JIS X 6250:2009 １２０ｍｍ（４．７ＧＢ／面）及び８０ｍｍ（１．４６ＧＢ／面）＋ＲＷフォーマット光ディスク（４倍速まで）

                                                                X 6250 : 2009 (ISO/IEC 17341 : 2006)

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•  序文・・・・[1]
•  第1章 一般事項・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 適合性・・・・[2]
•  2.1 光ディスク・・・・[2]
•  2.2 製造システム・・・・[2]
•  2.3 情報再生システム・・・・[2]
•  2.4 互換性・・・・[2]
•  3 引用規格・・・・[2]
•  4 用語及び定義・・・・[2]
•  5 表記法・・・・[4]
•  5.1 数値表記・・・・[4]
•  5.2 略式名称・・・・[5]
•  6 略語・・・・[5]
•  7 ディスクの概要・・・・[6]
•  8 一般要求事項・・・・[7]
•  8.1 環境条件・・・・[7]
•  8.2 安全性・・・・[8]
•  8.3 耐燃性・・・・[8]
•  9 基準測定装置・・・・[8]
•  9.1 光学系・・・・[8]
•  9.2 光学ビーム・・・・[9]
•  9.3 読取りチャネル1・・・・[10]
•  9.4 ディスククランプ・・・・[10]
•  9.5 ディスクの回転・・・・[10]
•  9.6 ウォブルチャネル(読取りチャネル2)・・・・[10]
•  9.7 トラッキングチャネル(読取りチャネル2)・・・・[11]
•  9.8 基準サーボシステム・・・・[11]
•  第2章 ディスクの寸法,機械的特性及び物理的特性・・・・[13]
•  10 寸法特性・・・・[13]
•  10.1 基準面・・・・[14]
•  10.2 全体寸法・・・・[15]
•  10.3 第1遷移領域・・・・[15]
•  10.4 第2遷移領域・・・・[15]
•  10.5 クランプゾーン・・・・[15]

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――――― [JIS X 6250 pdf 1] ―――――

X 6250 : 2009 (ISO/IEC 17341 : 2006)

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•  10.6 第3遷移領域・・・・[16]
•  10.7 情報ゾーン・・・・[16]
•  10.8 リム領域・・・・[16]
•  10.9 許容公差についての注意・・・・[16]
•  11 機械的特性・・・・[16]
•  11.1 質量・・・・[16]
•  11.2 慣性モーメント・・・・[16]
•  11.3 ダイナミックインバランス・・・・[16]
•  11.4 軸方向の振れ量・・・・[16]
•  11.5 半径方向の振れ量・・・・[17]
•  12 情報ゾーンの光学的特性・・・・[17]
•  12.1 屈折率・・・・[17]
•  12.2 基板の厚さ・・・・[17]
•  12.3 反射率・・・・[18]
•  12.4 複屈折・・・・[18]
•  12.5 角度偏差・・・・[18]
•  第3章 情報フォーマット・・・・[19]
•  13 データフォーマット・・・・[19]
•  13.1 データフレーム・・・・[19]
•  13.2 スクランブルドフレーム・・・・[21]
•  13.3 ECCブロック・・・・[22]
•  13.4 記録フレーム・・・・[23]
•  13.5 変調及びNRZI変換・・・・[24]
•  13.6 物理セクタ・・・・[25]
•  13.7 記録ユニット(RUN)のレイアウト・・・・[26]
•  13.8 直流成分抑圧制御・・・・[27]
•  14 トラックフォーマット・・・・[28]
•  14.1 トラック形状・・・・[28]
•  14.2 トラック経路・・・・[29]
•  14.3 トラックピッチ・・・・[29]
•  14.4 トラックレイアウト・・・・[29]
•  第4章 情報ゾーンのフォーマット・・・・[47]
•  15 情報ゾーンの概要・・・・[47]
•  16 情報ゾーンのレイアウト・・・・[47]
•  16.1 物理セクタ番号(PSN)・・・・[48]
•  17 リードインゾーン・・・・[48]
•  17.1 イニシャルゾーン・・・・[49]
•  17.2 インナーディスクテストゾーン・・・・[49]
•  17.3 インナードライブテストゾーン・・・・[49]

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――――― [JIS X 6250 pdf 2] ―――――

                                                           X 6250 : 2009 (ISO/IEC 17341 : 2006)

