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JIS Z 2351:2011 規格概要
この規格 Z2351は、手動操作で使用する超音波パルス反射法による基本表示器をもつ超音波探傷器で,電子測定器を用いて行う電気的性能測定方法について規定。
JISZ2351 規格全文情報
- 規格番号
- JIS Z2351
- 規格名称
- 超音波探傷器の電気的性能測定方法
- 規格名称英語訳
- Method for evaluating electronic characteristics of ultrasonic test instruments
- 制定年月日
- 1992年3月1日
- 最新改正日
- 2016年10月20日
- JIS 閲覧
- ‐
- 対応国際規格
ISO
- ISO 12710:2002(MOD)
- 国際規格分類
ICS
- 19.100
- 主務大臣
- 経済産業
- JISハンドブック
- 非破壊検査 2020
- 改訂:履歴
- 1992-03-01 制定日, 1997-04-20 確認日, 2003-03-20 確認日, 2008-02-20 確認日, 2011-10-20 改正日, 2016-10-20 確認
- ページ
- JIS Z 2351:2011 PDF [33]
Z 2351 : 2011
pdf 目 次
ページ
- 序文・・・・[1]
- 1 適用範囲・・・・[1]
- 2 引用規格・・・・[1]
- 3 用語及び定義・・・・[1]
- 4 主要性能の項目・・・・[2]
- 5 性能測定方法・・・・[2]
- 5.1 送信部の性能・・・・[2]
- 5.2 受信部の性能・・・・[6]
- 5.3 時間軸部・・・・[11]
- 5.4 ゲート回路・・・・[13]
- 6 安定性・・・・[16]
- 6.1 温度に対する安定性・・・・[16]
- 6.2 電源電圧に対する安定性・・・・[17]
- 7 記録・・・・[18]
- 附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[27]
(pdf 一覧ページ番号 1)
――――― [JIS Z 2351 pdf 1] ―――――
Z 2351 : 2011
まえがき
この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本非破
壊検査協会(JSNDI)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正
すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
これによって,JIS Z 2351:1992は改正され,この規格に置き換えられた。
この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願又は実用新案権に抵触する可能性があることに注意
を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許権,出願公開後の特許出願及び実
用新案権に関わる確認について,責任はもたない。
(pdf 一覧ページ番号 2)
――――― [JIS Z 2351 pdf 2] ―――――
日本工業規格(日本産業規格) JIS
Z 2351 : 2011
超音波探傷器の電気的性能測定方法
Method for evaluating electronic characteristics of ultrasonic test instruments
序文
この規格は,2002年に第1版として発行されたISO 12710を基に作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,国内
におけるJIS Z 2351:1992の運用実態を踏まえ,この規格の円滑な運用を可能とするため,技術的内容を変
更して作成した日本工業規格(日本産業規格)である。
なお,この規格で点線の下線を施してある箇所及び附属書JAは,対応国際規格にはない事項である。
1 適用範囲
この規格は,手動操作で使用する超音波パルス反射法による基本表示器をもつ超音波探傷器で,電子測
定器を用いて行う電気的性能測定方法について規定する。
注記 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
ISO 12710:2002,Non-destructive testing−Ultrasonic inspection−Evaluating electronic characteristics
of ultrasonic test instruments(MOD)
なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
ことを示す。
2 引用規格
次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
