JIS X 5214:2010 近距離通信用インタフェース及びプロトコル（ＮＦＣＩＰ－１）―プロトコル試験方法

                                                                X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 適合性・・・・[1]
•  3 引用規格・・・・[1]
•  4 表記法・・・・[2]
•  4.1 数字の表記・・・・[2]
•  4.2 名称・・・・[2]
•  4.3 試験成績書・・・・[2]
•  5 用語及び定義・・・・[2]
•  6 記号及び略語・・・・[4]
•  7 概要・・・・[5]
•  7.1 試験装置・・・・[5]
•  8 ターゲット試験方法・・・・[6]
•  8.1 ターゲット試験装置・・・・[6]
•  8.2 JIS X 5211に関するプロトコル試験方法リスト・・・・[6]
•  8.3 212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化・・・・[7]
•  8.4 能動通信モードにおける活性化・・・・[9]
•  8.5 ターゲット伝送プロトコルの論理操作・・・・[9]
•  9 イニシエータ試験方法・・・・[23]
•  9.1 イニシエータ試験装置・・・・[23]
•  9.2 イニシエータのプロトコル試験方法リスト・・・・[24]
•  9.3 212 kb/s及び424 kb/sでの受動通信モードにおける活性化・・・・[25]
•  9.4 能動通信モードにおける活性化・・・・[26]
•  9.5 伝送プロトコルの論理操作・・・・[26]
•  附属書A(規定)ターゲット試験の試験成績書テンプレート・・・・[37]
•  附属書B(規定)イニシエータ試験の試験成績書テンプレート・・・・[40]

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――――― [JIS X 5214 pdf 1] ―――――

X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)

まえがき

  この規格は,工業標準化法第12条第1項の規定に基づき,一般社団法人情報処理学会(IPSJ)及び財団法
人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を制定すべきとの申出があり,日本工業標
準調査会の審議を経て,経済産業大臣が制定した日本工業規格(日本産業規格)である。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。

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――――― [JIS X 5214 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                                JIS
                                                                              X 5214 : 2010
                                                                       (ISO/IEC 23917 : 2005)

近距離通信用インタフェース及びプロトコル(NFCIP-1)−プロトコル試験方法

Information technology-Telecommunications and information exchange between systems-NFCIP-1-Protocol Test Methods

序文

  この規格は,2005年に第1版として発行されたISO/IEC 23917を基に,技術的内容及び対応国際規格の
構成を変更することなく作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格にはない事項である。
  この規格はJIS X 5211のプロトコル試験を規定するものであり,JIS X 5211のRFインタフェース試験
を規定するJIS X 5213を補足するものである。

1 適用範囲

  この規格は,JIS X 5213に加えてJIS X 5211に対するプロトコル試験方法について規定する。
    注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
          ISO/IEC 23917:2005,Information technology−Telecommunications and information exchange between
              systems−NFCIP-1−Protocol Test Methods (IDT)
            なお,対応の程度を表す記号“IDT”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“一致している”こ
          とを示す。

2 適合性

  この規格で規定するすべての必す(須)要件を満たしたとき,JIS X 5211を実装するシステムは,この
規格に適合する。
    注記 この規格及びJIS X 5213がJIS X 5211の実装における,唯一の試験規格として国際規格を組み
          立てている。このため,対応国際規格では,次のとおり規定されている。
            JIS X 5211の実装は,JIS X 5213への適合に加え,この規格に規定するすべての試験及び要
          件を満たさなければならない。試験結果は,この規格の附属書A及び附属書Bに記載する形式
          で記録しなければならない。

3 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS X 5211 システム間の通信及び情報交換−近距離通信用インタフェース及びプロトコル

――――― [JIS X 5214 pdf 3] ―――――

2
X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
        (NFCIP-1)
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 18092,Information technology−Telecommunications and information
             exchange between systems−Near Field Communication−Interface and Protocol (NFCIP-1) (IDT)
    JIS X 5213 近距離通信用インタフェース及びプロトコル (NFCIP-1)−RFインタフェース試験方法
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 22536,Information technology−Telecommunications and information
             exchange between systems−Near Field Communication Interface and Protocol (NFCIP-1)−RF
             interface test methods (IDT)
    JIS X 6305-6 識別カードの試験方法−第6部 : 外部端子なしICカード−近接型
      注記 対応国際規格 : ISO/IEC 10373-6,Identification cards−Test methods−Part 6: Proximity cards
             (IDT)