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•  17.4 ガードゾーン1・・・・[49]
•  17.5 予約ゾーン1・・・・[49]
•  17.6 予約ゾーン2・・・・[49]
•  17.7 インナーディスク識別ゾーン・・・・[50]
•  17.8 予約ゾーン3・・・・[51]
•  17.9 リファレンスコードゾーン・・・・[51]
•  17.10 バッファゾーン1・・・・[51]
•  17.11 制御データゾーン・・・・[51]
•  17.12 バッファゾーン2・・・・[53]
•  18 データゾーン・・・・[53]
•  19 リードアウトゾーン・・・・[53]
•  19.1 バッファゾーン3・・・・[53]
•  19.2 アウターディスク識別ゾーン・・・・[53]
•  19.3 ガードゾーン2・・・・[54]
•  19.4 予約ゾーン4・・・・[54]
•  19.5 アウタードライブテストゾーン・・・・[54]
•  19.6 アウターディスクテストゾーン・・・・[54]
•  19.7 ガードゾーン3・・・・[54]
•  20 論理セクタ番号の割当て(LSN)・・・・[55]
•  21 フォーマッティング・・・・[55]
•  21.1 プリフォーマッティング・・・・[56]
•  21.2 バックグラウンドフォーマッティング・・・・[56]
•  21.3 フォーマッティングなしのシーケンシャル記録・・・・[57]
•  22 ディスク制御ブロック・・・・[58]
•  22.1 ディスク制御ブロックのフォーマット・・・・[58]
•  22.2 フォーマッティングDCB(FDCB)のフォーマット・・・・[60]
•  22.3 書込み禁止DCB (WDCB) のフォーマット・・・・[63]
•  第5章 グルーブの特性・・・・[65]
•  23 概要・・・・[65]
•  24 試験方法・・・・[65]
•  24.1 環境・・・・[65]
•  24.2 基準測定装置・・・・[65]
•  24.3 信号の定義・・・・[66]
•  25 グルーブ信号の特性・・・・[67]
•  25.1 位相深さ・・・・[67]
•  25.2 プッシュプル信号・・・・[67]
•  25.3 クロストラック信号・・・・[67]
•  25.4 正規化ウォブル信号・・・・[67]
•  25.5 ウォブルの特性・・・・[67]

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――――― [JIS X 6250 pdf 3] ―――――

X 6250 : 2009 (ISO/IEC 17341 : 2006)

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•  第6章 記録層の特性・・・・[68]
•  26 試験方法・・・・[68]
•  26.1 環境・・・・[68]
•  26.2 基準測定装置・・・・[68]
•  26.3 記録条件・・・・[68]
•  26.4 測定条件・・・・[69]
•  27 記録済み信号の特性・・・・[69]
•  27.1 チャネルビット長・・・・[69]
•  27.2 信号の定義・・・・[69]
•  27.3 読取りの安定性・・・・[71]
•  28 追加試験の条件・・・・[71]
•  28.1 試験環境・・・・[71]
•  28.2 信号の定義・・・・[72]
•  29 記録層の品質・・・・[73]
•  29.1 欠陥・・・・[73]
•  29.2 データエラー・・・・[74]
•  第7章 ユーザデータの特性・・・・[74]
•  30 試験方法・・・・[74]
•  30.1 環境・・・・[74]
•  30.2 基準測定装置・・・・[74]
•  31 記録ユニットの最低品質・・・・[75]
•  31.1 トラッキング・・・・[75]
•  31.2 ユーザ記録データ・・・・[75]
•  附属書A(規定)80 mmディスク・・・・[76]
•  附属書B(規定)データゾーンの拡張フォーマット情報の構造・・・・[80]
•  附属書C(規定)光反射の測定・・・・[81]
•  附属書D(規定)複屈折の測定・・・・[83]
•  附属書E(規定)ジッタの測定・・・・[85]
•  附属書F(規定)位相差トラッキングエラー信号の測定・・・・[88]
•  附属書G(規定)テスト用記録パルス波形・・・・[92]
•  附属書H(規定)8-16変調・・・・[95]
•  附属書I(規定)最適パワー制御・・・・[104]
•  附属書J(規定)論理から物理アドレスへの変換・・・・[109]
•  附属書K(参考)グルーブウォブル振幅の測定・・・・[110]
•  附属書L(参考)輸送・・・・[112]
•  附属書M(参考)欠陥管理及び物理フォーマット・・・・[113]
•  附属書N(参考)ビデオコンテンツプロテクション・・・・[114]
•  附属書O(参考)ADIPの物理フォーマット情報の使い方・・・・[115]
•  附属書P(参考)現行及び将来の仕様で使用する値・・・・[117]

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――――― [JIS X 6250 pdf 4] ―――――

                                                           X 6250 : 2009 (ISO/IEC 17341 : 2006)

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