEC 18004,Information technology−Automatic identification and data capture
techniques−QR Code 2005 bar code symbology specification(MOD)
JIS X 0512 情報技術−自動認識及びデータ取得技術−バーコードシンボル体系仕様−データマトリ
ックス
注記 対応国際規格 : ISO/IEC 16022,Information technology−Automatic identification and data capture
techniques−Data Matrix bar code symbology specification(MOD)
JIS X 0520 自動認識及びデータ取得技術−バーコードシンボル印刷品質の評価仕様−一次元シンボ

注記 対応国際規格 : ISO/IEC 15416,Information technology−Automatic identification and data capture
techniques−Bar code print quality test specification−Linear symbols(IDT)
注記 この規格が適用できるシンボル体系仕様を含んでいる公式規格及び業界規格を,本体末尾の参
考文献に示す。

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS X 0500-1,JIS X 0500-2及びJIS X 0520によるほか,次によ
る。
3.1
2値化画像(binarized image)
参照グレースケール画像の画素値に全域的しきい(閾)値を適用して生成した2値(白及び黒の)画像。
3.2
有効分解能(effective resolution)
試験時のシンボル表面で得られる分解能。通常,画素数/mm又は画素数/インチで表し,撮像素子の
分解能に測定装置の光学系倍率を乗じて求める。
3.3
誤り訂正能力(error correction capacity)
一つのシンボル(又は誤り管理ブロック)内の,消失誤り訂正及び代入誤り訂正に割り振られているコ
ード語数から,誤り検出用に予約されているコード語数を減じたコード語数。

――――― [JIS X 0526 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
X 0526 : 2017 (ISO/IEC 15415 : 2011)
3.4
測定領域(inspection area)
クワイエットゾーンを含み,試験されるシンボル全域を包むく(矩)形(長方形又は正方形)の領域。
3.5
グレードしきい(閾)値(grade threshold)
二つのグレードの境界値。その値自体は,上位グレードの下限値である。
3.6
モジュール誤り(module error)
2値化画像において,明モジュール又は暗モジュールの明暗が,意図した状態からは反転しているモジ
ュールの状態。
3.7
画素(pixel)
配列された受光素子[すなわち,CCD(charge coupled device)又はCMOS(complimentary metal oxide
semiconductor)]の個々の要素。
3.8
生画像(raw image)
受光素子の個々の画素が受けた光量を表す反射率値を,二次元画像全域にわたるX-Y座標上に示した平
面像。
3.9
参照グレースケール画像(reference grey-scale image)
生画像における受光素子の個々の画素の反射率値を仮想円形開口で平均化した値を,二次元画像全域に
わたるX-Y座標上に示した平面像。
3.10
反射率マージン(reflectance margin)
誤り訂正及び既知のモジュール色を用いたモジュレーションの測定値。
3.11
抽出範囲(sample area)
直径0.8Xの円内に入る画像の範囲。ここに,Xは,そのシンボルの参照復号アルゴリズムによって決ま
る平均モジュール幅であり,アプリケーションがX寸法の範囲を定めている場合は,その最小値である。
3.12
走査グレード(scan grade)
マトリックスシンボルの1回走査で測定した,参照グレースケール画像及び2値化画像の各パラメタの
最低グレード。

4 記号及び略号

AN        軸の非均一性(Axial Nonuniformity)
Ecap シンボルの誤り訂正能力
e 消失数
FPD 固定パターン損傷(Fixed Pattern Damage)
GN 格子の非均一性(Grid Nonuniformity)

――――― [JIS X 0526 pdf 5] ―――――

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JIS X 0526:2017の引用国際規格 ISO 一覧

  • ISO/IEC 15415:2011(IDT)

JIS X 0526:2017の国際規格 ICS 分類一覧

JIS X 0526:2017の関連規格と引用規格一覧