JIS Z 2352:2010 超音波探傷装置の性能測定方法

                                                                                   Z 2352 : 2010

pdf 目 次

ページ

•  序文・・・・[1]
•  1 適用範囲・・・・[1]
•  2 引用規格・・・・[1]
•  3 用語及び定義・・・・[2]
•  4 性能測定項目・・・・[2]
•  5 測定に関する注意事項・・・・[2]
•  5.1 測定項目及び測定範囲・・・・[2]
•  5.2 デジタル探傷器における読取り・・・・[2]
•  5.3 測定者・・・・[2]
•  5.4 測定頻度・・・・[3]
•  5.5 表示器における読取り精度・・・・[3]
•  5.6 試験条件・・・・[3]
•  5.7 距離振幅補正・・・・[3]
•  5.8 エコーの時間軸の読取り位置・・・・[3]
•  6 性能測定方法・・・・[3]
•  6.1 時間軸にかかわる性能測定・・・・[3]
•  6.2 垂直軸にかかわる性能測定・・・・[4]
•  6.3 垂直探傷における分解能・・・・[9]
•  6.4 斜角探傷における分解能・・・・[12]
•  6.5 垂直探傷の感度余裕値・・・・[13]
•  6.6 斜角探傷のA1感度及びA2感度・・・・[14]
•  6.7 垂直探傷の追込み範囲・・・・[15]
•  7 定期点検・・・・[15]
•  8 記録・・・・[16]
•  附属書JA(参考)JISと対応国際規格との対比表・・・・[18]

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――――― [JIS Z 2352 pdf 1] ―――――

Z 2352 : 2010

まえがき

  この規格は,工業標準化法第14条によって準用する第12条第1項の規定に基づき,社団法人日本非破
壊検査協会(JSNDI)及び財団法人日本規格協会(JSA)から,工業標準原案を具して日本工業規格(日本産業規格)を改正
すべきとの申出があり,日本工業標準調査会の審議を経て,経済産業大臣が改正した日本工業規格(日本産業規格)である。
  これによって,JIS Z 2352:1992は改正され,この規格に置き換えられた。
  この規格は,著作権法で保護対象となっている著作物である。
  この規格の一部が,特許権,出願公開後の特許出願,実用新案権又は出願公開後の実用新案登録出願に
抵触する可能性があることに注意を喚起する。経済産業大臣及び日本工業標準調査会は,このような特許
権,出願公開後の特許出願,実用新案権及び出願公開後の実用新案登録出願にかかわる確認について,責
任はもたない。

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――――― [JIS Z 2352 pdf 2] ―――――

                                       日本工業規格(日本産業規格)                             JIS
                                                                              Z 2352 : 2010

超音波探傷装置の性能測定方法

Method for evaluating performance characteristics of ultrasonic pulse-echo testing systems

序文

  この規格は,2004年に第1版として発行されたISO 18175を基に作成した日本工業規格(日本産業規格)であるが,国内
における規格の運用実態を踏まえ,その円滑な運用を可能とするため,技術的内容を変更して作成した日
本工業規格である。
  なお,この規格で点線の下線を施してある箇所は,対応国際規格を変更している事項である。変更の一
覧表にその説明を付けて,附属書JAに示す。

1 適用範囲

  この規格は,手動操作で使用する超音波パルス反射法による基本表示器をもつ超音波探傷器と探触子と
を組み合わせた状態の超音波探傷装置の性能測定方法及び定期点検方法について規定する。
    注記1 超音波探傷器の電気的性能測定方法は,JIS Z 2351を参照する。
    注記2 この規格の対応国際規格及びその対応の程度を表す記号を,次に示す。
             ISO 18175:2004,Non-destructive testing−Evaluating performance characteristics of ultrasonic
                pulse-echo testing systems without the use of electronic measurement instruments(MOD)
              なお,対応の程度を表す記号“MOD”は,ISO/IEC Guide 21-1に基づき,“修正している”
            ことを示す。

2 引用規格

  次に掲げる規格は,この規格に引用されることによって,この規格の規定の一部を構成する。これらの
引用規格は,その最新版(追補を含む。)を適用する。
    JIS B 0405 普通公差−第1部 : 個々に公差の指示がない長さ寸法及び角度寸法に対する公差
    JIS B 0601 製品の幾何特性仕様(GPS)−表面性状 : 輪郭曲線方式−用語,定義及び表面性状パラメ
        ータ
    JIS G 0801 圧力容器用鋼板の超音波探傷検査方法
    JIS Z 2300 非破壊試験用語
    JIS Z 2305 非破壊試験−技術者の資格及び認証
    JIS Z 2344 金属材料のパルス反射法による超音波探傷試験方法通則
    JIS Z 2345 超音波探傷試験用標準試験片
    JIS Z 2350 超音波探触子の性能測定方法