JIS Z 2300 非破壊試験用語
JIS Z 8103 計測用語
3 用語及び定義
この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 2300及びJIS Z 8103によるほか,次による。
3.1
パルススクウェア率
方形波送信波形の品質を評価する係数。
3.2
時間分解能
近接した信号の分離・識別能力。
3.3
独立ゲート
――――― [JIS Z 2351 pdf 3] ―――――
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Z 2351 : 2011
ゲート内のゲインだけを独立に制御する能力をもつゲート。
3.4
調度
ゲイン,パルス幅,リジェクションなどの,探傷図形に影響を与える全てのつまみの調整値。
3.5
波数(なみかず)
1サイクルの正弦波を基本単位としたサイクル数。
3.6
確度
指定された条件における誤差限界で表した計測器の精度(JIS Z 8103参照)。
4 主要性能の項目
測定しなければならない主要性能の項目は,次による。また,主要項目以外の測定項目並びにその内容
及び範囲については,受渡当事者間の協定による。
a) 送信部の項目は,5.1.1,5.1.2,5.1.3,5.1.4及び5.1.6による。
b) 受信部の項目は,5.2.1,5.2.2,5.2.3及び5.2.5による。
c) 時間軸部の項目は,5.3.1による。
d) 時間分解能の項目は,5.3.2による。
5 性能測定方法
5.1 送信部の性能
5.1.1 出力インピーダンス
送信部の出力インピーダンスの測定は,次による。
a) 使用器材 使用器材は,次による。
1) オシロスコープ 周波数帯域が100 MHz以上で,校正されている装置。
2) 終端抵抗 50 Ωの無誘導抵抗とする。
3) 高電圧プローブ オシロスコープで高い電圧信号を観測するためのもの。
b) 測定方法 測定方法は,次による。
1) 超音波探傷器の送信部の出力端子を図1のように開放し,送信パルスの電圧をオシロスコープで測
定し,これをV1とする。
2) 次に,出力端子に終端抵抗R0を図2のように接続し,送信パルスの電圧をオシロスコープで測定し,
これをV2とする。
図1−出力端子開放時の送信パルスの電圧測定のための各使用器材の接続
――――― [JIS Z 2351 pdf 4] ―――――
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Z 2351 : 2011
図2−出力端子終端時の送信パルスの電圧測定のための各使用器材の接続
3) 電圧の測定は,ピーク値で行う。
4) パルスエネルギーを調整できる機能を備えた装置は,エネルギーが最大及び最小の設定について測
定し,また,インピーダンスを切り換える機能がある場合については,それぞれについて測定する。
5) 送信出力インピーダンスZ0(Ω)は,次の式によって求める。
R0 V1 V2
Z0=
V2
ここに, R0 : 終端抵抗の値(Ω)
V1 : 出力端子開放時の送信パルス電圧(V)
V2 : 出力端子終端時の送信パルス電圧(V)
5.1.2 送信パルス繰返し周波数
送信パルス繰返し周波数の測定は,次による。
a) 使用器材 使用器材は,5.1.1 a)による。
b) 測定方法 測定方法は,次による。
1) 超音波探傷器と使用器材との接続は,図2による。
2) 送信パルスをオシロスコープの画面に2個以上表示させ,パルス間の時間Tを測定する。
3) 送信パルス繰返し周波数を設定できる機能をもつ超音波探傷器では,最も低い周波数及び最も高い
周波数の調度における繰返し周波数を測定する。
4) 送信パルス繰返し周波数を変えたとき,送信パルスの振幅が変化するかどうかを観測して記録する。
5) 送信パルス繰返し周波数は,次の式によって求める。
PRF=1/T
ここに, PRF : パルス繰返し周波数(Hz)
T : 送信パルスの時間間隔(s)
5.1.3 送信パルスの立上がり時間
送信パルスの立上がり時間の測定は,次による。
a) 使用器材 使用器材は,5.1.1 a)による。
b) 測定方法 測定方法は,次による。
1) 超音波探傷器と使用器材との接続は,図2による。
2) オシロスコープの画面に送信パルスを表示する。
3) 図3に示す送信パルスの前縁で,送信パルスの最大値の1090 %の間の時間Tmを測定する。
4) パルスエネルギーを調整したとき,この時間が変化する場合には,パルスエネルギーが最大及び最
小について測定を行う。
5) 測定値の補正 測定された測定値について,次の補正を行う。
TR2=Tm2−TS2
ここに, TR : 補正された送信パルスの立上がり時間(ns)
――――― [JIS Z 2351 pdf 5] ―――――
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