4 表記法

4.1 数字の表記

  この規格においては,特に断らない限り,次の表記を適用する。
a) 16進法は,“XX”で表す。Xは数字及び英文字を表す。
b) ビットの設定は,0又は1で表す。
c) ビットパターン及び2進数表現の数字は,最上位ビットを左とし,b“xxxx xxxx”で表し,xは0又
    は1とする。規定しないビットにはxを用いることがある。

4.2 名称

  (対応国際規格では,この細分箇条において,名称の表記について英語特有の語句の用法について規定
しているが,この規格では不要であり,不採用とした。)

4.3 試験成績書

  試験成績書には,実施した試験の総数に対して合格した試験の数,サンプル個体数,及び試験日を記述
する(附属書A及び附属書B参照)。

5 用語及び定義

  この規格で使用する主な用語及び定義は,次による。
5.1
能動通信モードにおける活性化 (activation in active communication mode)
  JIS X 5211の規定に従ってDUTを能動通信モードで活性化するフローであって,初期化及びプロトコル
活性化を含むもの。
5.2
受動通信モードにおける活性化 (activation in passive communication mode)
  JIS X 5211の規定に従ってDUTを受動通信モードで活性化するフローであって,初期化及びプロトコル
活性化を含むもの。
5.3
能動通信モード (active communication mode)
  イニシエータ及びターゲットが,それぞれ自ら発生したRFフィールドを用いて通信するモード (JIS X
5211参照)。

――――― [JIS X 5214 pdf 4] ―――――

                                                                                              3
                                                                X 5214 : 2010 (ISO/IEC 23917 : 2005)
5.4
動作範囲 (operating volume)
  製造業者が指定する位置においてNFCデバイスが発生するHminHmaxの磁界強度範囲内となる空間領域。
5.5
受動通信モード (passive communication mode)
  イニシエータがRFフィールドを発生し,ターゲットがイニシエータの命令に対しJIS X 5211で定義さ
れる負荷変調で応答する方式。
5.6
単一デバイス検出 [single device detection (SDD)   ]
  RFフィールドにある複数のターゲットの中から一つを検出するために,イニシエータが使用するアルゴ
リズム。
5.7
シナリオ (scenario)
  プロトコル及びアプリケーションに固有の試験手順。シナリオ記述表は,すべての試験の操作手順を列
挙したものである。
  シナリオ記述表中に横線がある箇所では,デバイスが初期状態にリセットされなければならない。
5.8
試験命令 (test commands)
  JIS X 5211に従って実装されたシステムにおいて専用の機能を動作させるために定義された命令。これ
らの命令の中で実際に使用したpduを試験成績書に記録しなければならない(附属書A及び附属書B参
照)。
    注記 PDUの表記方法について,一般名称として記載するときには“pdu(小文字)”,固有名詞とし
          て記載するときには,“xxxPDU(大文字)”とした。
  すべての試験命令に対し有効な定義。
  xx     PNI
  次の試験命令は,JIS X 5211に規定されているpduに基づいて規定される。
  A (ACK)   x
        ACK/NACKビットが0に,PNIがxxにそれぞれ設定され,pduがACK/NACK PDUに符号化さ
        れたDEPREQ PDU又はDEPRES PDU。
  A (NACK)   x
        ACK/NACKビットが1に,PNIがxxにそれぞれ設定され,pduがACK/NACK PDUに符号化さ
        れたDEPREQ PDU又はDEPRES PDU。
  S (A)
        タイムアウトビットが0に設定され,pduが管理PDUに符号化されたDEPREQ PDU又は
        DEPRES PDU。PNIはこの命令には使用されない。
  S (TO)
        タイムアウトビットが1に設定され,pduが管理PDUに符号化されたDEPREQ PDU又は
        DEPRES PDU。PNIはこの命令には使用されない。
  TESTCOMMAND1xx
        既定の試験命令。複数情報リンクビットが0(連鎖なし)に設定され,PNIがxxに設定され,情

――――― [JIS X 5214 pdf 5] ―――――

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