――――― [JIS Z 2352 pdf 3] ―――――

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Z 2352 : 2010

3 用語及び定義

  この規格で用いる主な用語及び定義は,JIS Z 2300によるほか,次による。
3.1
デジタル探傷器
  エコー情報をデジタル処理し表示する超音波探傷器。探傷器の調度及び機能の選択もデジタル処理して
いる。
3.2
擬似信号
  探傷器の性能を測定するために,入力信号として電子回路で生成する信号。
3.3
垂直軸
  探傷器の表示器の縦軸。
3.4
時間軸の読取り位置
  表示器上のエコーの読取り位置。立上り位置,ピーク位置など。
3.5
%fs
  表示器の時間軸又は垂直軸のフルスケールを100 %としたときの相対値。

4 性能測定項目

  超音波探傷装置の性能測定項目は,次による。
a) 時間軸にかかわる性能測定
b) 垂直軸にかかわる性能測定
c) 垂直探傷における分解能
d) 斜角探傷における分解能
e) 垂直探傷の感度余裕値
f)  斜角探傷のA1感度及びA2感度
g) 垂直探傷の追込み範囲

5 測定に関する注意事項

5.1 測定項目及び測定範囲

  性能測定項目及び評価方法の取捨選択及び測定範囲の設定は,この規格の適用の前提となる探傷試験の
条件からこの規格の使用者が自らの責任で決定する。この規格は,すべての性能測定項目,評価方法及び
表示方法の実施を強制するものではない。

5.2 デジタル探傷器における読取り

  実際の探傷試験においてデジタル探傷器を使用し,エコー高さとビーム路程の数値表示機能とを使用し
ている場合は,同数値を使用する。ただし,分解能の測定及びエコーの消失の判定は,表示器で行う。

5.3 測定者

  この規格は,超音波探傷装置及び超音波探傷法に関する十分な知識経験をもち,JIS Z 2305のレベル2
相当以上の技術者,又はそのような技術者の監督の下で実施する。

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                                                                                   Z 2352 : 2010

5.4 測定頻度

  この規格の使用者の決定事項であり,用途,環境及び装置の安定性を考慮して定める。

5.5 表示器における読取り精度

  表示器の時間軸及び垂直軸の読取りは,誤差がフルスケールの1 %fs以下となる精度で行う。
  指定がある場合には,指定を満たす精度で読取りを行う。

5.6 試験条件

  この規格の適用目的によって,測定項目,測定範囲,必要な探触子及び対比試験片を決定する。指定が
なければ,つまみの調整位置は,実際の使用条件に近い代表的な位置とする。特別の事情がなければ,リ
ジェクションはオフとする。

5.7 距離振幅補正

  使用者が必要ならば,距離振幅補正を用いた場合と用いない場合の二組の試験データを採取する。必要
でなければ,距離振幅補正を用いない場合の試験データを採取する。

5.8 エコーの時間軸の読取り位置

  エコーの時間軸における読取り位置は,実際の探傷条件と同一とする。
  通常,エコーの立上り位置,エコー信号がエコー高さの1/2を超える位置,エコーのピーク位置,ゼロ
クロス位置又はあらかじめ設定したしきい値を超えた位置で行う。

6 性能測定方法

6.1 時間軸にかかわる性能測定

6.1.1  時間軸直線性
6.1.1.1  試験片及び信号源
  試験片及び信号源は,次による。
a) 測定範囲の約1/5の厚さ若しくは約1/10の厚さをもつ平板試験片,又は測定範囲の約1/5の間隔若し
    くは約1/10の間隔で擬似エコーを発生できる信号発生器を用いる。
b) 試験片方式の場合,音響結合は,直接接触法又は水浸法のいずれでも利用可能である。
6.1.1.2  測定手順
  測定手順は,次による。
a) 試験片又は信号源を用いて,6個(表1の調整方法1)又は11個(表1の調整方法2)のエコーを表
    示させる。
b) 掃引調整(範囲,ディレイ)を調整して,表1に従ってエコーの位置を合わせる。
c) その他のエコーの表示器上の位置を%fsで読み取る。又は,読取り位置を%fsに変換する。
d) エコー高さがエコー位置の読取りに影響する場合(例えば,立上りで読み取る場合)には,エコー高
    さを50 %fsに設定してエコー位置を読み取る。
6.1.1.3  データの記録
  データの記録は,次による。
a) エコーの次数と読取り値との関係を表(表2参照)又はグラフ(図1参照)で表し,時間軸直線性を
    示すデータとする。表には,測定値から理論値を差し引いて求めた誤差も記録する。
b) 直線性の範囲は,あらかじめ定めた誤差以内に収まる連続したエコー位置の範囲で与える。
c) 正の最大の誤差+ΔxMAX,負の最大の誤差−ΔxMAXを求め,時間軸直線性誤差とする。

――――― [JIS Z 2352 pdf 5] ―――――

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